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2025-01-20 07:50本頁面
【正文】 以下方面： ，從而使生產(chǎn)過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)； ，防止不合格品的發(fā)生； ，以便做出正確的決定； 。 ?控制圖是統(tǒng)計量 T的正態(tài)分布圖在時域上的表示，它由 T的中心線 μ，上下控制限 μ177。3δ，和按時間順序抽取樣本并用其統(tǒng)計量的數(shù)據(jù)點 T這三個基本要素組成。 ?對于服從或者近似服從正態(tài)分布的統(tǒng)計量 T，大約有 %的數(shù)據(jù)點會落在上下限之內(nèi)。根據(jù)假設檢驗小概率原則，一旦有界限之外的數(shù)據(jù)點出現(xiàn)，就可判為異常點，認為這是由于特殊原因造成的過程變異。 過程能力分析（ Capability Analysis） ?我們滿足規(guī)格的能力怎樣？ ? 含義：過程能力指過程要素已經(jīng)標準化，即在受控的狀態(tài)下實現(xiàn)過程目標的能力。 ? 應定期測量并分析過程的能力。能力分析有助于回答以下問題： 過程是否滿足客戶規(guī)格？ 過程將來的性能如何？ 過程是否需要改進？ 過程是保持了這些改進還是回復到了原來的未改進狀態(tài)？ ? 可用過程指標（如 Cp、 Pp、 Cpk 和 Ppk）分析過程能力。 ? 前提：數(shù)據(jù)來源于穩(wěn)定的過程；數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布。 （如果不是，需要轉換為正態(tài)。） 過程能力指數(shù) ? 短期過程能力指數(shù)： ? 長期過程能力指數(shù)： ?USL P LSL 6 p = USL C LSL 6 p = P Min( X LSL 3 USL X 3 pk = , ) C Min( X LSL 3 USL X 3 pk = , ) ?????區(qū)別： ? Pp和 Ppk是由總體變差計算出來的 ? 總體變差既包含隨機噪聲也包括飄移（普通原因和特殊原因） ? Pp和 Ppk代表了產(chǎn)品或流程的真實性能。 ? Cp和 Cpk是由內(nèi)部變差計算出來的 ? 內(nèi)部變差僅包含隨機噪聲（普通原因） ? Cp和 Cpk代表了產(chǎn)品或流程的過程能力 Cpk、 Ppk的評級標準 ? A++級 Cpk(Ppk） ≥ 特優(yōu) 可考慮成本的降低 ? A+ 級 ＞ Cpk(Ppk） ≥ 優(yōu) 應當保持之 ? A 級 ＞ Cpk(Ppk） ≥ 良 能力良好，狀態(tài)穩(wěn)定，但應盡力提升為 A＋級 ? B 級 ＞ Cpk(Ppk） ≥ 一般 狀態(tài)一般，制程因素稍有變異即有產(chǎn)生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級 ? C 級 ＞ Cpk(Ppk） ≥ 差 制程不良較多，必須提升其能力 ? D 級 ＞ Cpk(Ppk） 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計制程。 ? 操作步驟： MINITAB過程能力分析示例 過程能力報告圖 ? 操作步驟： MINITAB過程能力分析示例 過程能力報告圖 ? 運算結果： MINITAB過程能力分析示例 過程能力報告圖
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