【正文】 種： 控制限或描點時描錯。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進(jìn)。 81312 鏈 a 出現(xiàn)高于均值的長鏈或上升鏈（7點），通常表明存在下列 情況之一或兩者。,?, 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進(jìn) 測量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時（5以下），出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加， 因此有必要用長度為8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志。 81313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關(guān)系等。,?,b 一般情況，各點與均值的距離：大約2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點落在其外的2/3的區(qū)域。 c 如果顯著多余2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于25 子組，如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對下 列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯 過程或取樣方法被分層，每個子組包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 線的混合的輸出）。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于25 子組，如果只有40%的點落在控制限的1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯,?, 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。并在備 注欄中詳細(xì)記錄。 8133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。,?,814 過程能力解釋 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)和比值，這就是對能力的定義,?,82 不合格品數(shù)的np 圖 821 采用時機(jī) 8211 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 822 數(shù)據(jù)的收集（基本和p 圖相同） 8221 受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組 內(nèi)都有幾個不良品并在。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 823 計算控制限 8231 計算過程不合格數(shù)的均值（np） np = (np1+np2+…+npk) / k,?,式中的np1,np2, … 為K個子組中每個子組的不合格數(shù) 。 8231 計算上下控制限 UCLnp=np + 3 np(1p) LCLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 824 過程控制解釋和過程能力解釋 同p控制圖,?,83 不合格（缺陷）數(shù)的 c 圖 831 采用時機(jī) C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量，C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類檢驗： 8311 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如100平方米上的缺陷） 8312 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。,?,8322 記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（C）。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中：C1, C2, …Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。3 C 834 過程控制解釋（同P控制圖） 835 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c.,?,84 單位不合格（缺陷）數(shù)的u圖 841 使用的時機(jī) u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用不良率表示）. 842 數(shù)據(jù)的收集 8421 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平 均值的正負(fù)擔(dān)過重25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算. 8422 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（u） u=c / n 式中: C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量，n為子組中樣本的容量。C和n都應(yīng) 記錄在數(shù)據(jù)表中。 843 計算控制限,?,8431 計算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值 u=(C1+C2+…+Ck) / (n1+n2+…+nk) 式中: C1，C2及n1,n2等為K個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)及樣 本容量 . 8431 計算控制限 U/LSLu = u 177。 3 u / n 式中：n 為平均樣本容量。 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負(fù)25%，按下式重新計算其準(zhǔn)確的控制限：,?,U/LSLu = u 177。 3 u / n 844 過程控制解釋（同P控制圖） 845 過程能力解釋 過程能力為 u,?,生活中的辛苦阻撓不了我對生活的熱愛。24.10.2024.10.20Sunday, October 20, 2024 人生得意須盡歡，莫使金樽空對月。23:17:3823:17:3823:1710/20/2024 11:17:38 PM 做一枚螺絲釘，那里需要那里上。24.10.2023:17:3823:17Oct2420Oct24 日復(fù)一日的努力只為成就美好的明天。23:17:3823:17:3823:17Sunday, October 20, 2024 安全放在第一位，防微杜漸。24.10.2024.10.2023:17:3823:17:38October 20, 2024 加強(qiáng)自身建設(shè)，增強(qiáng)個人的休養(yǎng)。2024年10月20日下午11時17分24.10.2024.10.20 精益求精，追求卓越，因為相信而偉大。2024年10月20日星期日下午11時17分38秒23:17:3824.10.20 讓自己更加強(qiáng)大，更加專業(yè)，這才能讓自己更好。2024年10月下午11時17分24.10.2023:17October 20, 2024 這些年的努力就為了得到相應(yīng)的回報。2024年10月20日星期日11時17分38秒23:17:3820 October 2024 科學(xué)，你是國力的靈魂；同時又是社會發(fā)展的標(biāo)志。下午11時17分38秒下午11時17分23:17:3824.10.20 每天都是美好的一天，新的一天開啟。24.10.2024.10.2023:1723:17:3823:17:38Oct24 相信命運，讓自己成長，慢慢的長大。2024年10月20日星期日11時17分38秒Sunday, October 20, 2024 愛情，親情，友情，讓人無法割舍。24.10.202024年10月20日星期日11時17分38秒24.10.20,謝謝