智能卡的卡體測(cè)試-資料下載頁(yè)
2025-07-25 09:56本頁(yè)面
【正文】 響。21，幅度測(cè)量（根據(jù)：ISO 7811－2；壩刂試規(guī)程：ISO/IEC 10373）此項(xiàng)測(cè)試檢查磁條編碼的信號(hào)幅度和分辨率。一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的讀寫頭沿磁條以規(guī)定的精確速度通過(guò)被用來(lái)進(jìn)行 測(cè)試。22．靜電（根據(jù)：ISO 7816－1；壩刂試規(guī)程：ISO/IEC 10373）這是一項(xiàng)僅對(duì)智能卡有意義的測(cè)試，用來(lái)檢查芯片對(duì)靜電放電ESD（Electrostatic Discharge）的堅(jiān)固性 ，一個(gè)100pF的電容器依次被充電至177。1500V并經(jīng)1500Ω限流電阻至芯片的不同觸點(diǎn)放電。由于這些放電必須 不致危害芯片的功能并且不改變存儲(chǔ)器的內(nèi)容。23． 斃鷺夕卜線由于（E）EPROM存儲(chǔ)器曝露在紫外線中時(shí)會(huì)丟失它們的存儲(chǔ)內(nèi)容，于是就有了一項(xiàng)特殊測(cè)試用來(lái)決定智能 卡是否對(duì)紫外線敏感。用波長(zhǎng)254nm而能量密度為15Ws/cm2的紫外線照射卡10～30分鐘。其結(jié)果應(yīng)當(dāng)是（E） EPROM的內(nèi)容必須不變。（根據(jù)：ISO 7810；測(cè)試規(guī)程：ISO/IEC 10373）下述測(cè)試僅對(duì)多層卡才有意義，這種卡是由數(shù)張塑料層壓制而成，頂層用一銳利的刀具在某點(diǎn)與核心層分 開(kāi)。由此分離開(kāi)始，測(cè)試器試圖把此二疊壓層分開(kāi)。測(cè)量所需之力并與基準(zhǔn)值相比較。25，卡變形（根據(jù)：ISO 7810；測(cè)試規(guī)程：ISO/IEC 10373）此項(xiàng)測(cè)試測(cè)量卡的變形量，卡被放置在一平坦之表面上，而變形用輪廓投影儀測(cè)量，測(cè)量主要用于從大張基本材料上沖壓出來(lái)的卡。當(dāng)然還有其他測(cè)試事項(xiàng)，諸如插入循環(huán)的次數(shù)、抗墨水污染的能力、增塑劑的穩(wěn)定性和抗汗水與口水的能力等，這些均取決于卡在哪里和如何使用，必須選擇測(cè)試條件后再進(jìn)行適當(dāng)?shù)臏y(cè)試。
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