ch表面粗糙度ppt課件-資料下載頁
2025-01-06 13:38本頁面
【正文】 果的可靠性很大程度上取決于檢測人員的經(jīng)驗(yàn)。比較法僅適用于評定表面粗糙度要求不高的工件。 比較時，可用肉眼觀察、手動觸摸，也可借助顯微鏡、放大鏡。所用粗糙度樣板的材料、形狀及加工方法應(yīng)盡可能與被測表面一致。 表面光潔度比較樣板 符合 二、 光切法 光切法是指利用光切原理來測量表面粗糙度的一種方法。常用的測量儀器是光切顯微鏡，又稱雙管顯微鏡。 光切顯微鏡 光切顯微鏡主要用于測定 Rz和 Ry，測量范圍一般為 ~60μ m。適宜測量車、銑、刨或其他類似加工方法所加工的零件平面和外圓表面 。 光切法的基本原理 光切顯微鏡由兩個鏡管組成，右為投射照明管，左為觀察管。兩個鏡管軸線成 90176。 。照明管中光源 1發(fā)出的光線經(jīng)過聚光鏡 2，光闌 3及物鏡 4后，形成一束平行光帶。這束平行光帶以 45176。 的傾角投射到被測表面。光帶在粗糙不平的波峰 S1和波谷 S2處產(chǎn)生反射。 S1和 S2經(jīng)觀察管的物鏡 4后分別成像于分劃板 5的 S1’和 S2’。若被測表面微觀不平度高度為 h，輪廓峰、谷S1與 S2在 45176。 截面上的距離為 h1， S1’與 S2’之間的距離 h1’是 h1經(jīng)物鏡后的放大像。若測得 h1’，便可求出表面微觀不平度高度 h。 K— 物鏡的放大倍數(shù) 。 ???? c os 45Khc os 45 11hh光切顯微鏡測量原理 三、 干涉法 干涉法是指利用光學(xué)干涉原理來測量表面粗糙度的一種方法。常用儀器是干涉顯微鏡。 干涉原理 光源 1發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡 2和反光鏡 3轉(zhuǎn)向，通過光闌 聚光鏡 6投射到分光鏡 7上，通過分光鏡 7的半透半反膜后分成兩束。一束光透過分光鏡 7，經(jīng)補(bǔ)償鏡 物鏡 9射至被測表面 P2，再由 P2反射經(jīng)原光路返回，再經(jīng)分光鏡 7反射向目鏡 14。另一束光經(jīng)分光鏡 7反射，經(jīng)濾光片 1物鏡 10射至參考鏡 P1，再由 P1反射回來，透過分光鏡射向目鏡 14。兩束光在目鏡 14的焦平面上相遇疊加。由于被測表面粗糙不平，所以這兩路光束相遇后形成與其相應(yīng)的起伏不平的干涉條紋，如圖 620所示。 6JA型干涉顯微鏡外形圖 6JA型干涉顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)圖 干涉條紋 干涉法主要用于測量表面粗糙度的 Rz和 Ry值，其測量范圍通常為 ~ m。干涉法不適于測量非規(guī)則表面（如磨、研磨等）的 Sm。 四、 針描法 針描法是利用儀器的測針與被測表面相接觸，并使測針沿被測表面輕輕滑動來測量表面粗糙度的一種方法，又稱輪廓法。電動輪廓儀就是針描法測定表面粗糙度的常用儀器。 便攜式粗糙度測量儀 .jpg 電動輪廓儀外形 五、 印模法 印模法是指用塑性材料將被測表面印模下來，然后對印模表面進(jìn)行測量 。 印模法適用于笨重零件及大尺寸零件的內(nèi)表面，測量范圍為 Rz = ~330μ m。 六、 小結(jié) 比較法測量表面粗糙度簡單易行，但評定結(jié)果取決于檢測人員的經(jīng)驗(yàn)。 光切法利用光切原理測量表面粗糙度， 主要用于測定 Rz和 Ry，不適于測量粗糙度要求較高的的表面及不規(guī)則表面的 Sm值。 干涉法利用光學(xué)干涉原理測量表面粗糙度，干涉法主要用于測量表面粗糙度的 Rz和 Ry值，不適于測量非規(guī)則表面 Sm。 針觸法是 利用儀器的測針與被測表面相接觸，并使測針沿被測表面輕輕滑動來測量表面粗糙度的，它的最大優(yōu)點(diǎn)是能夠直接讀出表面粗糙度 R a 的數(shù)值，但測量范圍為 R a ~5μm。
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