【正文】 d. D組氣候與機(jī)械環(huán)境考核試驗(yàn) 主要考核與封裝有關(guān)的項(xiàng)目，包括考核封裝耐機(jī)械振動(dòng)、離心加速度、機(jī)械沖擊能力、耐交變濕熱能力、耐溫度循環(huán)應(yīng)力能力。經(jīng)過考核的產(chǎn)品不但電性能滿足規(guī)范要求，在外觀、引線和密封等方面也能滿足相關(guān)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求。 e. E組耐輻射強(qiáng)度考核試驗(yàn) 主要考核器件耐輻射總劑量和單粒子效應(yīng)能力。 5. 鑒定檢驗(yàn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理和出具鑒定報(bào)告 通過上述各項(xiàng)分組試驗(yàn)并滿足合格判據(jù)，可以出具合格報(bào)告 6. 失效分析報(bào)告和糾正措施報(bào)告 鑒定試驗(yàn)過程出現(xiàn)失效時(shí)，可以組織產(chǎn)品承制方進(jìn)行失效分析，根據(jù)失效分析結(jié)論采取有效的糾正措施并經(jīng)過驗(yàn)證，然后根據(jù)情況可以進(jìn)行第二次鑒定檢驗(yàn)。 二、無具體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì) 對有些無具體試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的元器件，如一些特殊試驗(yàn)項(xiàng)目，制定可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì)時(shí)，要盡可能地了解元器件的特殊技術(shù)規(guī)范，把那個(gè)要求生產(chǎn)方提供相應(yīng)的質(zhì)量證書、試驗(yàn)報(bào)告和詳細(xì)規(guī)范等文件，然后根據(jù)以下原則設(shè)計(jì)可靠性試驗(yàn)方案。 1. 試驗(yàn)條件的確定 可以根據(jù)委托方要求，按照生產(chǎn)、使用雙方簽訂的技術(shù)協(xié)議要求確定試驗(yàn)條件 。 也可以 根據(jù)類似元器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的試驗(yàn)項(xiàng)目和條件，并結(jié)合元器件主要失效機(jī)理制定試驗(yàn)條件，再綜合考慮試驗(yàn)成本來確定試驗(yàn)條件 2. 確定試驗(yàn)樣品的數(shù)量、測試項(xiàng)目和失效判據(jù)； 3. 試驗(yàn)準(zhǔn)備工作：儀器設(shè)備、測試試驗(yàn)工夾具的準(zhǔn)備； 4. 進(jìn)行試驗(yàn)； 5. 出具試驗(yàn)報(bào)告。 針對失效機(jī)理的可靠性試驗(yàn)一般采用加大試驗(yàn)應(yīng)力的方法，得到需要的特定失效模式和失效機(jī)理。常用的試驗(yàn)應(yīng)力有高溫、高電壓、溫度沖擊、大電流、高溫高濕和機(jī)械振動(dòng)等。 加大試驗(yàn)應(yīng)力也是有條件的，不能憑空想象。如果沒有相應(yīng)的資料積累，那么對元器件最大應(yīng)力的選取可以 a. 參考相類似的元器件產(chǎn)品規(guī)范或資料； b. 通過步進(jìn)法逐步加大試驗(yàn)應(yīng)力二取得。 對試驗(yàn)會(huì)產(chǎn)生的失效機(jī)理要清楚，一次使用的應(yīng)力條件不要太多，以免分析時(shí)不能區(qū)別失效的主要應(yīng)力。對幾種同時(shí)加應(yīng)力時(shí)，要分清應(yīng)力的主次。 針對失效機(jī)理的可靠性試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)最需要注意的問題是：試驗(yàn)?zāi)康囊欢ㄒ鞔_。 可靠性試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn) 根據(jù) GB508086， SJ216682， SJ206482的標(biāo)準(zhǔn) 2. 軍用電子產(chǎn)品 我國的軍事元器件試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)有總規(guī)范和詳細(xì)恢復(fù)。總規(guī)范規(guī)定的是對電子元器件規(guī)定的共性要求，詳細(xì)規(guī)范則是對某種或某類器件規(guī)定的具體性能和質(zhì)量控制要求。所以總規(guī)范必須與詳細(xì)規(guī)范配套使用。 一般來講，與美國軍標(biāo)對比，我國軍標(biāo)要求相對較低。主要是電子器件的質(zhì)量比美國的差，在用進(jìn)口電子產(chǎn)品時(shí)，美國的軍級產(chǎn)品不可能賣給我們，有時(shí)只能買到準(zhǔn)軍級或民品代用。如抗輻照集成電路，美國軍級的總劑量輻照值為 5 ? 106rad, 準(zhǔn)軍級為 1?106rad ,民用級 5 ? 105rad，我們軍級只有 1～ 3 ? ： 序號 我國軍標(biāo)號 名 稱 等效美國軍標(biāo) 1 GJB33A97 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范 MILS19500H 2 GJB597A96 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范 MILM38510G 3 GJB2438A2023 混合集成電路總規(guī)范 MILH38534C 4 GJB63B2023 有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范 MILC39003 5 GJB65B99 有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范 MILR39016 我國與美國電子產(chǎn)品的軍標(biāo)總規(guī)范 國軍標(biāo)元器件試驗(yàn)和分析方法標(biāo)準(zhǔn)及其對應(yīng)的美國軍標(biāo) 序號 我國軍標(biāo)編號 國軍標(biāo)名稱 對應(yīng)美國軍標(biāo) 1 GJB128A97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 MILSTD750H 2 GJB360A96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 MILSTD202F 3 GJB548B2023 微電子器件試驗(yàn)方法及程序 MILSTD883D 4 GJB315798 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法及程序 無對應(yīng) 5 GJB323398 半導(dǎo)體集成電路失效分析方法及程序 無對應(yīng) 6 GJB4027A2023 軍用元器件破壞性物理分析方法和方法 MILSTD1580A GJB548A微電子器件試驗(yàn)方法和程序 編號 試驗(yàn)方法名稱 編號 試驗(yàn)方法名稱 100系列循環(huán)試驗(yàn) 1012 熱性能 1001 低氣壓（高空工作） 露點(diǎn) 1002 浸液 密封 1003 絕緣電阻 1015 老練試驗(yàn) 耐濕 1016 壽命 /可靠性試驗(yàn) 穩(wěn)態(tài)壽命 1017 種子輻射 1006 間歇壽命 內(nèi)部水氣含量 1007 模擬壽命 電離輻射（總劑量）試驗(yàn)程序 穩(wěn)定性烘培 劑量率感應(yīng)鎖定試驗(yàn)程序 鹽霧 數(shù)字微電路的劑量率翻轉(zhuǎn)試驗(yàn) 溫度循環(huán) 1022 MOS場效應(yīng)晶體管閾值電壓 熱沖擊 線性微電路的劑量率響應(yīng)和翻轉(zhuǎn)閾值 編號 試驗(yàn)方法名稱 編號 試驗(yàn)方法名稱 密封前老練 2023 玻璃鈍化層的完整性 1031 薄膜服飾試驗(yàn) 可焊性（浸潤法） 1032 封裝引起的軟錯(cuò)誤試驗(yàn)程序 非破壞性鍵合拉力試驗(yàn) 1033 “寫 /擦”疲勞壽命 2024 玻璃熔封蓋板的扭矩試驗(yàn) 鍵合強(qiáng)度（破壞性拉力試驗(yàn)） 引線涂敷附著力試驗(yàn) X射線照相 機(jī)械振動(dòng) 2023 破壞性物理分析的內(nèi)部目檢 芯片與粘結(jié)強(qiáng)度 2023 內(nèi)部目檢與結(jié)構(gòu)檢查 2028 針柵陣列封裝破壞性引線拉力試驗(yàn) 內(nèi)溶劑性 2029 陶瓷片式載體焊接強(qiáng)度 2023 外形尺寸 2030 芯片粘結(jié)超聲檢測 內(nèi)部目檢（混合電路） 2031 倒裝片拉脫試驗(yàn) 燒苗電子顯微鏡檢查 2032 無源元件的目檢 芯片剪切強(qiáng)度 2035 載帶自動(dòng)焊接質(zhì)量的超聲測試 粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn) 3000－ 4000系列電學(xué)試驗(yàn) 編號 試驗(yàn)方法名稱 編號 試驗(yàn)方法名稱 3015 靜電放電敏感度的分級 外部目檢 5000系列試驗(yàn)程序 內(nèi)部目檢（單片） 5001 參數(shù)平均值控制 5003 微電路的失效分析程序 5002 參數(shù)分布控制 篩選程序 1034 染色滲透試驗(yàn) 鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)程序 2023系列 機(jī)械試驗(yàn) 5006 極限試驗(yàn) 恒定加速度 晶片批驗(yàn)收 機(jī)械沖擊 5008 混合和多篇微電路的試驗(yàn)程序 可焊性 5009 破壞性物理分析 引線牢固性 復(fù)雜單片微電路試驗(yàn)程序 2023 振動(dòng)疲勞 5011 聚合材料的評價(jià)與驗(yàn)收程序 2023 振動(dòng)噪聲 5012 數(shù)字微電路的故障覆蓋率測量 5007 掃描振動(dòng) 5013 GaAs工藝的晶圓制造控制和接收程序 現(xiàn)代電子元器件可靠性評價(jià)技術(shù)的發(fā)展 可靠性評價(jià)是指對元器件成品、半成品或模擬樣片（檢測圖形），通過各種可靠性試驗(yàn)技術(shù)、方法等，并運(yùn)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)工具和有關(guān)模擬仿真軟件來評價(jià)其壽命、失效率或可靠性質(zhì)量等級等可靠性參數(shù)的過程。 隨著電子元器件超微型化、高集成化和多功能化的迅猛發(fā)展，對電子元器件的可靠性要求越來越高。評價(jià)技術(shù)也不斷提高。 以集成電路為例，如果沿用傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)來評價(jià)元器件可靠性，對集成度高、生產(chǎn)數(shù)量少、試驗(yàn)費(fèi)用昂貴的產(chǎn)品，普遍感到困難很大。有的單位，開始使用加速壽命試驗(yàn)方法，可以縮短評價(jià)時(shí)間，現(xiàn)在又發(fā)展了晶片級可靠性評估技術(shù)，在生產(chǎn)中或封裝前用測試結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行可靠性評估。 同時(shí)，加強(qiáng)生產(chǎn)過程的控制，是影響器件可靠性的各種因素在生產(chǎn)過程中得到及時(shí)排除或改進(jìn)。 最近，在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，就對產(chǎn)品可能存在的失效模式，在線路設(shè)計(jì)、版圖設(shè)計(jì)、工藝設(shè)計(jì)和封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中預(yù)演可靠性模擬、對發(fā)現(xiàn)的問題加強(qiáng)可靠性設(shè)計(jì)，與在線可靠性制造結(jié)合，把可靠性問題由“輸出端”控制（成品控制）改變?yōu)椤拜斎攵恕钡脑O(shè)計(jì)控制、生產(chǎn)過程控制，逐步建立內(nèi)建可靠性的概念，進(jìn)一步建立器件可靠性是設(shè)計(jì)和制造出來的，而不是靠篩選出來的觀念。 以集成電路為例，在原有的可靠性試驗(yàn)如可靠性篩選、失效率試驗(yàn)、和加速壽命試驗(yàn)的基礎(chǔ)上，發(fā)展了晶片級可靠性評價(jià)方法微電子測試結(jié)構(gòu)評價(jià)方法、結(jié)構(gòu)工藝質(zhì)量認(rèn)證評價(jià)方法，敏感參數(shù)快速評價(jià)方法等。 復(fù)習(xí)題 1. 研究工藝與器件可靠性的意義是什么？ 2. 2. CMOS集成電路設(shè)計(jì)時(shí)要注意避免那些可靠性問題？ 3. 3. 熱擴(kuò)散工藝的可靠性問題主要有哪些？如何克服？ 4. 4. 氧化工藝的可靠性問題主要有那些？ 如何克服？ 5. 5. 離子注入可能出現(xiàn)的可靠性問題有哪些？如何克服？ 6. 6. 有哪些非可靠的隔離問題？如何解決？ 7. 7. 指出電子器件接觸工藝中的非可靠問題。 8. 8. 有那些影響器件可靠互聯(lián)的問題？ 如何解決？ 9. 9. 哪些封裝問題影響器件的可靠性？ 10. 可靠性試驗(yàn)的目的是什么？ 11. 集成電路有哪些環(huán)境可靠性試驗(yàn)？試述各自的試驗(yàn)?zāi)康模? 12. 哪些試驗(yàn)屬于機(jī)械試驗(yàn)？各自的試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁矗? 13. 老化篩選有哪些試驗(yàn)種類？它們的試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁矗? 14. 有哪些靜電防護(hù)手段？ 15. 對有標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的可靠性試驗(yàn)，如何確定設(shè)計(jì)方案？ 16. 對無標(biāo)準(zhǔn)可依的可靠性試驗(yàn)方案如何設(shè)計(jì)？ 17. 針對失效機(jī)理的可靠性試驗(yàn)，其試驗(yàn)方案如何設(shè)計(jì)？ 18. 試談集成電路可靠性試驗(yàn)的發(fā)展趨勢。 靜夜四無鄰，荒居舊業(yè)貧。 , March 23, 2023 雨中黃葉樹，燈下白頭人。 03:05:3303:05:3303:053/23/2023 3:05:33 AM 1以我獨(dú)沈久，愧君相見頻。 :05:3303:05Mar2323Mar23 1故人江海別，幾度隔山川。 03:05:3303:05:3303:05Thursday, March 23, 2023 1乍見翻疑夢，相悲各問年。 :05:3303:05:33March 23, 2023 1他鄉(xiāng)生白發(fā)，舊國見青山。 2023年 3月 23日星期四 上午 3時(shí) 5分 33秒 03:05: 1比不了得就不比，得不到的就不要。 。 2023年 3月 上午 3時(shí) 5分 :05March 23, 2023 1行動(dòng)出成果，工作出財(cái)富。 2023年 3月 23日星期四 3時(shí) 5分 33秒 03:05:3323 March 2023 1做前，能夠環(huán)視四周；做時(shí)，你只能或者最好沿著以腳為起點(diǎn)的射線向前。 上午 3時(shí) 5分 33秒 上午 3時(shí) 5分 03:05: 沒有失敗，只有暫時(shí)停止成功！。 , March 23, 2023 很多事情努力了未必有結(jié)果，但是不努力卻什么改變也沒有。 03:05:3303:05:3303:053/23/2023 3:05:33 AM 1成功就是日復(fù)一日那一點(diǎn)點(diǎn)小小努力的積累。 :05:3303:05Mar2323Mar23 1世間成事，不求其絕對圓滿，留一份不足，可得無限完美。 03:05:3303:05:3303:05Thursday, March 23, 2023 1不知香積寺，數(shù)里入云峰。 :05:3303:05:33March 23, 2023 1意志堅(jiān)強(qiáng)的人能把世界放在手中像泥塊一樣任意揉捏。 2023年 3月 23日星期四 上午 3時(shí) 5分 33秒 03:05: 1楚塞三湘接，荊門九派通。 。 2023年 3月 上午 3時(shí) 5分 :05March 23, 2023 1少年十五二十時(shí)，步行奪得胡馬騎。 2023年 3月 23日星期四 3時(shí) 5分 33秒 03:05:3323 March 2023 1空山新雨后，天氣晚來秋。 上午 3時(shí) 5分 33秒 上午 3時(shí) 5分 03:05: 楊柳散和風(fēng)，青山澹吾慮。 , March 23, 2023 閱讀一切好書如同和過去最杰出的人談話。 03:05:3303:05:3303:053/23/2023 3:05:33 AM 1越是沒有本領(lǐng)的就越加自命不凡。 :05:3303:05Mar2323Mar23 1越是無能的人，越喜歡挑剔別人的錯(cuò)兒。 03:05:3303:05:3303:05Thursday, March 23, 2023 1知人者智，自知者明。勝人者有力，自勝者強(qiáng)。 :05:3303:05:33March 23, 2023 1意志堅(jiān)強(qiáng)的人能把世界放在手中像泥塊一樣任意揉捏。 2023年 3月 23日星期四 上午 3時(shí) 5分 33秒 03:05: 1最具挑戰(zhàn)性的挑戰(zhàn)莫過于提升自我。 2023年 3月 上午 3時(shí) 5分 :05March 23, 2023 1業(yè)余生活要有意義，不要越軌。 2023年 3月 23日星期四 3時(shí) 5分 33秒 03:05:3323 March 2023 1一個(gè)人即使已登上頂峰，也仍要自強(qiáng)不息。 上午 3時(shí) 5分 33秒 上午 3時(shí) 5分 03:05: MOMODA POWERPOINT Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur a