spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析與管理-資料下載頁
2025-02-20 14:38本頁面
【正文】 k kmk kNp11n? 可用來管制 ? 一個檢測單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點的機率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設(shè)有 ? 平均缺點數(shù)必須遠(yuǎn)小于所有可能的缺點總數(shù) ? 發(fā)生缺點的機會很大然而特定位置發(fā)生不合格點的機率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點的機會相同 ? 不合格點的發(fā)生為獨立 c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設(shè)下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點 數(shù) 作為平均值的估計： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點數(shù)管制圖 ) ? 適用時機 ? 在實務(wù)應(yīng)用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會不同，無法滿足 c管制圖的假設(shè) ? 此時，使用 u chart單位缺點數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個區(qū)域，每一個區(qū)域范圍恰為一個 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ，分別給予 ABC的稱號。 ?依據(jù)常態(tài)分配每一 區(qū)域的發(fā)生 機率，以檢定是否異常。 ?每種狀態(tài)發(fā)生的機率皆很小 (%)，因此若發(fā)生視為異常。 A（ ％） B（ ％） C（ ％） C（ ％） B（ ％） A（ ％） UCL LCL CL ＋ 3σ ＋ 2σ ＋ 1σ － 1σ － 2σ － 3σ Rule 1: 間斷 1點 超出 管制界線外 Rule 2: 連續(xù) 3(或 4)點落在中心線一側(cè) 可能原因： 1. 制程參數(shù)設(shè)定錯誤 2. 設(shè)備機臺故障 3. 人員操作異常 4. 量測錯誤 可能原因 ： 1. 制程平均水平偏移 2. 引進(jìn) 新原材料 3. 新的作業(yè)人員操作 4. 設(shè)備機臺重新 設(shè)定 Control rules(全部管制圖） 適用范圍： ?發(fā)生機率： = ?發(fā)生機率： 2x()9 Rule 3: 連續(xù) 6點上升或下降 Rule 4: 連續(xù) 14點上下交互變動 可能原因 ： 1. 設(shè)備機臺 零件磨損 2. 作業(yè)人員疲勞 3. 設(shè)備維修 技術(shù)或效果不良 4. 制程某要素已劣化 可能原因 ： 1. 兩個過程在同一張圖上，分層不足 (如兩種材料、兩種設(shè)備 ) 2. 作業(yè)人員 過度管制 3. 量測儀器 性能失效表現(xiàn) ?發(fā)生機率： 2x(1/6!)= ?發(fā)生機率：模擬結(jié)果 = Control rules(全部管制圖） 適用范圍： Control Rules Rule 5: 連續(xù) 3點有 2點在 A區(qū)或超出 A區(qū) Rule 6: 連續(xù) 5點有 4點在 B區(qū)或超出 B區(qū) 可能原因： 1. 設(shè)備機臺重新調(diào)整 2. 工裝 /夾具位置不良 3. 不同批的原料混用 可能原因： 1. 設(shè)備機臺重新調(diào)整 2. 工裝 /夾具位置不良 3. 不同 批的原料混用 ?適用范圍： ______________ Xbar、 X管制圖 ?發(fā)生機率： 2x[C32()+ C33()2] = ?發(fā)生機率： 2x[C54()+C55()5] = Control Rules Rule 7: 連續(xù) 8點落在中心線兩側(cè)，但 C區(qū)無點 Rule 8: 連續(xù) 15點落在 C區(qū) 可能原因： 1. 使用兩種以上的原料 2. 混合的型態(tài) ,多個制程 3. 抽樣計劃值得探討 可能原因： 1. 使用兩種以上的原料 2. 將不同的設(shè)備機臺或 生產(chǎn)方法 交錯使用 3. 管制界線計算錯誤，或需重新計算 4. 資料 抽樣取自不同 制程 ?適用范圍： ______________ Xbar、 X管制圖 ?發(fā)生機率： ()8= ?發(fā)生機率： ()15= 控制圖判讀準(zhǔn)則的選用 ? 并丌是所有的判定準(zhǔn)則都必須使用于任何過程管制的。 ? 典型的判讀準(zhǔn)則選用參考如下 ︰ ?準(zhǔn)則 5最為通用； ?準(zhǔn)則 6較能探測平均值的變化； ?準(zhǔn)則 8最能探測層別的問題； ?準(zhǔn)則 7能探測數(shù)據(jù)來源以及展示改善的過程； ?準(zhǔn)則 3用于探測過程的漂移 控制圖的利用 ? 當(dāng)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定，并尋找到特殊原因后，設(shè)法予以消除，然后剔除這些異常點的數(shù)據(jù)，再利用剩下來的數(shù)據(jù)（若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當(dāng)數(shù)據(jù)），重新計算管制界限，重新判讀直至穩(wěn)定。 原有管制界線 新管制界線 誤解 1 設(shè)置 USL LSL 在 X圖上可幫助該受 控 制 的產(chǎn)品滿 足 CPK需求 誤解 2 收縮 USL LSL 意味著在 70%或 80%處建立UCL和 LCL 控制圖 常見誤解 誤解 3 雖然過程失控，但產(chǎn)品仍然滿足客戶規(guī)格 誤解 4 過程受控，因此產(chǎn)品滿足客戶規(guī)格以及 CPK要求 控制圖 常見誤解 5M1E(人員、機器、材料、方法、環(huán)境、測量）因素 未加控制，工序處于不穩(wěn)定狀態(tài)時使用 控制圖； 工序能力不足的情況下就使用 控制圖； 規(guī)格線代替控制線，或用壓縮的規(guī)格線代替控制 線； 現(xiàn)場應(yīng)用時，控制圖只打點不作分析判斷，失去控制圖的報警 作用； 現(xiàn)場運用時，打點不及時，工序出現(xiàn)異常也不能及時 發(fā)現(xiàn)； 工序 條件 5M1E (人員、機器、材料、方法、環(huán)境、測量）因素 發(fā)生變化時，不及時調(diào)整控制 界限。 控制圖在實際工作應(yīng)用中常見的錯誤 Thank You ! 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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