測量方法及質(zhì)量控制3-資料下載頁
2025-02-26 22:53本頁面
【正文】 D、 E五組，其中 A、 B兩組是由短 TE（ ， DTWE(n)，或 ， D9TWE(n)）采集的雙 TW模式； D、 E兩組則是由長 TE采集的雙 TW模式，所以 A與 D組合可以得到一個雙 TE觀測， B與 E是另一個雙 TE觀測，只是由于它們都是短 TW采集到的，通常不使用。 “雙 TW/雙TE”模式既利用了 T1加權(quán)，又利用了擴散系數(shù)加權(quán)，可以測量泥質(zhì)束縛水、毛管束縛水、視有效孔隙度、視總孔隙度、以及對輕烴、高粘度油的識別和定量分析，是一類對新區(qū)有效的觀測模式。 MRILP 測量模式 由雙 TW/雙 TE模式分解出的 DTW（ 短TE） 數(shù)據(jù) 。 第 1道為深度 ， 包含加速度；第 2道有 GR、 張力 、 電纜速度 （ CS） 、 滲透率指示 、 以及 A組和 PR組的增益值 ， 用于了解數(shù)據(jù)采集的過程 、 地層的滲透性 、 以及儀器的工作狀態(tài)；第 3道為總孔隙度系統(tǒng)的 T 2譜 ， 范圍從 2048ms；第 4道與第 5道分別為A組和 B組的回波串；第 6道和第 7道分別為 A組和 B組的 3個孔隙度 ， 即：視總孔隙度 、 視有效孔隙度 、 毛管束縛水孔隙度 ， 此外 ， 還有 A、 B兩組的 CHI值， 用于表達回波串的實測值與理論值之間的擬合程度 。 由現(xiàn)場結(jié)果可以快速識別具有孔隙性和滲透性的層位，并找出明顯的油氣層段。 雙 TW現(xiàn)場圖 MRILP 測量模式 由雙 TW/雙 TE模式分解出的 DTE數(shù)據(jù)。第 1道為深度，包含加速度；第 2道有 GR、張力、電纜速度（ CS）、滲透率指示、以及 A組和 PR組的增益值；第 3道為總孔隙度系統(tǒng)的 T2譜；第 4道與第 5道分別為 A組和 B組的回波串；第 6道和第 7道分別為 A組和 B組的 3個孔隙度，此外，還有 A、 B兩組的 CHI值。 雙 TE現(xiàn)場圖 MRILP 測量模式 其數(shù)據(jù)來源則為雙 TW/雙TE模式分解出的長 TE的DTW，這在第 4道與第 5道A、 B兩組的回波個數(shù)即可看出。 雙 TW現(xiàn)場圖（長 TE） 1． 重復(fù)性檢查： 在正式測量之前，在測量井段頂部選擇典型滲透層測量 25m以上重復(fù)曲線。當?shù)貙涌紫抖却笥诨虻扔?15%時，孔隙度曲線重復(fù)測量值的相對誤差小于 10%；當?shù)貙涌紫抖刃∮?15%時，孔隙度曲線重復(fù)測量的絕對誤差為177。 。 2． 曲線質(zhì)量檢查 1） 回波串的擬合度 CHI曲線應(yīng)平滑且數(shù)值小于 2。 2） 增益 GAIN曲線應(yīng)平滑且無噪聲干擾 ， 增益應(yīng)隨泥漿電阻率及井徑的變化而變化 。 3） 測速應(yīng)符合測前設(shè)計要求 。 ★ 測后質(zhì)量檢查 核磁共振測井質(zhì)量控制 4） 測量曲線應(yīng)與地層規(guī)律相吻合 ， 有關(guān)孔隙度的響應(yīng)信息如下： a） 有效孔隙度 MPHI小于總孔隙度 PHIT， 只有在巖性純的地層中有效孔隙度等于總孔隙度 PHIT。 b） 巖性純的水層中：有效孔隙度 MPHI近似等于密度 /中子交會孔隙度 。 c） 泥質(zhì)砂巖地層中：有效孔隙度 MPHI小于或等于用正確的骨架參數(shù)計算的密度孔隙度 。 d） 純氣層中 :有效孔隙度 MPHI值應(yīng)接近于中子孔隙度 （ 假設(shè)骨架選擇正確 ） 。 e） 井眼擴徑超過儀器探測直徑時 ， 儀器的響應(yīng)將受到井眼泥漿的影響 ，使毛管束縛流體體積 MBVI顯著增大 。 f） 采用雙 TW模式測井時 ， 短等待時間測量的有效孔隙度 (MPHIB)小于或等于長等待時間測量的有效孔隙度 (MPHIA)。 g） 采用雙 TE模式測井時 ， 短回波間隔測量的有效孔隙度 (MPHIA)大于或等于長回波間隔測量的有效孔隙度 (MPHIB)。 ★ 測后質(zhì)量檢查 核磁共振測井質(zhì)量控制 MRILP 測量模式 雙 TW現(xiàn)場圖 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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