常用電子元器件的識(shí)別與檢測(cè)-資料下載頁(yè)
2025-07-18 23:51本頁(yè)面
【正文】 正極，紅表筆接的是負(fù)極。 電感的檢測(cè) 把萬(wàn)用表調(diào)到歐姆檔接電感器兩端檢測(cè)： A：被測(cè)電感器電阻值為零，其內(nèi)部有短路性故障。 B：被測(cè)電感器直流電阻值的大小與繞制電感器線圈所用的漆包線徑、繞制圈數(shù)有直接關(guān)系，只要能測(cè)出電阻值，則可認(rèn)為被測(cè)色碼電感器是正常的。 二極管的檢測(cè) 2：用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)： 把萬(wàn)用表調(diào)到檢測(cè)二極管的檔位，用紅表筆和黑表筆分別接觸被測(cè)二極管的兩極，（紅筆接正極，黑筆接負(fù)極）；可顯示二極管的正向壓降。正常應(yīng)顯示；硅管~，鍺管 ~。肖特基二極管的壓降是 ，普通硅整流管約為 ～ 。調(diào)換表筆，顯示屏顯示“ 1”則為正常，因?yàn)槎O管的反向電阻很大，否則此管已被擊穿。正測(cè)、反測(cè)均為 0或者為 1，表明此管損壞。 二極管的檢測(cè) 1：用指針式的萬(wàn)用表： 正向特性測(cè)試 把萬(wàn)用表的黑表筆（表內(nèi)正極）搭觸二極管的正極，紅表筆（表內(nèi)負(fù)極）搭觸二極管的負(fù)極。若表針不擺到 0值而是停在標(biāo)度盤(pán)的中間，這時(shí)的阻值就是二極管的正向電阻，一般正向電阻越小越好。若正向電阻為 0值，說(shuō)明管芯短路損壞，若正向電阻接近無(wú)窮大值，說(shuō)明管芯斷路。短路和斷路的管子都不能使用。 反向特性測(cè)試 把萬(wàn)用表的紅表筆搭觸二極管的正極，黑表筆搭觸二極管的負(fù)極，若表針指在無(wú)窮大值或接近無(wú)窮大值，二極管就是合格的。 發(fā)光二極管的檢測(cè) 把數(shù)字萬(wàn)用表調(diào)到檢測(cè)二極管的檔位，用紅表筆和黑表筆分別接觸被測(cè)二極管的兩極（紅筆接正極，黑筆接負(fù)極）這時(shí)看二極管它會(huì)發(fā)光，它就是正常的。 三極管的檢測(cè) 用數(shù)字萬(wàn)用表檢測(cè)： 1：三級(jí)管其實(shí)就是用兩個(gè)二極管銜接成的，測(cè)試的時(shí)候可以按照測(cè)二極管的方式測(cè)量。 2：有的數(shù)字萬(wàn)用表上有專門測(cè)試三極管用的孔，直接放入測(cè)試就行了 三極管的檢測(cè) 用指針式萬(wàn)用表： ①測(cè) NPN 三極管 :將萬(wàn)用表歐姆擋置 “ R 100” 或 “ R lk” 處 ,把黑表筆接在基極上 ,將紅表筆先后接在其余兩個(gè)極上 ,如果兩次測(cè)得的電阻值都較小 ,再將紅表筆接在基極上 ,將黑表筆先后接在其余兩個(gè)極上 ,如果兩次測(cè)得的電阻值都很大 ,則說(shuō)明三極管是好的。 ②用指針式萬(wàn)用表判斷基極 b 和三極管的類型 :將萬(wàn)用表歐姆擋置 “ R 100” 或 “ R lk” 處 ,先假設(shè)三極管的某極為 “ 基極 ” ,并把黑表筆接在假設(shè)的基極上 ,將紅表筆先后接在其余兩個(gè)極上 ,如果兩次測(cè)得的電阻值都很小 (或約為幾百歐至幾千歐 ),則假設(shè)的基極是正確的 ,且被測(cè)三極管為 NPN 型管；同上 ,如果兩次測(cè)得的電阻值都很大 ( 約為幾千歐至幾十千歐 ), 則假設(shè)的基極是正確的 ,且被測(cè)三極管為 PNP 型管。如果兩次測(cè)得的電阻值是一大一小 ,則原來(lái)假設(shè)的基極是錯(cuò)誤的 ,這時(shí)必須重新假設(shè)另一電極為 “ 基極 ” ，再重復(fù)上述測(cè)試。 ③判斷集電極 c和發(fā)射極 e:仍將指針式萬(wàn)用表歐姆擋置 R 100或 R 1k 處 ,以 NPN管為例 ,把黑表筆接在假設(shè)的集電極 c上 ,紅表筆接到假設(shè)的發(fā)射極 e上 ,并用手捏住 b和 c極 ( 不能使 b、 c直接接觸 ), 通過(guò)人體 , 相當(dāng) b 、 C 之間接入偏置電阻 , 讀出表頭所示的阻值 , 然后將兩表筆反接重測(cè)。若第一次測(cè)得的阻值比第二次小 , 說(shuō)明原假設(shè)成立 光耦的檢測(cè) 光耦有很多類型的，以 PC817為例： 2腳之間是 “ 發(fā)光二極管 ” 3腳之間是 “ 光敏三極管 ” 晶振的檢測(cè) 對(duì)于晶振的檢測(cè) ,通常僅能用示波器 (需要通過(guò)電路板給予加電 )或頻率計(jì)實(shí)現(xiàn)。萬(wàn)用表或其它測(cè)試儀等是無(wú)法測(cè)量的。如果沒(méi)有條件或沒(méi)有辦法判斷其好壞時(shí) ,那只能采用代換法了 ,這也是行之有效的。 晶振常見(jiàn)的故障有： (a)內(nèi)部漏電； (b)內(nèi)部開(kāi)路； (c)變質(zhì)頻偏； (d)與其相連的外圍電容漏電。從這些故障看 ,使用萬(wàn)用表的高阻檔和測(cè)試儀的 VI曲線功能應(yīng)能檢查出(C),(D)項(xiàng)的故障，但這將取決于它的損壞程度。 熔斷器的檢測(cè) 檢測(cè)熔斷器其實(shí)就是檢測(cè)電阻一樣的： 將萬(wàn)用表調(diào)至歐姆檔 ,如熔斷器是好的 ,一般顯示 ,如是壞的 ,顯示
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