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信息與通信]數(shù)字超聲波探傷儀操作手冊(cè)v-資料下載頁(yè)

2024-11-17 04:24本頁(yè)面

【導(dǎo)讀】SDU40數(shù)字超聲波探傷儀。北京科海恒生科技有限公司。數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書

  

【正文】 第 10 頁(yè) 共 72 頁(yè) ? 材料聲速 —— 顯示聲波在所選材料中傳播的速度(參考 )。 ? 顯示延時(shí) —— 左右移動(dòng) A掃描視窗(參考 )。 設(shè)置子菜單 ? 冷凍模式 —— 按壓凍結(jié)鍵,凍結(jié)所選功能。(參考 ) ? 波形顯示模式 —— 改變 A掃描的視圖(參考 )。 ? 坐 標(biāo)選擇 —— 選擇顯示屏的屏幕坐標(biāo)標(biāo)識(shí)。 ? 峰值記憶 —— 實(shí)時(shí)記錄閘門內(nèi)出現(xiàn)過(guò)的有效峰值。 顯示子菜單(參考 ) ? 顏色配置 —— 選擇預(yù)訂的顏色配置及自定義的配置方案。 ? 配置選擇 —— 選擇需要調(diào)整顏色的配置項(xiàng)目。 ? 顏色選擇 —— 調(diào)節(jié)所選配置項(xiàng)目的顏色。 ? 背光調(diào)節(jié) —— 調(diào)節(jié)顯示器的亮度。 區(qū)域子菜單(參考 ) ? 語(yǔ)言選擇 —— 設(shè)定探傷儀顯示屏的語(yǔ)言。 ? 單位選擇 —— 設(shè)定顯示單位,英寸、毫米。 ? 日期設(shè)定 —— 設(shè)定顯示日期。 ? 時(shí)間設(shè)定 —— 設(shè)定顯示時(shí)間。 測(cè)量結(jié)果子菜單 ? 顯示讀數(shù) 14—— 在四個(gè)讀取框中選擇測(cè)量顯示(參考 )。 收發(fā)菜單 發(fā)射子菜單 ? 發(fā)射類型 —— 選擇發(fā)射脈沖的類型(參考 )。 ? 發(fā)射能量 —— 設(shè)定高功率或低功率的發(fā)射信號(hào)(參考 )。 ? 發(fā)射電壓幅度 —— 設(shè)定發(fā)射脈沖的電壓值(參考 )。 ? 發(fā)射 電壓 寬度 —— 設(shè)定發(fā)射脈沖的寬度(參考 )。 ? 輸出阻尼 —— 調(diào)節(jié)衰減水平使其與安裝的探頭匹配(參考 )。 接收子菜單 ? 濾波器選擇 —— 選擇探傷儀的頻帶寬度(參考 )。 ? 檢波模式 —— 選擇影響 A掃描視圖顯示的檢波方法(參考 )。 ? 收發(fā)模式 —— 根據(jù)安裝的是一個(gè)或兩個(gè)單晶的探頭還是一個(gè) 雙晶的探頭來(lái)選擇工作方式。(參考 ) ? 波形抑制 —— 去除 A掃描中回波高度與顯示區(qū)高度的百分比低于抑制值的回波。(參考 ) 增益子菜單 ? 增益步長(zhǎng) —— 增益調(diào)節(jié)時(shí)的增量值。(參考 ) ? 用戶增益值 —— 系統(tǒng)增益或用戶增益值調(diào)節(jié)。(參考 ) ? 參考增益 —— 存儲(chǔ)參考增益值和回波高度。(參考 ) ? 用戶定義步長(zhǎng) —— 用戶自己定義的用于增益調(diào)節(jié)時(shí)的增量值。(參考 ) 設(shè)置子菜單 數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書 第 11 頁(yè) 共 72 頁(yè) ? 幅值顯示類型 —— 設(shè)定屏幕高度的百分比振幅測(cè)量單位或門到回波峰值的dB 差。(參考 ) ? 顯示起點(diǎn) —— 從所有被設(shè) 定的特性中設(shè)定參考點(diǎn)(參考 )。 ? A閘門起點(diǎn) —— 設(shè)定 A掃描中 A閘門的起始位置。 ? 自動(dòng)增益高度 —— 設(shè)定高度百分比并使探傷儀自動(dòng)調(diào)節(jié)增益使得 A閘門內(nèi)的回波達(dá)到這個(gè)高度。 閘門菜單 閘門位置子菜單(參考 ) ? 閘門選擇 —— 選擇兩個(gè)或多個(gè)閘門(根據(jù)所安裝的選件確定)。 ? 閘門始點(diǎn) —— 設(shè)定 A掃描中所選閘門的起始位置。 ? 閘門寬度 —— 設(shè)定 A掃描中所選閘門的寬度。 ? 閘門高度 —— 設(shè)定 A掃描中所選閘門的高度。 閘門模式子菜單 ? 閘門選擇 —— 選擇兩個(gè)或多個(gè)閘門(根據(jù)所安裝的選件確定)。 ? 探測(cè)模式 —— 表明使用所選門內(nèi)的 A掃描回波的前沿或波峰對(duì)結(jié)果進(jìn)行評(píng)估(參考 )。 ? 測(cè)量起點(diǎn) —— 設(shè)定所選閘門的測(cè)量起點(diǎn)。(根據(jù)所安裝的選件確定) ? 展寬閘門 —— 按壓展寬鍵,允許操作者選擇哪一個(gè)閘門放大到全屏寬度(根據(jù)所安裝的選件確定)(參考 )。 報(bào)警子菜單 ? 閘門選擇 —— 選擇兩個(gè)或多個(gè)閘門(根據(jù)所安裝的選件確定)。 ? 報(bào)警邏輯 —— 選擇是否用所選閘門進(jìn)行測(cè)量,以及所選閘門報(bào)警的觸發(fā)條件(參考 )。 ? 報(bào)警消除 —— 清除當(dāng)前被觸發(fā)的報(bào)警狀態(tài)(包括聲音、光電及 TTL輸出)(參考 )。 ? 報(bào)警聲音 —— 發(fā)生報(bào)警時(shí)通過(guò)聲音進(jìn)行提示 (參考 )。 TTL 輸出子菜單 ? TTL 1—— 識(shí)別是哪一個(gè) 閘門觸發(fā) TTL 1 或者照明報(bào)警燈 1。(參考 ) ? TTL 2—— 識(shí)別是哪一個(gè) 閘門觸發(fā) TTL 2 或者照明報(bào)警燈 2。(參考 ) ? TTL 3—— 識(shí)別是哪一個(gè) 閘門觸發(fā) TTL 3 或者照明報(bào)警燈 3。(參考 ) ? 報(bào)警模式 —— 確定 TTL 報(bào)警如何被重新設(shè)置(參考 )。 厚度限制子菜單(參考 ) ? 厚度下限 —— 用于設(shè)置報(bào)警的最小厚度值。 ? 厚度上限 —— 用于設(shè)置報(bào)警的最大厚度值。 幾何參數(shù)菜單 設(shè)置子菜單(參考 ) ? 探頭角度 —— 輸入一個(gè)斜探頭的角度。 ? 工件厚度 —— 設(shè)置用于斜探頭測(cè)量的試塊的材料厚度。 數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書 第 12 頁(yè) 共 72 頁(yè) ? 探頭前沿值 —— 輸入斜探頭 BIP 到前沿的指定值。 ? 工件外徑 —— 設(shè)置圓弧曲面試塊的外徑。 彩色編碼子菜單(參考 ) ? 編碼模式 —— 選擇使用回波或坐標(biāo)模式對(duì) A掃描進(jìn)行編碼。 自動(dòng)校準(zhǔn)菜單 校準(zhǔn) 1子菜單(參考 ) ? A閘門起點(diǎn) —— 左右轉(zhuǎn)動(dòng) A閘門的起始點(diǎn)。 ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊值 1—— 操作者輸入的較薄的校準(zhǔn)試塊的厚度值。 ? 標(biāo)準(zhǔn)試塊值 2—— 操作者輸入的較厚的校準(zhǔn)試塊的厚度值。 ? 校準(zhǔn)測(cè)量記錄 —— 校準(zhǔn)過(guò)程每一階段的識(shí)別和進(jìn)展。 讀數(shù) 1子菜 單(參考 ) ? 材料速度 —— 顯示探傷儀的指定材料類型的默認(rèn)速度以及校準(zhǔn)后的速度計(jì)算。 ? 探頭延時(shí) —— 調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)的結(jié)果。表明聲波穿過(guò)探頭的耐磨層、保護(hù)膜、延遲線或邊緣(塑料)所引起的延遲。 校準(zhǔn) 2子菜單(參考 ) ? A閘門起點(diǎn) —— 左右轉(zhuǎn)動(dòng) A閘門的起始點(diǎn)。 ? 測(cè)試點(diǎn)深度 —— 操作者輸入的測(cè)試點(diǎn)的深度值。 ? 測(cè)試點(diǎn)距離 —— 操作者輸入的測(cè)試點(diǎn)的水平距離值。 ? 校準(zhǔn)測(cè)量記錄 —— 完成校準(zhǔn)。 讀數(shù) 2子菜單(參考 ) ? 探頭角度 —— 校準(zhǔn)后的斜探頭的折射角。 ? 探頭前沿值 —— 校準(zhǔn)后的斜探頭入射點(diǎn)到前沿的距離。 文件菜單 文件名稱子菜單 ? 文件類型 —— 選擇參數(shù)、波形或者厚度文件類型。 ? 文件名稱 —— 選擇存儲(chǔ)的文件(參考 )。 ? 文件操作 —— 保存、調(diào)出或清除所選文件(參考 和 )。 ? 創(chuàng)建文件 —— 按壓兩次運(yùn)行文件創(chuàng)建程序(參考 )。 文件頭子菜單 ? 文件頭編號(hào) —— 選擇標(biāo)題行進(jìn)行編輯(參考 )。 ? 編輯 —— 允許進(jìn)行所選標(biāo)題行文本的編輯(參考 )。 ? 輸入 —— 對(duì)標(biāo)題進(jìn)行存儲(chǔ)。 注釋子菜單 ? 注釋編號(hào) —— 選擇注釋行進(jìn)行編輯(參考 )。 ? 編輯 —— 允許進(jìn)行所選注釋行文本的編輯(參考 )。 ? 輸入 —— 對(duì)注釋進(jìn)行存儲(chǔ)。 注 釋編輯子菜單 數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書 第 13 頁(yè) 共 72 頁(yè) ? 文件名稱 —— 選擇存儲(chǔ)的文件(參考 )。 ? 文件滾動(dòng) —— 對(duì)顯示文件的內(nèi)容進(jìn)行翻頁(yè)操作。 ? 注釋操作 —— 出現(xiàn)注釋操作菜單,按壓兩次切換為注釋信息顯示,再此按壓返回注釋操作顯示(參考 和 )。 ? 清除注釋 —— 按壓兩次清除選中厚度值的注釋內(nèi)容(參考 )。 數(shù)據(jù)編輯子菜單 ? 文件名稱 —— 選擇存儲(chǔ)的文件(參考 )。 ? 文件滾動(dòng) —— 對(duì)顯示文件的內(nèi)容進(jìn)行翻頁(yè)操作。 ? 數(shù)據(jù)操作 —— 選擇清除或保存選中的厚度值數(shù)據(jù),按壓兩次完成清除或保存操作。 ? 編輯 —— 允許對(duì)所選厚度值進(jìn)行編輯(參考 )。 DAC菜 單 標(biāo)定子菜單 ? A閘門起點(diǎn) —— 左右轉(zhuǎn)動(dòng) A閘門的起始點(diǎn)。 ? A閘門寬度 —— 調(diào)節(jié) A閘門的寬度。 ? 標(biāo)定點(diǎn) —— 記錄一個(gè)標(biāo)定點(diǎn)。 ? 刪除曲線 —— 刪除當(dāng)前標(biāo)定的 DAC曲線。 設(shè)置 1子菜單 ? DAC/TCG模式 —— 選擇工作在 DAC或者 TCG模式下。 ? DAC/TCG曲線顯示 —— 選擇是否在屏幕上顯示 DAC或者 TCG曲線。 ? TCG起始模式 —— TCG校正的起始位置,可選發(fā)射脈沖或者 IF門。 ? 偏置曲線數(shù)量 —— 激活的偏置曲線的數(shù)量。 設(shè)置 2子菜單 ? DAC偏置編號(hào) —— 選擇 DAC偏置曲線的編號(hào)。 ? DAC偏置增量 —— 調(diào)節(jié) DAC偏置編號(hào)對(duì)應(yīng)曲線的 偏置量。 ? 材料衰減補(bǔ)償 —— 對(duì)由于信號(hào)傳播距離引起的衰減進(jìn)行補(bǔ)償。 ? 工件表面補(bǔ)償 —— 對(duì)由于標(biāo)定試塊與被測(cè)工件表面狀況差異引起的誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 編輯 1子菜單 ? 編輯點(diǎn)號(hào) —— 選擇需要被編輯的標(biāo)定點(diǎn)。 ? 編輯點(diǎn)位置 —— 輸入被選中的標(biāo)定點(diǎn)的聲程值。 ? 編輯點(diǎn)增益 —— 輸入被選中的標(biāo)定點(diǎn)的增益值。 ? 輸入 —— 將被編輯過(guò)的標(biāo)定點(diǎn)信息進(jìn)行存儲(chǔ)。 編輯 2子菜單 ? 編輯點(diǎn)號(hào) —— 選擇需要被編輯的標(biāo)定點(diǎn)。 ? 編輯點(diǎn)刪除 —— 刪除被選中的標(biāo)定點(diǎn)。 ? 編輯點(diǎn)重標(biāo)定 —— 利用 A閘門所捕捉的回波信息更新被選中的標(biāo)定點(diǎn)。 DGS菜單 設(shè)置子菜單 數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書 第 14 頁(yè) 共 72 頁(yè) ? DGS模式 —— 打開或關(guān)閉 DGS功能。 ? DGS曲線 —— 設(shè)置等效 DGS曲線。 ? 探頭編號(hào) —— 選擇探頭編號(hào)。 ? 探頭名稱 —— 顯示標(biāo)準(zhǔn)探頭名稱或輸入自定義的探頭名稱。 DGS探頭子菜單 ? 探頭晶片頻率 —— 探頭晶片的標(biāo)稱頻率。 ? 晶片有效直徑 —— 探頭晶片的直徑或等效直徑。 ? 延時(shí)塊聲速 —— 探頭延時(shí)楔塊的材料聲速。 ? 探頭名稱 —— 顯示探頭名稱。 當(dāng)量評(píng)估子菜單 ? 評(píng)估結(jié)果 —— 選擇評(píng)估結(jié)果類型 ? DGS曲線 —— 設(shè)置等效 DGS曲線。 ? 刪除參考回波 —— 刪除參考反射體的回波信息 參考回波子菜單 ? A閘門起點(diǎn) —— 左右轉(zhuǎn)動(dòng) A閘門的起始點(diǎn)。 ? 反射體類型 —— 選擇參考 反射體的缺陷類型。 ? 反射體尺寸 —— 選擇參考反射體的當(dāng)量直徑。 ? 記錄參考回波 —— 記錄參考反射體的回波信息。 校準(zhǔn)子菜單 ? 試塊衰減系數(shù) —— 參考試塊的材料衰減系數(shù)。 ? 探頭幅度校正 —— 當(dāng)使用斜探頭時(shí),根據(jù)斜探頭的標(biāo)定參數(shù)進(jìn)行修正。 ? 工件衰減系數(shù) —— 被測(cè)工件的材料衰減系數(shù)。 ? 工件表面補(bǔ)償 —— 對(duì)由于標(biāo)定試塊與被測(cè)工件表面狀況差異引起的誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 B掃描菜單
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