材料分析測試技術(shù)期末考試重點知識點歸納-資料下載頁
2025-08-06 03:07本頁面
【正文】 為透鏡的景深，用Df來表示。焦長：把透鏡像平面允許的軸向偏差定義為透鏡的焦長，用DL表示。2．電磁透鏡電磁透鏡：透射電子顯微鏡中用磁場來使電子波聚焦成像的裝置是電磁透鏡。第十章，投射電子顯微鏡：透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨本領(lǐng)、高放大倍數(shù)的電子光學儀器。它由電子光學系統(tǒng)、電源與控制系統(tǒng)及真空系統(tǒng)三部分組成。電子光學系統(tǒng)通常稱鏡筒，是透射電子顯微鏡的核心，它的光路原理與透射光學顯微鏡十分相似，它分為三部分，即照明系統(tǒng)、成像系統(tǒng)和觀察記錄系統(tǒng)。由電子槍發(fā)射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內(nèi)的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，樣品內(nèi)致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；經(jīng)過物鏡的會聚調(diào)焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和第第2投影鏡進行綜合放大成像，最終被放大了的電子影像投射在觀察室內(nèi)的熒光屏板上；熒光屏將電子影像轉(zhuǎn)化為可見光影像以供使用者觀察。2．光闌，位置、作用：在透射電子顯微鏡中有三種主要光闌，它們是聚光鏡光闌、物鏡光闌和選區(qū)光闌。（一）聚光鏡光闌：聚光鏡光闌的作用是限制照明孔徑角。在雙聚光鏡系統(tǒng)中，光闌常裝在第二聚光鏡的下方。（二）物鏡光闌：又稱為襯度光闌．通常它被安放在物鏡的后焦面上。電子束通過薄膜樣品后會產(chǎn)生散射和衍射。散射角(或衍射角)較大的電子被光闌擋住，不能繼續(xù)進入鏡簡成像，從而就會在像平面上形成具有一定襯度的圖像。光鬧孔越小，被擋去的電子越多，圖像的襯度就越大，這就是物鏡光鬧又叫做襯度光鬧的原因。加入物鏡光闌使物鏡孔徑角減小，能減小像差，得到質(zhì)量較高的顯微圖像。物鏡光闌的另一個主要作用是在后焦面上套取衍射束的斑點(即副焦點)成像，這就是所謂暗場像。利用明暗場顯微照片的對照分析，可以方便地進行物相鑒定和缺陷分析。（三）選區(qū)光闌：又稱場限光闌或視場光闌。選區(qū)光闌一般都放在物鏡的像平面位置。使電子束只能通過光闌孔限定的微區(qū)，以分析樣品上的一個微小區(qū)域。第十一章 復型技術(shù)質(zhì)厚襯度原理：非晶樣品透射電子顯微圖像襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的，即質(zhì)量厚度襯度（質(zhì)量厚度定義為試樣下表面單位面積以上柱體中的質(zhì)量），也叫質(zhì)厚襯度。質(zhì)厚襯度適用于對復型膜試樣電子圖象作出解釋。質(zhì)量厚度數(shù)值較大的，對電子的吸收散射作用強，使電子散射到光欄以外的要多，對應(yīng)較暗的襯度。質(zhì)量厚度數(shù)值小的，對應(yīng)較亮的襯度。質(zhì)厚襯度原理成像原理：襯度是指在熒光屏或照相底片上．眼睛能觀察到的光強度或感光度的差別。電子顯微鏡圖像的襯度取決于投射到熒光屏或照相底片上不同區(qū)域的電子強度差別。對于非晶體樣品來說，入射電子透強(或樣品原子序數(shù)越大或密度越大)，被散射到物鏡光闌外的電子就越多，面通過物鏡光闌參與成像的電子強度也就越低。第十二章 電子衍射1．倒易點陣：晶體的電子衍射(包括x射線單晶衍射)結(jié)果得到的是一系列規(guī)則排列的斑點。這些斑點雖然與晶體點陣結(jié)構(gòu)有一定對應(yīng)關(guān)系，但又不是晶體某晶面上原子排列的直觀影像。人們在長期實驗中發(fā)現(xiàn)，晶體點陣結(jié)構(gòu)與其電子衍射斑點之間可以通過另外一個假想的點陣很好地聯(lián)系起來．這就是倒易點陣。倒易點陣是與正點陣相對應(yīng)的量綱為長度倒數(shù)的一個三維空間(倒易空間)點陣。2．電子衍射的基本公式：如圖：于是有：：電子衍射的原理和x射線衍射相似，是以滿足(或基本滿足)布拉格方程作為產(chǎn)生衍射的必要條件。兩種衍射技術(shù)所得到的衍射花樣在幾何特征上也大致相似。第十三章，晶體薄膜衍襯成像分析1．衍襯成像原理和光路圖：讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法，叫做明場(BF)成像。所得到的像叫明場像。把入射電子束方向傾斜2θ角度(通過照明系統(tǒng)的傾斜來實現(xiàn))，使B晶粒的(hkl)晶面組處于強烈衍射的位向，而物鏡光闌仍在光軸位置。此時只有B晶粒的hkl衍射束正好通過光闌孔，而透射束被擋掉，這叫做中心暗場[CDF)成像方法。3，用途4，缺陷圖像的識別：第十四章，掃描電子顯微鏡1，各種信號的特點及作用2，表面形貌襯度原理及應(yīng)用3，原子序數(shù)襯度原理及應(yīng)用第十五章，電子探針顯微分析及其他顯微分析1，能譜分析各光譜分析（基本概念）2，其他基本概念.
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