統(tǒng)計過程控制教材y1-資料下載頁
2025-02-06 22:20本頁面
【正文】 過程平均值的附近（有40%或少于 40%的數(shù)據(jù)落在中間三分之一區(qū)域內(nèi)），則應調(diào)查下列情況之一或兩者： ? 控制限或描點計算錯或描錯； ? 過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個或多個不同過程流的測量值。（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行過度控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波動的響應。）。如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 （均值圖）：對于均值數(shù)據(jù)中每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，以確定特殊原因的產(chǎn)生的理由，糾正該狀態(tài)，并且防止它再現(xiàn)。利用控制圖數(shù)據(jù)來確定這些狀態(tài)何時開始并會持續(xù)多久。為了診斷并將不合格的輸出減到最小，及時分析是很重要的。同樣要記住并不是所有的特殊原因都是不利的。 （均值圖）：當進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點，重新計算并描畫過程均值和控制限。確保當與新的控制限相比時，所有的數(shù)據(jù)點看起來都處于受控制狀態(tài)，如有必要，重復識別 /糾正 /重新計算的程序。 為了繼續(xù)進行控制延長控制限 當首批（或以往的）數(shù)據(jù)都在試驗控制限之內(nèi)，延長控制限使之覆蓋將來的一段時期。如果過程中心偏離目標值，這時還希望調(diào)整過程使之對準目標值。這些控制限可用來繼續(xù)對過程進行監(jiān)視，操作人員和檢驗人員根據(jù) X或 R控制圖上出現(xiàn)的失控狀態(tài)的信號采取及時的措施。 子組容量的變化將影響期望的平均極差以及極差和均值圖的控制限。這種情況可能會發(fā)生。例如：如果決定減小樣本容量但增加抽樣頻率，這樣可以在不增加每天抽樣零件總數(shù)的情況下，更快地檢測到大的過程變化。為了調(diào)整新的子組樣本容量對應的中心線和控制限，應采取如下措施： a、估計過程的標準偏差（用 σ表示）用現(xiàn)有的子組容量計算：σ=R/d2 式中： R為子組極差的均值（在極差受控時期）， d2隨樣本容量變化的常數(shù)見表 2。 表 2： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 過程能力指數(shù) 過程能力指數(shù) 能力指數(shù) （穩(wěn)定狀態(tài)下工序能力） 性能指數(shù) （短期或初始能力研究） 不考慮過程的 對中性 Cp Pp 考慮過程的對中性 （以下重點介紹） CpK P pK * 過程能力指數(shù)從本質(zhì)上講是反映了上下公差范圍 T與過程的 σ的比較， Cp=T/6σ, 當 Cp=1時，說明 上下公差范圍 T等于 6 σ，即單邊公差為 3 σ *Cpk考慮了對中性，即過程的中心 X與產(chǎn)品特性的規(guī)格中心 181。有偏移 Ca， Cpk=(1Ca)Cp, Ca=l x 181。 l / pC制程能力指標 內(nèi)變差只考慮到固定變差或組單邊規(guī)格下規(guī)格界限單邊規(guī)格上規(guī)格界限雙邊規(guī)格，無偏2?)(?3)(?3)(?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp??????????? 上限能力指數(shù) CPU= =( )247。(3)= 下限能力指數(shù) CPL= =( )247。 (3 )= CpK是 CPU或 CPL中較小的一個 ,=min , = 其中， σ=R/d2=247。= PpK的計算與上述方法一樣，只需將 σ換成 σ（標準差）即可 ， 例 2中的 PpK 請您練習計算，結(jié)果應是 USLX 3σ ^ ^ 3σ XUSL 3σ ^ USLX 3σ XlSL ^ ^ n 2 3 4 5 d2 過程能力指數(shù) CpK,PpK計算公式及舉例 （按例 2） ^ 及組間變差都考慮進去內(nèi)變差製程績效所表達的是組1)(??3?3),min(12??????????nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk???過程績效指標 過程能力決定條件 過程能力是一種物理現(xiàn)象，是人機料法環(huán)的反映。 組織與顧客之間的溝通。顧客對特性的要求； 企業(yè)對過程的設計和實施的方式。 企業(yè)的動作和管理方式。 其他控制圖的應用 平均數(shù) 標準差控制圖（ Xσ圖，也稱 Xs圖）： ? 制作方法與 XR圖相同； ?一般樣本大于 9個時使用； ?檢出能力強，但計算復雜。 n 10 11 12 13 A3 5 B4 2 B3 8 其中 X、 σ （用 σn1） 的計算與 XR圖的相同， 控制線 UCLs＝ B4σ LCLs＝ B3σ UCLx＝ X＋ A3σ LCLx＝ X－ A3σ 個別值 移動全距控制圖（ X MR圖）： ? 制作方法與 XR圖相同，用單點值 X和前后兩點間的極差 MR來制圖； ? 數(shù)據(jù)不能合理分組時使用；如： 一次只能收集到一個數(shù)據(jù)，受生產(chǎn)效率和損耗率限制； 過程品質(zhì)極為均勻，不需多取樣本，如液體濃度； 取測定值既費時成本又高，如復雜的化學分析及破壞性試驗。 n 2 3 4 5 E2 9 D4 1 D3 * * * * 控制線 UCLMR＝ D4Rm LCLMR＝ D3Rm UCLX＝ X＋ E2R LCLX＝ X－ E2R 其中 X為各個別值的平均值， Rm為各極差的平均值。 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT
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