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正文內(nèi)容

水利水電工程物探規(guī)程sl-資料下載頁

2024-11-06 05:57本頁面

【導(dǎo)讀】ICSP13SL中華人民共和國水利行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SL326-2020替代DL. 2020-11-01實施中華嗣窆埠凸發(fā)布中華人民共和國水利部1. 關(guān)于批準(zhǔn)發(fā)布《水利水電工程物探規(guī)程》SL326—2020的通知水國科〔2020〕354. 號部直屬各單位,各省、自治區(qū)、直轄市水利(水務(wù))廳(局),各計劃單列市。本標(biāo)準(zhǔn)自2020年11月1日起實施。出版社出版發(fā)行。言根據(jù)水利部水利水電規(guī)劃設(shè)計管理局2020年3月下發(fā)的水總局科[2020]1號―關(guān)。于下達(dá)2020年度水利水電勘測設(shè)計技術(shù)規(guī)程制定、修訂項目計劃及主編單位的通。知‖,以及《水利水電工程物探規(guī)程》近10年的執(zhí)行情況和物探技。進(jìn)行修訂、完善和補充?,F(xiàn)場試驗、觀測工作、測網(wǎng)布置、參數(shù)測試、記錄評價、數(shù)據(jù)處理和解釋、報告和。應(yīng)用領(lǐng)域所采取的方法和技術(shù),并對資料解釋和探測精度提出了具體要求;本次修。附錄B有關(guān)操作方法的規(guī)定、附錄F圖式圖例、附錄G地震勘探爆炸工作安全條例、巖體質(zhì)量檢測、灌漿效果檢測、混凝土質(zhì)量檢測、洞室混凝土襯砌質(zhì)量檢測、錨桿

  

【正文】 應(yīng)一致,且各觀測道的總均方相對誤差 M應(yīng)小于 10%。 2) 一條測線或測區(qū)檢查的總均方相對誤差 M應(yīng)小于 15%。 電測深法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 規(guī)定外,還應(yīng)符合下列要求: 1 電測深資料應(yīng)進(jìn)行定性和定量解釋。 2 定性解釋應(yīng)符合以下要求: 1) 定性解釋應(yīng)包括確定電性層數(shù)量、各電性層電阻率的關(guān)系、局部異常大致平面位置和性質(zhì)等。 2) 應(yīng)分析各電測深曲線的類型,根據(jù)曲線類型確定地電斷面的層數(shù)和電性結(jié)構(gòu)。 3) 應(yīng)對比分析一條或多條剖面上電測深曲線類型的變化與地層結(jié)構(gòu)、電性參數(shù)變化、地形變化的關(guān)系。 4) 應(yīng)根據(jù)視電阻率剖面中異常幅值、形態(tài)和分布情況確定異常的性質(zhì)、位置,并分析相鄰剖面上異常的相關(guān)性。 5) 采用雙向三極測深時應(yīng)根據(jù)各個極距 的視電阻率剖面曲線的交叉情況、異常幅值和范圍確定異常性質(zhì)、規(guī)模和產(chǎn)狀。 6) 劃分地電剖面時應(yīng)分析電性界面和地質(zhì)界面不一致的可能性,并應(yīng)分析橫向電性的變化和地形變化對電測深曲線的影響。 3 定量解釋應(yīng)在定性解釋的基礎(chǔ)上計算各電性層厚度、確定異常體位置、規(guī)模、埋深和產(chǎn)狀等。 4 應(yīng)根據(jù)計算和測量的視電阻率剖面,雙向三極測深電阻率剖面曲線的異常規(guī)模、深度、軸線傾斜角度、平面位置等對異常進(jìn)行定量解釋。 5 定量解釋應(yīng)具備下列條件: 1) 曲線完整、電性標(biāo)志層在電極距上反映明顯。 20 2) 電測深曲線電 性分層明顯、類型確定。 3) 電測深曲線經(jīng)消差、圓滑、畸變校正后,不影響解釋精度。 4) 具有定量解釋所需的電參數(shù)。 5) 電性界面和地質(zhì)界面基本對應(yīng)。 6 定量解釋宜采用量板法(包括計算機電子量板)、計算機反演法和電反射系數(shù) K剖面法。當(dāng)曲線比較復(fù)雜時,可以使用各種簡化的解釋方法或經(jīng)驗方法。 7 可采用地形校正方法,減小地形起伏對電阻率剖面上視電阻率的影響。 8 圖件可包括:視電阻率剖面或平面分布圖、物探成果地質(zhì)解釋剖面或平面圖 (包括地層分層、風(fēng)化分帶、不良地質(zhì)體分布、基巖頂板等高線等 )。 電剖面法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 電剖面法應(yīng)以定性解釋為主,當(dāng)探測目的體形態(tài)簡單時,可進(jìn)行定量解釋。 2 應(yīng)分析曲線中異常的幅值、規(guī)模、形態(tài)等特點,并對異常進(jìn)行定性解釋。當(dāng)異常單一時應(yīng)確定異常曲線類型,并依據(jù)類型進(jìn)行定性和定量解釋。應(yīng)對相鄰剖面上的異常進(jìn)行對比分析。 3 可采用地形校正方法消除因地形起伏產(chǎn)生的虛假異常。 4 圖件應(yīng)包括:視電阻率曲線剖面或平面分布圖、剖面或平面物探成果地質(zhì)解釋圖等,并應(yīng)采用不同的線型或顏色繪制 視電阻率曲線及在曲線橫坐標(biāo)的下方繪制地形剖面及推斷的目的體位置大小及產(chǎn)狀等。 高密度電法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 應(yīng)繪制整條測線的高密度電法的視電阻率剖面,也可經(jīng)處理和反演后形成相應(yīng)剖面的電阻率圖像。 2 解釋時可采取以下方法: 1)應(yīng)根據(jù)視電阻率剖面或圖像中異常的分布、幅值、規(guī)模等進(jìn)行解釋。 2)可選取幾組符合電測深條件的數(shù)據(jù)進(jìn)行分層反演和解釋。 3)應(yīng)對比同一剖面多種裝置的視電阻率剖面或圖像進(jìn)行解釋。 4)可結(jié)合視 電阻率剖面或圖像與已知地質(zhì)界面、鉆孔等資料進(jìn)行對比分析和解釋。 3 圖件可包括:視電阻率斷面或電阻率圖像、物探成果地質(zhì)解釋剖面或平面圖。 自然電場法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 外,還應(yīng)符合下列要求: 1 一個測區(qū)的所有測量電位應(yīng)換算到同一個總基點,所有測量電位或梯度應(yīng)進(jìn)行極差校正。 2 可根據(jù)地質(zhì)物性、環(huán)境條件分段確定背景值并剔除干擾異常。 3 應(yīng)區(qū)分正常場與異常場,并正確識別有用異常與干擾異常,異常值應(yīng)超過測量平均絕對誤差 ??的 3倍,且 具有一定的規(guī)律性和分布范圍。 4 應(yīng)根據(jù)剖面或平面自然電位或梯度曲線上異常的分布、幅值等特點確定異常體的規(guī)模、埋深。 5 可利用 ―8‖字形電位圖推算地下水流向。 6 圖件可包括:自然電位或梯度的剖面曲線圖、剖面平面圖、平面等值線圖,自然電位或梯度物探成果解釋剖面或平面圖。 充電法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 的規(guī)定外,還應(yīng)符合下列要求: 1 測試地下水流速流向應(yīng)繪制各個時刻的充電等電位圈分布圖。 2 探測低阻地質(zhì)體宜繪制充電電位或電位梯度的剖面曲線圖、 平面分布圖,充電電位或電位梯度的物探成果解釋剖面或平面圖,解釋時應(yīng)符合下列要求: 1)應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn) 3的規(guī)定劃分正常場與異常場,分析電位或梯度曲線的異常幅值、范 21 圍、形態(tài)等特征,圈定低阻地質(zhì)體的規(guī)模和埋深。 2)應(yīng)分析表層不均勻、地形、巖層產(chǎn)狀、地表水徑流、覆蓋層厚度變化對異常造成的影響。 3)可用電位剖面曲線的極大值或梯度剖面曲線的 ―零 ‖值確定平面點位。 激發(fā)極化法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 、 ,還應(yīng)符合下列要求: 1 剖面法資料應(yīng) 以定性解釋為主,并根據(jù)剖面上的異常位置確定異常極化體的范圍;測深法資料應(yīng)根據(jù)電阻率和多個激電參數(shù)確定異常極化體的埋深和規(guī)模。 2 背景值、異常值的劃分宜以已知地下水位以上或干孔旁觀測數(shù)據(jù) ρ、 ε、J、 D、 S值為背 ,并應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 3的規(guī)定。 3 應(yīng)結(jié)合水文地質(zhì)資料,分析激電異常的幅值、范圍和形態(tài)等曲線特征與已知地下水的關(guān)系,做出對未知地段的極化體或地下水的富水情況、埋深、規(guī)模等的推斷解釋。 4 圖件可包括: ρ、 ε、 J、 D、 S剖面圖、平面圖,相關(guān)的物探成果地質(zhì)解釋圖,測深曲線 類型圖,含水層分布平面圖和含水層埋深圖等。 可控源音頻大地電磁測深法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) 、 ,還應(yīng)符合下列要求: 1 預(yù)處理應(yīng)符合下列要求 : 1) 可對采集的數(shù)據(jù)做平滑插值和校正處理。 2) 應(yīng)檢查和剔除畸變點,不宜對數(shù)據(jù)做自動平滑,不隨意刪除頻點,對曲線首尾支畸變嚴(yán)重的頻點,應(yīng)參考相鄰測點予以校正。 3) 對于相對誤差在 10%以內(nèi)的覆蓋點,可以進(jìn)行算術(shù)平均處理或不作處理;對于相對誤差大于 10%但曲線形態(tài)一致的覆蓋點應(yīng)作平移處理。 4) 靜態(tài)位移校正應(yīng)根據(jù)已知地質(zhì)資料和原始剖面等值線圖及地形起伏情況選擇參數(shù)和最佳靜態(tài)位移校正方法。 2 資料解釋要求: 1) 定性解釋和定量解釋應(yīng)相結(jié)合。 2) 定性解釋可根據(jù)測深曲線類型、正演電阻率剖面上異常電阻率數(shù)值分布情況判斷和確定地質(zhì)電性模型、異常性質(zhì)和分布情況。 3) 進(jìn)行了四分量測量的剖面,應(yīng)對比同一剖面上多個分量的測深曲線類型和電阻率剖面的異常情況。 4) 可將反演的電阻率剖面或典型測深曲線與鉆孔揭示的地層和不良地質(zhì)體進(jìn)行對比,建立地質(zhì)電性模型的對應(yīng)關(guān)系。 5) 定量解釋應(yīng)采用二維解 釋,異常深度宜通過已知鉆孔的目的層深度進(jìn)行校正。 3 圖件可包括:電阻率斷面圖、物探成果地質(zhì)解釋圖。 瞬變電磁法數(shù)據(jù)處理、資料解釋和圖件除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 可對數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理。 2 應(yīng)通過處理軟件計算和繪制視電阻率、視縱向電導(dǎo)斷面圖。 3 應(yīng)根據(jù)瞬變電磁的響應(yīng)時間特征和剖面曲線類型劃分背景場及異常場,確定地質(zhì)電性模型、劃分異常。 4 可通過鉆孔建立一個測區(qū)的視電阻率剖面與異常性質(zhì)、埋深、范圍的對應(yīng)關(guān)系,據(jù)此對該測區(qū)其它剖面進(jìn)行解釋 。 5 應(yīng)繪制相應(yīng)的地質(zhì)成果解釋剖面或平面圖。 22 探地雷達(dá) 探地雷達(dá)可選用剖面法、寬角法、環(huán)形法、透射法、多天線法和孔中雷達(dá)等工作方式。 探地雷達(dá)的應(yīng)用條件應(yīng)符合下列要求: 1 探測目的體與周邊介質(zhì)之間應(yīng)存在明顯介電常數(shù)差異,電性穩(wěn)定,電磁波反射信號明顯。 2 探測目的體與埋深相比應(yīng)具有一定規(guī)模,埋深不宜過深;探測目的體在探測天線偶極子軸線方向上的厚度應(yīng)大于所用電磁波在周邊介質(zhì)中有效波長的 1/4,在探測天線偶極子排列方向的長度應(yīng)大于所用電磁波在周邊介質(zhì)中 第一菲涅爾帶直徑的 1/4;當(dāng)要區(qū)分兩個相鄰的水平探測目的體時,其最小水平距離應(yīng)大于第一菲涅爾帶直徑。 3 測線上天線經(jīng)過的表面應(yīng)相對平緩,無障礙,且天線易于移動。 4 不能探測極高電導(dǎo)屏蔽層下的目的體或目的層。 5 測區(qū)內(nèi)不應(yīng)有大范圍的金屬構(gòu)件或無線電發(fā)射頻源等較強的電磁波干擾。 6 單孔或跨孔探測時,鉆孔應(yīng)無金屬套管。 7 跨孔 (洞 )探測時,目的體應(yīng)位于兩孔 (洞 )間;兩孔 (洞 )宜共面,間距應(yīng)不大于雷達(dá)信號的有效穿透距離。 儀器性能應(yīng)符合下列要求: 1 信號增益控制應(yīng)具有指數(shù)增益功 能。 2 A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)不小于 16bit。 3 點測時有多次疊加功能,且疊加次數(shù)不小于 8次。 4 連續(xù)測量時掃描速率每秒不小于 128線。 測網(wǎng)布置應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,進(jìn)行點測時,點距宜為 ~ ,在異常區(qū)域應(yīng)有 3個以上的測點表現(xiàn)異常。 儀器參數(shù)設(shè)置應(yīng)符合下列要求: 1 雷達(dá)主機天線工作頻率的選取應(yīng)根據(jù)探測任務(wù)要求、探測目的體埋深、分辨率、介質(zhì)特性以及天線尺寸是否符合場地條件等因素綜合確定。 2 記錄時窗的選擇應(yīng)根據(jù)最大探測深度與上覆地層的平均電磁波波速 按本標(biāo)準(zhǔn)附錄 。 3 儀器的信號增益應(yīng)保持信號幅值不超出信號監(jiān)視窗口的 3/4,天線靜止時信號應(yīng)穩(wěn)定。 4 宜選擇所用天線的中心頻率的 6~ 10倍作為采樣率。 天線選擇應(yīng)符合下列要求: 1 在地面探測時宜選擇頻率為 8~ 300MHz的天線,當(dāng)多個頻率的天線均能符合探測深度的要求時,應(yīng)選擇頻率相對較高的天線。 2 洞室襯砌質(zhì)量檢測時宜選用與探測精度要求相對應(yīng)的高頻天線,頻率范圍宜為 400~ 900MHz。 3 檢測混凝土內(nèi)鋼筋時宜選用900~ 1500MHz的天線。 4 孔中探測應(yīng)根據(jù)探 測任務(wù)要求選用自發(fā)自收的單孔天線或一發(fā)一收的跨孔天線,天線頻率應(yīng)根據(jù)探測范圍、探測精度要求選用。 5 采用移動較快的車載觀測方式,宜選用空氣耦合天線。 現(xiàn)場工作應(yīng)符合下列要求: 1 現(xiàn)場觀測時應(yīng)清除或避開測線附近的金屬物。 2 支撐天線的器材應(yīng)選用絕緣材料,天線操作人員不應(yīng)佩帶含有金屬成分的物件,并應(yīng)與工作天線保持相對固定的距離。 3 觀測過程中,應(yīng)保持工作天線的平面與探測面基本平行,距離相對一致。 4 點測時,點距應(yīng)小于尼奎斯特采樣間隔,當(dāng)探測目的體形態(tài)、產(chǎn)狀變化不大時,點距可適當(dāng) 放寬,并應(yīng)在天線相對靜止時采集數(shù)據(jù)。 5 連續(xù)測量時,應(yīng)先進(jìn)行點測與連續(xù)測量對比試驗,并選定連續(xù)測量效果與點測效果相近的天 23 線移動速率。天線的移動速率應(yīng)均勻,并與儀器的掃描率相匹配。 6 使用分體天線進(jìn)行點測時,應(yīng)通過調(diào)整天線距使來自目的體的反射信號最強??蛇x取 2倍臨界角為接收天線與發(fā)射天線相對探測目的體的張角,也可選取探測對象最大深度的1/5作為天線間距。 7 使用偶極天線時,天線的取向宜使電場的極化方向與探測目的體的長軸或走向平行。當(dāng)探測目的體的長軸方向不明確時,宜使用兩組正交方向的天線分 別進(jìn)行觀測。 8 記錄標(biāo)注應(yīng)與測線樁號一致。采用自動標(biāo)注時,應(yīng)避免標(biāo)注信號線的干擾;采用測量輪標(biāo)注時,應(yīng)每 10m校對一次。 可采用穿透法、寬角法測試地層電磁波速度,有條件時由已知深度的探測目的體標(biāo)定或用管狀目的體幾何掃描法推算,也可使用經(jīng)驗數(shù)據(jù)或利用相關(guān)的地層參數(shù)由公式計算。 資料檢查和評價除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 提供檢查和評價的雷達(dá)資料應(yīng)經(jīng)過初步編輯,編輯內(nèi)容可包括測線號、里程樁號、剖面深度等。 2 檢查觀測的圖像與原始觀測圖像的異常形態(tài) 與位置基本一致時資料為合格。 數(shù)據(jù)處理應(yīng)符合下列要求: 1 可根據(jù)需要選取刪除無用道、水平比例歸一化、增益調(diào)整、地形校正、頻率濾波、 fk傾角濾波、反褶積、偏移歸位、空間濾波、點平均等處理方法。 2 選擇處理方法和處理步驟應(yīng)根據(jù)外業(yè)記錄數(shù)據(jù)質(zhì)量及解釋要求進(jìn)行。當(dāng)反射信號弱、數(shù)據(jù)信噪比低時不宜進(jìn)行反褶積、偏移歸位處理,在進(jìn)行 fk傾角濾波和偏移歸位處理前應(yīng)刪除無用道,并進(jìn)行水平比例歸一化和地形校正。 3 在數(shù)據(jù)處理各階段均可選擇頻率濾波,消除某一頻段的干擾波。 4 可用 fk傾角濾波 消除傾斜層的干擾波,但應(yīng)事先確保無同樣傾角的有效層狀的反射波。 5 可用反褶積壓制多次反射波,用于反褶積的反射子波應(yīng)是最小相位子波。 6 可采用時間偏移或深度偏移將傾斜層反射波界面歸位,將繞射波收斂,在進(jìn)行深度偏移處理時應(yīng)選擇可靠的介質(zhì)波速。 7 可選用空間濾波的有效道疊加和道間差兩種方法,使異常具有更好的連續(xù)性或獨立性,提高數(shù)據(jù)圖像的可解釋性。改變反射信號的振幅特征應(yīng)在其它方法處理完成后進(jìn)行。 8 可用平滑數(shù)據(jù)的點平均法消除信號中的高頻干擾,參與計算的點數(shù)宜為奇數(shù),最大值宜小于采樣率與低通頻率之比 。 資料解釋除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 應(yīng)通過班報和現(xiàn)場復(fù)核、篩選干擾異常。 2 應(yīng)先在原始圖像上通過反射波波形及能量強度等特征判斷、識別和篩選異常。 3 可通過數(shù)據(jù)處理對強反射波和強吸收波同相軸進(jìn)行追蹤,或利用異常的寬度及反射旅行時等參數(shù),計算異常體的平面延伸范圍和埋深。 4 透射法可根據(jù)透射圖像有無能量陰影、有無二次波疊加等特征判斷異常,也可采用陰影交匯、二次波形態(tài)及發(fā)射和接收的相對位置進(jìn)行定量解釋。 成果圖表除應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn) ,還應(yīng)符合下列要求: 1 圖件應(yīng)包括雷達(dá)剖面圖像、雷達(dá)地質(zhì)成果解釋剖面圖。 2 布置在隧洞
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