【正文】 插入電源電磁爐連續(xù)發(fā)出響2秒停2秒的“嘟”聲,指示燈不亮。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到電源波形異常信息,故障在過零檢測電路。處理 方法 : 檢查零檢測電路R7R1R1Q1CDD2均正常,根據(jù)原理分析,提供給過零檢測電路的脈動電壓是由DD2和整流橋DB內(nèi)部交流兩輸入端對地的兩個二極管組成橋式整流電路產(chǎn)生,如果DB內(nèi)部的兩個二極管其中一個順向壓降過低,將會造成電源頻率一周期內(nèi)產(chǎn)生的兩個過零電壓其中一個并未達(dá)到0V(電壓比正常稍高),Q11在該過零點(diǎn)時間因基極電壓未能消失而不能截止,集電極在此時仍為低電平,從而造成了電源每一頻率周期CPU檢測的過零信號缺少了一個?；谝陨戏治?(目的將Q11基極分壓電壓降低,以抵消比正常稍高的過零點(diǎn)脈動電壓),結(jié)果電磁爐恢復(fù)正常。,因?yàn)楫a(chǎn)生本故障說明整流橋DB特性已變,快將損壞,所己必須將R14換回10K電阻并更換整流橋DB。 故障現(xiàn)象6 : 插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出三長五短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E9)。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在微晶玻璃板底的鍋傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)開路信息,其實(shí)CPU是根椐第8腳電壓情況判斷鍋溫度及熱敏電阻開、短路的,而該點(diǎn)電壓是由R5熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D26作電壓鉗位之用(防止由線盤感應(yīng)的電壓損壞CPU) 及一只C18電容作濾波。處理 方法 : 檢查D26是否擊穿、鍋傳感器有否插入及開路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。 故障現(xiàn)象7 : 插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出三長四短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示EE)。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在微晶玻璃板底的鍋傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)短路信息,其實(shí)CPU是根椐第8腳電壓情況判斷鍋溫度及熱敏電阻開/短路的,而該點(diǎn)電壓是由R5熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D26作電壓鉗位之用(防止由線盤感應(yīng)的電壓損壞CPU)及一只C18電容作濾波。處理 方法 : 檢查C18是否漏電、R58是否開路、鍋傳感器是否短路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。 故障現(xiàn)象8 : 插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出四長五短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E7)。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在散熱器的TH傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻)開路信息,其實(shí)CPU是根椐第4腳電壓情況判斷散熱器溫度及TH開/短路的,而該點(diǎn)電壓是由R5熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D24作電壓鉗位之用(防止TH與散熱器短路時損壞CPU) ,及一只C16電容作濾波。處理 方法 : 檢查D24是否擊穿、TH有否開路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。 故障現(xiàn)象9 : 插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出四長四短報(bào)警聲(數(shù)顯型機(jī)種顯示E8)。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到按裝在散熱器的TH傳感器(負(fù)溫系數(shù)熱敏電阻) 短路信息,其實(shí)CPU是根椐第4腳電壓情況判斷散熱器溫度及TH開/短路的,而該點(diǎn)電壓是由R5熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D24作電壓鉗位之用(防止TH與散熱器短路時損壞CPU) 及一只C16電容作濾波。處理 方法 : 檢查C16是否漏電、R59是否開路、TH有否短路(判斷熱敏電阻的好壞在沒有專業(yè)儀器時簡單用室溫或體溫對比電阻值溫度分度表阻值)。 故障現(xiàn)象10 : 電磁爐工作一段時間后停止加熱, 間隔5秒發(fā)出四長三短報(bào)警聲, 響兩次轉(zhuǎn)入待機(jī)(數(shù)顯型機(jī)種顯示E0)。分 析 : 此現(xiàn)象為CPU檢測到IGBT超溫的信息,而造成IGBT超溫通常有兩種,一種是散熱系統(tǒng),主要是風(fēng)扇不轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)速低,另一種是送至IGBT G極的脈沖關(guān)斷速度慢(脈沖的下降沿時間過長),造成IGBT功耗過大而產(chǎn)生高溫。處理 方法 : 先檢查風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常,如果不正常則檢查QR風(fēng)扇, 如果風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常,則檢查IGBT激勵電路,主要是檢查R18阻值是否變大、QQ8放大倍數(shù)是否過低、D19漏電流是否過大。 故障現(xiàn)象11 : 電磁爐低電壓以最高火力檔工作時,頻繁出現(xiàn)間歇暫停現(xiàn)象。分 析 : 在低電壓使用時,由于電流較高電壓使用時大,而且工作頻率也較低,如果供電線路容量不足,會產(chǎn)生浪涌電壓,假如輸入電源電路濾波不良,則吸收不了所產(chǎn)生的浪涌電壓,會另浪涌電壓監(jiān)測電路動作,產(chǎn)生上述故障。處理 方法 : 檢查C1容量是否不足,如果1600W以上機(jī)種C1裝的是1uF,。 故障現(xiàn)象12 : 燒保險(xiǎn)管。分 析 : 電流容量為15A的保險(xiǎn)管一般自然燒斷的概率極低,通常是通過了較大的電流才燒,所以發(fā)現(xiàn)燒保險(xiǎn)管故障必須在換入新的保險(xiǎn)管后對電源負(fù)載作檢查。通常大電流的零件損壞會另保險(xiǎn)管作保護(hù)性溶斷，而大電流零件損壞除了零件老化原因外,大部分是因?yàn)榭刂齐娐凡涣妓?特別是IGBT,主板檢測表對電路作常規(guī)檢查外,還需對其它可能損壞該零件的保護(hù)電路作徹底檢查,IGBT損壞主要有過流擊穿和過壓擊穿,而同步電路、振蕩電路、IGBT激勵電路、浪涌電壓監(jiān)測電路、VCE檢測電路、主回路不良和單片機(jī)(CPU)死機(jī)等都可能是造成燒機(jī)的原因, 以下是有關(guān)這種故障的案例：(1)換入新的保險(xiǎn)管后首先對主回路作檢查,發(fā)現(xiàn)整流橋DB、IGBT擊穿，主板檢測表測試發(fā)現(xiàn)+22V偏低, 主板測試不合格對策第(3) 項(xiàng)方法檢查,結(jié)果為QQQ9擊穿另+22V偏低, 換入新零件后再按主板檢測表測試至第9步驟時發(fā)現(xiàn)V4為0V, 主板測試不合格對策第(9) 項(xiàng)方法檢查,結(jié)果原因?yàn)镽74開路,換入新零件后測試一切正常。結(jié)論 : 由于R74開路,造成加到Q1 G極上的開關(guān)脈沖前沿與Q1上產(chǎn)生的VCE脈沖后沿相不同步而另IGBT瞬間過流而擊穿, IGBT上產(chǎn)生的高壓同時亦另QQQ9擊穿,由于IGBT擊穿電流大增,在保險(xiǎn)管未溶斷前整流橋DB也因過流而損壞。(2)換入新的保險(xiǎn)管后首先對主回路作檢查,發(fā)現(xiàn)整流橋DB、IGBT擊穿，主板檢測表測試發(fā)現(xiàn)+22V偏低, 主板測試不合格對策第(3) 項(xiàng)方法檢查,結(jié)果為QQQ9擊穿另+22V偏低, 換入新零件后再按主板檢測表測試至第10步驟時發(fā)現(xiàn)Q6基極電壓偏低, 主板測試不合格對策第(10) 項(xiàng)方法檢查,結(jié)果原因?yàn)镽76阻值變大,換入新零件后測試一切正常。結(jié)論 : 由于R76阻值變大,造成加到Q6基極的VCE取樣電壓降低,發(fā)射極上的電壓也隨著降低,當(dāng)VCE升高至設(shè)計(jì)規(guī)定的抑制電壓時, CPU實(shí)際監(jiān)測到的VCE取樣電壓沒有達(dá)到起控值,CPU不作出抑制動作,結(jié)果VCE電壓繼續(xù)上升,最終出穿IGBT。IGBT上產(chǎn)生的高壓同時亦另QQQ9擊穿,由于IGBT擊穿電流大增,在保險(xiǎn)管未溶斷前整流橋DB也因過流而損壞。(3)換入新的保險(xiǎn)管后首先對主回路作檢查,發(fā)現(xiàn)整流橋IGBT擊穿，主板檢測表測試,上電時蜂鳴器沒有發(fā)出“B”一聲，主板測試不合格對策第(1) 項(xiàng)方法檢查,結(jié)果為晶振X1不良,更換后一切正常。結(jié)論 : 由于晶振X1損壞,導(dǎo)至CPU內(nèi)程序不能運(yùn)轉(zhuǎn),上電時CPU各端口的狀態(tài)是不確定的,假如CPU第119腳輸出為高,會另振蕩電路輸出一直流另IGBT過流而擊穿。本案例的主要原因?yàn)榫д馲1不良導(dǎo)至CPU死機(jī)而損壞IGBT。