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元器件檢驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn)-資料下載頁

2024-07-23 17:33本頁面
  

【正文】 小時(shí)溫升小于10℃(貯存三極管溫度范圍65~150℃)MA晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源4可焊性用烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230177。5℃錫爐中,一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1所用材料與樣品相符。2與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測6包裝標(biāo)識(shí)1材料用料正確。2小包裝方式、數(shù)量無誤。3裝箱方式、數(shù)量無誤。4(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12028受控狀態(tài): 2N5551三極管修 改 頁:第 28 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷三極管 : 2N5551 TO92序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA游標(biāo)卡尺3電性1按照三極管的管腳排列把其插到晶體管測試儀測上,測量出三極管的放大倍數(shù)60150倍。2用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥150V,發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥6V。3在常溫下連續(xù)工作2小時(shí)溫升小于10℃(貯存三極管溫度范圍65~150℃)MA晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源4可焊性用烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230177。5℃錫爐中,一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1所用材料與樣品相符。2與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測6包裝標(biāo)識(shí)1材料用料正確。2小包裝方式、數(shù)量無誤。3裝箱方式、數(shù)量無誤。4(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12029受控狀態(tài): 三極管類 S8050修 改 頁:第 29 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷三極管 : S8050 序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖;符合實(shí)際裝配。MA游標(biāo)卡尺3電性1. 按三極管的管腳排列把其插到晶體管測試儀測上,測出三極管的放大倍數(shù),β=150300.2. 用晶體管測試儀測量各類三極管的集發(fā)射極擊穿電壓VCEO≥30V,集基極擊穿電壓VCBO≥40V,發(fā)射結(jié)反向耐壓VEBO≥6V。3. 在線路板上連續(xù)工作2小時(shí)S8050溫升≤10℃(貯存三極管溫度范圍65~150℃)MA晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源4可焊性用烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230177。5℃錫爐中,一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1所用材料與樣品相符。2與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測6包裝標(biāo)識(shí)1材料用料正確。2小包裝方式、數(shù)量無誤。3裝箱方式、數(shù)量無誤。4(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12029A受控狀態(tài):三極管類 S8050修 改 頁:第 29A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷附:三極管參數(shù)參數(shù)符號(hào)符號(hào)說明最小值典型值最大值單位Hfe直流電流增益64160300Vce集電極—發(fā)射極飽和壓降VVbc基極—發(fā)射極飽和壓降VVbe基極—發(fā)射極電壓VBvcbo集電極—基極擊穿電壓40VBvceo集電極—發(fā)射極擊穿電壓30.00………………VBvebo發(fā)射極—基極擊穿電壓6VIcbo集電極—基極載止電流100mAIebo發(fā)射極—基極載止電流100mA擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12030受控狀態(tài): 繼電器修 改 頁:第 30 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷繼電器: JZC32F 009HSQ四腳 10A250V序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖;符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1.使用毫歐表測出繼電器的接觸電阻,阻值應(yīng)在 100mΩ以下。2. 用萬用表測出繼電器的線圈電阻,根據(jù)來料的參數(shù)確認(rèn)其是否合格。3. 用耐壓測試儀測量繼電器的觸點(diǎn)與觸點(diǎn)、觸點(diǎn)與線圈之間的電壓是否符合來料給定參數(shù)值。4. 用可調(diào)穩(wěn)壓電源給繼電器的線圈引腳加上電壓,調(diào)節(jié)電壓測出繼電器的吸合電壓和釋放電壓。5. 使用絕緣電阻測試儀測出繼電器的強(qiáng)電端對外殼絕緣電阻,應(yīng)大于100MΩ。6. 以上參數(shù)見下表圖。CR晶體管測試儀絕緣電阻測試儀毫歐表穩(wěn)壓電源4可焊性用烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230177。5℃錫爐中,一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12030A受控狀態(tài): 繼電器修 改 頁:第 30A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷繼電器參數(shù)項(xiàng)目線圈額定電壓線圈電阻根據(jù)給定額定電壓參數(shù)所定吸合電壓 MAX釋放電壓 MIN絕緣電阻100MΩ (at500VDC)抗電強(qiáng)度觸點(diǎn)間(500700)V AC 1min 50/60HZ.觸點(diǎn)與線圈間1800V AC 1min 50/60HZ電氣壽命1*105次,頻率20次/分 機(jī)械壽命1*107次,頻率300次/分?jǐn)M制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12031受控狀態(tài):磁簧管(MKA14103AT值2025)修 改 頁:第 31 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識(shí)是否與來料相符MI目測元件體引腳(鍍金)是否氧化,元件體是否損或刮傷,玻璃外觀、封裝是否破壞MI目測2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3主要參數(shù)觸點(diǎn)形式1A SPSTNO觸點(diǎn)材質(zhì)Ru最大開關(guān)電壓100VDC觸點(diǎn)位置SYM觸點(diǎn)負(fù)載10W最大開關(guān)電流觸點(diǎn)電阻(初始值)100mΩ釋放值5AT觸點(diǎn)電容工作溫度范圍60~+125℃啟動(dòng)值1035AT耐高壓220VDC(AT〈25)250VDC(AT〉25)電器壽命5VDC,10mA5108諧振頻率4KHz絕緣電阻1010Ω4電能試驗(yàn)利用磁環(huán)浮子進(jìn)行試驗(yàn),不應(yīng)出現(xiàn)二次接通現(xiàn)象CR目測,對比樣品5材料所用材料與樣品相符MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識(shí) 包裝材料用料正確。小包裝方式、數(shù)量無誤。裝箱方式、數(shù)量無誤。(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12032受控狀態(tài):工字磁芯電感DR2W6*830μH或33μH)修 改 頁:第 32 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印標(biāo)識(shí)是否與來料相符MI目測元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損或刮傷,整個(gè)線圈用熱縮管包裹2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3可焊性用烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230177。5℃錫爐中,一次上錫面積大于85%。烙鐵 小錫爐4電性用LCR數(shù)字電橋測其電感量(見下表5)溫度范圍5℃~95℃內(nèi)測量電感量(著重測量95℃)CRLCR數(shù)字電橋5電 感 L30μH或33μH177。15%測試儀器LCR電橋圈 數(shù) T3032測試頻率 f1KHz/ 線 徑 Φ5材料鎂合金,高頻45材料(黑色),所有樣品與材料相符MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 包裝材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. (內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12032受控狀態(tài):繞線空心高頻電感(T5026100μH)修 改 頁:第 33 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷繞線空心電感:100μH177。20% 序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損或刮傷及脫漆現(xiàn)象。MI目測2材質(zhì)磁芯采用T5026,材料采用“黃白型”材料,密繞MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3尺寸 MA鋼尺或游標(biāo)卡尺4電性用LCR數(shù)字電橋測其電感量。(見下表4)CRLCR數(shù)字電橋4主要技術(shù)參數(shù)電 感 L100μH177。20%測試儀器LCR電橋圈 數(shù) T50測試頻率 f1KHz 線 徑 ΦQA130℃ 5材料所用材料與樣品相符MA目測、對比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 包裝材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. (內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制:審核:批準(zhǔn):日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本:第一版版 本:第三版文件編號(hào):WI/HV12033工字電感(DR3W*10900μH)修 改 頁:第 34 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 依據(jù)MILSTD105DⅡ; MI:AQL=;MA:AQL= ;CR:AQL=0MI:次要缺陷 MA:主要缺陷 CR:致命缺陷繞線空心電感:
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