pims多點(diǎn)式激光光譜氨逃逸監(jiān)測系統(tǒng)介紹和實(shí)際應(yīng)用-資料下載頁
2025-06-25 22:49本頁面
【正文】 TDLAS技術(shù)的R系列激光光譜分析儀?！ 〖幽么骍nisearch (優(yōu)勝)成立于1980年，1994年推出了基于TDLAS技術(shù)的氣體分析儀，是世界上第一批推出商品化的TDLAS分析儀的公司?！ DLAS 技術(shù)原理： TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy可調(diào)式二極管激光吸收光譜)技術(shù)的核心是使用近紅外二極管激光器做為光源，通過實(shí)時(shí)改變激光器的溫度以及注入電流產(chǎn)生高頻窄波段的激光掃描，激光器產(chǎn)生的窄波段掃描激光束通過光纖傳輸?shù)綑z測光學(xué)端，在光學(xué)端激光束穿過被檢測氣體后被聚焦到光電檢測器，光電檢測器將吸收光譜電信號通過同軸電纜傳輸回分析儀，分析儀通過對掃描吸收光譜的分析計(jì)算得到檢測氣體的濃度?！ DLAS技術(shù)基于氣體對特定波長光譜的選擇性吸收原理來獲得氣體的吸收光譜，定量分析上基于Lambert Beer 定律： I=Io exp(σcl ) I：被吸收后的光強(qiáng)度 Io ：吸收前的光強(qiáng)度 σ： 吸收截面 c：吸收物質(zhì)的濃度 l：光程路徑長度 基于TDLAS 技術(shù)的LasIR R系列氣體分析儀可檢測如下氣體： HF、HCL、H2S、NHHCN、H2O、D2O、HDO、CHCO、COO2 .... TDLAS的技術(shù)核心是通過對單一氣體吸收峰做窄帶的高頻掃描， ,所以通過電流和溫度調(diào)節(jié)，可以在極小的范圍內(nèi)對單一吸收峰進(jìn)行掃描，從而避開了鄰近其他氣體吸收峰的干擾，可以做到真正意義上的無背景氣體交叉干擾?！ NISEARCH公司在2000年棄用了原來的二次諧波法(2F) TDLAS技術(shù)，而采用了直接吸收法(DA) 的TDLAS技術(shù)， 直接吸收法TDLAS技術(shù)最大的優(yōu)勢在于可以借助目標(biāo)氣體參比池鎖定目標(biāo)氣體吸收峰，真正實(shí)現(xiàn)分析儀無系統(tǒng)漂移。這種直接吸收法技術(shù)優(yōu)勢在HF、HCN、HCL、NHH2S等劇毒氣體監(jiān)測中表現(xiàn)尤其明顯。UNISEARCH 公司的HF分析儀在全世界的電解鋁廠HF監(jiān)測中占有絕對的份額，其中主要原因是由于UNISEARCH 的HF分析儀無需用戶使用HF標(biāo)氣進(jìn)行標(biāo)定?！ NISEARCH公司的TDLAS技術(shù)的另一個(gè)特點(diǎn)是使用光纖輸出激光器，使用光纖輸出的激光器可以將分析儀配置成多通道的分析儀系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場的多點(diǎn)同時(shí)檢測。 總結(jié) SCR脫硝工藝的氨逃逸監(jiān)測實(shí)際上是一個(gè)世界性的難題，尤其對于中國電廠的高粉塵工況下的煙氣?；赑IMs技術(shù)和TDLAS技術(shù)氨逃逸監(jiān)測系統(tǒng)是在國內(nèi)外大量傳統(tǒng)氨逃逸分析儀在高粉塵工況下不能正常工作的現(xiàn)實(shí)情況下開發(fā)成功的，它保留了TDLAS的技術(shù)優(yōu)勢，用PIMs光學(xué)端替代傳統(tǒng)的原位對射光學(xué)端(insitu)，并且充分利用了TDLAS的光纖分布優(yōu)勢，組成了一套多點(diǎn)氨逃逸監(jiān)測系統(tǒng)?；赑IMs和TDLAS技術(shù)的氨逃逸監(jiān)測系統(tǒng)，解決了氨逃逸檢測中的5大難題，解決了氨逃逸分布不均的問題。這種準(zhǔn)確、全面的氨逃逸監(jiān)測數(shù)據(jù)將會對SCR的優(yōu)化控制起到至關(guān)重要的作用。 專業(yè)整理分享
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