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2025-07-20 11:33本頁面
【正文】 BUG數(shù)量12345+餅狀圖（示例） 按缺陷發(fā)現(xiàn)效率統(tǒng)計(jì)本項(xiàng)目的測試周期是20XX年X月X日至20XX年X月X日。缺陷發(fā)現(xiàn)效率是XX個(gè)/天（其中缺陷發(fā)現(xiàn)效率=BUG總數(shù)/天數(shù)）。下圖是每日缺陷發(fā)現(xiàn)趨勢圖。+圖表（示例） 嚴(yán)重缺陷嚴(yán)重缺陷列舉。6 測試總結(jié)本項(xiàng)目共發(fā)現(xiàn)BUG數(shù)量XX，包括嚴(yán)重問題XX、較嚴(yán)重問題XX、一般性問題XX、建議性問題XX。缺陷發(fā)現(xiàn)效率是XX個(gè)/天，缺陷密度是XX個(gè)/模塊。截至20XX年X月X日，已關(guān)閉的BUG XX個(gè)，未關(guān)閉的BUG XX個(gè)，包括嚴(yán)重和較嚴(yán)重BUG XX個(gè)。另外，根據(jù)實(shí)際情況，對此次測試進(jìn)行說明，是否可以測試通過，是否需要下一輪提測，有哪些重要的缺陷嚴(yán)重影響系統(tǒng)使用，等等。
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