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實(shí)驗(yàn)19集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試-資料下載頁

2025-07-18 22:07本頁面
  

【正文】 束將元器件,儀器,電源拆下妥善放置。 School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng) ⊕ 電路中的元件應(yīng)盡量對(duì)稱一致,以減小失調(diào)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。 ⊕ 開環(huán)增益的測(cè)試頻率應(yīng)足夠低,取 20Hz≤f≤40Hz為宜。 ⊕ CMRR的測(cè)試頻率不宜超過 5KHz,輸入電壓不能超過最大共模輸入電壓 Vicm。 ⊕ SR的測(cè)試頻率應(yīng)大于 10KHz, Vs的幅值應(yīng)大于 1V。 School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)思考題 ⊕ 試說明測(cè)量 CMRR時(shí),為什么接在運(yùn)放正負(fù)端的電阻要求嚴(yán)格對(duì)稱? ⊕ 下面電路為測(cè)量 VOS的工作原理,說明實(shí)際上又為什么不采用這種方法? School of Microelectronics Xidian University ⊕ 統(tǒng)編教材:半導(dǎo)體集成電路,第五章。 ⊕ 清華編:脈沖數(shù)字電路 (中冊(cè) ),第七章。 ⊕ 《 晶體管原理 》 ,統(tǒng)編教材,浙江大學(xué)半導(dǎo)體室。 ⊕ 張屏英、周佑謨: 《 晶體管原理 》 ,上海 科技版, 1985。 實(shí)驗(yàn)參考資料
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