duwaaa粗糙度-資料下載頁
2025-08-04 09:28本頁面
【正文】 見,AFM 用于表面粗糙度測(cè)量已完全達(dá)到納米量級(jí)。 圖3 石英玻璃形貌圖和橫向截面線及粗糙度顯示框圖 圖4 石英玻璃面粗糙度測(cè)量 (a) 表面形貌圖(b) 面粗糙度顯示框圖 圖5 藍(lán)寶石基底上ZnO薄膜面粗糙度測(cè)量 (a) 表面形貌圖(b) 面粗糙度顯示框圖 28 光學(xué)儀器第25卷 對(duì)于AFM 在面粗糙度測(cè)量中的精度測(cè)定,分別在藍(lán)寶石基底上的ZnO薄膜表面和石英玻璃表面拾 取了相同大小的區(qū)域(圖像大小均為1000nm1000nm),進(jìn)行了面粗糙度的測(cè)量和比較。如圖4和圖5所 示,圖中(a)為拾取的AFM 形貌圖,(b)為相應(yīng)的面粗糙度數(shù)值顯示框圖。 由圖可見,兩幅圖中,三個(gè)粗糙度評(píng)定參數(shù)都達(dá)到了納米量級(jí),其中石英玻璃表面的Ra 值(1nm)比 ZnO薄膜表面的Ra 值(6nm)要小的多。 4 結(jié)論 表面粗糙度的測(cè)量是檢測(cè)材料表面功能中必不可少的一個(gè)環(huán)節(jié),隨著納米技術(shù)的迅速發(fā)展,必將對(duì)表 面粗糙度的測(cè)量精度提出越來越高的要求。原子力顯微鏡是一種具有納米級(jí)分辨力的表面顯微分析儀器, 是測(cè)量各種材料表面納米粗糙度及觀察這些材料表面納米結(jié)構(gòu)的理想儀器。所設(shè)計(jì)的軟件系統(tǒng),用自制的 具有納米級(jí)分辨力的原子力顯微鏡來測(cè)量表面粗糙度,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該套軟硬件系統(tǒng)能夠很好地滿足納 米粗糙度測(cè)量的要求。海川初中一年級(jí)UID93493有效帖子390積分206威望0 點(diǎn)財(cái)富7277 ￥魅力181 點(diǎn)貢獻(xiàn)2 點(diǎn)專業(yè)化工閱讀權(quán)限70在線時(shí)間254 小時(shí)注冊(cè)時(shí)間2007927最后登錄2008128 個(gè)人空間 發(fā)短消息 加為好友 當(dāng)前離線 5樓 大 中 小 發(fā)表于 20071029 19:57 只看該作者 樓上說的沒問題。 ( KB)20071029 19:57 ( KB)20071029 19:57N1 N2 N3 N4 N5 N6N7 N8 N9 From Mechinery39。s handbook 26th
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