spc統(tǒng)計(jì)制程品管-資料下載頁(yè)
2025-06-19 14:46本頁(yè)面
【正文】 對(duì)于個(gè)別管制圖，其參數(shù)為 UCL＝ 中心線＝ LCL＝ 由n=2，查表可得d2＝，因此管制界限為UCL＝247。3（）＝ 中心線＝UCL＝－3（）＝樣本編號(hào)移動(dòng)全距某化學(xué)產(chǎn)品之粘度批號(hào)粘度移動(dòng)全距1—23456789101112131415個(gè)別值樣本編號(hào)(b)個(gè)別值管制圖個(gè)別值及移動(dòng)全距管制圖 = =1617181920(a)移動(dòng)全距管制圖制 程 能 力 分 析制程能力分析可定義為估計(jì)制程能力之工程研究。制程能力分析通常是量測(cè)產(chǎn)品之功能參數(shù)而非制程本身。當(dāng)分析者可直接觀察制程及控制制程數(shù)據(jù)之收集時(shí)，此種分析可視為一種真的制程能力分析。因?yàn)榻?jīng)由數(shù)據(jù)收集之控制及了解數(shù)據(jù)之時(shí)間次序性，可推論制程之穩(wěn)定性。若當(dāng)只有品質(zhì)數(shù)據(jù)而無(wú)法直接觀測(cè)制程時(shí)，這種研究稱為產(chǎn)品特性分析（product characterization）。產(chǎn)品特性分析只可估計(jì)產(chǎn)品品質(zhì)特性之分布，或者是制程之輸出（不合格率），對(duì)于制程之動(dòng)態(tài)行為或者是制程是否在管制內(nèi)則無(wú)法估計(jì)。這種情形通常是發(fā)生在分析供應(yīng)商提供之品質(zhì)數(shù)據(jù)或者是進(jìn)貨檢驗(yàn)之品質(zhì)資料。在整個(gè)品質(zhì)改善計(jì)劃中，制程能力分析占一個(gè)很重要之部分，制程能力分析可有如下之應(yīng)用：1． 預(yù)測(cè)制程是否能符合允差2． 協(xié)助產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員選擇或更改制程3． 協(xié)助設(shè)立制程管制之抽樣區(qū)間4． 設(shè)立新生產(chǎn)設(shè)備之規(guī)格5． 在競(jìng)爭(zhēng)供應(yīng)商間做一選擇6． 降低制造過(guò)程中之變異性7． 在制程間數(shù)個(gè)公差有交互影響時(shí)協(xié)助規(guī)劃生產(chǎn)之程序3．單位規(guī)格之制程能力評(píng)價(jià)一．評(píng)價(jià)方式1． 在計(jì)量值方面，如僅有幾何公差(如規(guī)格上限a規(guī)格下限)。2． 在計(jì)數(shù)值方面，如P不良率，nP不良數(shù)，C缺點(diǎn)數(shù)都是愈少愈好，故屬規(guī)格上限。二．公式1． 計(jì)量值：τmax(規(guī)格上限)τmix(規(guī)格上限)00CPK= CPK=2． 計(jì)數(shù)值：(1) 不良率 CPK= ，規(guī)格上限：Pmax(2) 不良數(shù) CPK= ，規(guī)格上限：(nP)max(3) 缺點(diǎn)數(shù) CPK= ，規(guī)格上限：Cmax〔例〕一、線圈電阻之規(guī)格為20177。4歐姆。當(dāng)制程為管制內(nèi)時(shí)，R管制圖之參數(shù)為=，=，n=5。(a) 計(jì)算Cpk指標(biāo)。(b) 計(jì)算產(chǎn)品之不合格率。(c) ，計(jì)算不合格率?！步狻?a)由于制程在管制內(nèi)，制程之平均值和標(biāo)準(zhǔn)值差可估計(jì)為 μ==, σ=/d2= Cpk指標(biāo)為 Cpk=min{, }= (b)不合格率為1φ（）+φ（）=1φ()+ φ()=()+=(c)由于為雙邊規(guī)格，將制程平均值調(diào)整至規(guī)格之中心，將可獲得最小之不合格率，不合格率為1φ（）+φ（）=1φ()+ φ()=若要進(jìn)一步降低不合格率，則需從降低制程變異數(shù)著手?！怖扯?、 20組本大小為5之飲料瓶破裂強(qiáng)度(bursting strength)的樣本數(shù)據(jù)。，試計(jì)算制程能力指標(biāo)?！步狻?及R管制圖之管制界限計(jì)算如下： R管制圖 UCL=D4=()()= 中心線== LCL=D3=(0)()=0 管制圖 UCL=+A2=+()()= 中心線== LCL=A2=()()=圖93顯示此20組樣本之及R管制圖，此二圖顯示制程數(shù)據(jù)在統(tǒng)計(jì)管制內(nèi)，因此制程參數(shù)可估計(jì)為μ== σ== Cp指標(biāo)為 Cp=(μLSL)/(3σ)=()/(3)= 此例顯示制程為統(tǒng)計(jì)管制內(nèi)，但在不符合產(chǎn)品規(guī)格之情況下生產(chǎn)。 在分析制程能力指標(biāo)時(shí)，我們假設(shè)量測(cè)誤差可忽略。但量測(cè)誤差對(duì)制程能力指標(biāo)確實(shí)有所影響，本節(jié)以下介紹一方法，在量測(cè)誤差存在之情況下，用來(lái)評(píng)估實(shí)際之制程能力。假設(shè)Xm為品質(zhì)特性之量測(cè)值，Xm包括品質(zhì)特性之真實(shí)值X，和量測(cè)誤差ε，亦即Xm=X+ε。品質(zhì)特性之量測(cè)值的變異可寫(xiě)成其中代表量測(cè)誤差之變異數(shù)，為制程之實(shí)際變異數(shù)。由于量測(cè)誤差一般符合常態(tài)分配，因此允差被量測(cè)誤差所估用之百分比為上式可寫(xiě)成=c〔(USLLSL)/6〕，將之代入中，可得由量測(cè)值所得之制程能力指標(biāo)設(shè)為，制程之真實(shí)指標(biāo)為Cp，則可寫(xiě)成可簡(jiǎn)化為。若無(wú)量測(cè)誤差，=0，c=0，則=Cp。另一方面，若制程之變異數(shù)為0，仍有一上限值，亦即。上式說(shuō)明制程能力指標(biāo)之最大值受到量測(cè)誤差之限制。制程之真實(shí)能力指標(biāo)可寫(xiě)成其中CR=1/，稱為能力比（capability ratio）。若能估計(jì)量測(cè)誤差，則將能估計(jì)真實(shí)之制程能力指標(biāo)?！怖钞a(chǎn)品品質(zhì)特性之規(guī)格為100177。30，量測(cè)系統(tǒng)之標(biāo)準(zhǔn)差為=8。？〔解〕制程能力指標(biāo)之上限為1/=。因此，無(wú)論如何改善制程
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