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畢業(yè)設(shè)計(jì)論文-基于at89c52單片機(jī)的數(shù)字頻率計(jì)設(shè)計(jì)-資料下載頁

2024-11-04 08:52本頁面

【導(dǎo)讀】測量的數(shù)字頻率計(jì)設(shè)計(jì)。應(yīng)用單片機(jī)的控制功能和數(shù)學(xué)運(yùn)算能力,實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)功能和頻率、周期的換算。另外,文章對頻率測量過程中數(shù)據(jù)誤差的來源進(jìn)行了探討,提出了減小誤差的措施。最后,文章還對頻率計(jì)的設(shè)計(jì)方案提出了可擴(kuò)展的地方。頻率計(jì)作為一件很普通的電子器件,廣泛應(yīng)用于科研機(jī)構(gòu)、學(xué)校、實(shí)驗(yàn)室、企。業(yè)生產(chǎn)車間等場所。數(shù)字頻率計(jì)具有體積小、攜帶方便;功能完善、測量精度高等優(yōu)。計(jì)的設(shè)計(jì)和開發(fā),有助于頻率計(jì)功能的不斷完善、性價比的提高和實(shí)用性的加強(qiáng)。面將從測量頻率的方法、現(xiàn)階段頻率計(jì)的種類和頻率計(jì)的發(fā)展趨勢三方面進(jìn)行論述。器顯示的單位時間內(nèi)通過被測信號的周期個數(shù)來實(shí)現(xiàn)頻率的測量[1]。脈沖數(shù)定時測頻法(M法):記錄在確定時間里待測信號的脈沖個數(shù)。此法低頻檢測時精度高,但高頻檢測時誤差較大。信號脈沖間隔減小,間隔誤差降低;低頻測量精度比M法高A倍,但控制電路較復(fù)雜。

  

【正文】 下一個顯示單元,直到所有位顯示完退出。 在通過軟件實(shí)現(xiàn)動態(tài)顯示的 時候,需要用到字型碼查表圖,現(xiàn)將表 43 列出下: 置段碼、位選碼初值 位選碼送 P2 口 段選碼送 P0 口 段選碼轉(zhuǎn)字型碼 延時 1ms 指向下一個顯示單元 位選碼左移 1 位 顯示完? Y N 開 始 返 回 西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 27 表 43 七 段 LED 顯示器共陰極字型碼 Seven section of LED monitor mon cathode font code 顯示字符 g f e d c b a dp 字型碼 (共陰極) 0 0 1 1 1 1 1 1 0 3FH 1 0 0 0 0 1 1 0 0 06H 2 1 0 1 1 0 1 1 0 5BH 3 1 0 0 1 1 1 1 0 4FH 4 1 1 0 0 1 1 0 0 66H 5 1 1 0 1 1 0 1 0 6DH 6 1 1 1 1 1 0 1 0 7DH 7 0 0 0 0 1 1 1 0 07H 8 1 1 1 1 1 1 1 0 7FH 9 1 1 0 1 1 1 1 0 6FH A 1 1 1 0 1 1 1 0 77H B 1 1 1 1 1 0 0 0 7CH C 0 1 1 1 0 0 1 0 39H D 1 0 1 1 1 1 0 0 5EH E 1 1 1 1 0 0 1 0 79H F 1 1 1 0 0 0 1 0 71H . 0 0 0 0 0 0 0 1 80H 全亮 1 1 1 1 1 1 1 1 FFH 全滅 0 0 0 0 0 0 0 0 00H 5 硬件調(diào)試、測試數(shù)據(jù)分析及誤差來源討論 硬件調(diào)試 所用到的調(diào)試工具有 : 萬用表、雙蹤示波器、外加電源裝置和頻率發(fā)生器等。 用萬用表對整個硬件電路的狀況進(jìn)行測試 。 將萬用表打到二極管檔 , 檢測電路板上是否有不應(yīng)該連接 , 但由于焊接不好或其他原因造成的連接了短路的線路。將萬用表打到 20V 直流電壓檔 , 檢測各個模擬元件和數(shù)字芯片是否處于正常工作狀況。 雙蹤示波器用來顯示輸入脈沖信號和經(jīng)過變換、整形后脈 沖信號的波形形狀、頻率、周期、占空比、電壓值等參量。將示波器的一個端口接輸入的微弱脈沖信號,可西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 28 以是 正弦波 、方波、三角波等任意形狀 , 另一端口接整形后的端口引腳 , 通過示波器觀察電路是否具有放大和整形的作用。 外加電源用來為硬件電路提供穩(wěn)定、可靠的直流電壓。如果電壓不正確 , 電路將無法正常工作;如果電壓不穩(wěn)定 , 將影響測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。 頻率發(fā)生器主要用來檢測設(shè)計(jì)的電路測量出來的頻率值與實(shí)際的標(biāo)稱值之間的誤差大小。如果誤差太大 , 就需要通過檢查電路的連接情況 , 芯片質(zhì)量的好壞以及修改程序等方法來減小。 在實(shí)際的調(diào)試過程中 , 遇到了如下一些問題: ( 1) CPU 芯片發(fā)熱。用萬用表檢查的結(jié)果是單片機(jī)出現(xiàn)了短路,去掉短路線后,單片機(jī)能正常工作。 ( 2) LED 顯示管顯示亂碼,而且不穩(wěn)定。通過檢查,排除了硬件連接有誤和電壓不穩(wěn)定的情況,最終的原因是在單片機(jī)的輸出 P0 口沒有接上拉電阻。接上后 , 數(shù)碼管能夠正常顯示。 ( 3)頻率計(jì)測得的頻率值 與標(biāo)準(zhǔn)值之間有 大的 誤差。排除所有的硬件問題后,分析是軟件編程的原因。通過多次對程序中的 閘門開啟 時間進(jìn)行 調(diào)節(jié) ,結(jié)果能夠得到精度高、誤差小的頻率測量值。 最后,通過硬件調(diào)試使得硬件電路的各部 分正常工作,達(dá)到了調(diào)試的目的。 測試數(shù)據(jù) 分析 為了能夠更好地衡量設(shè)計(jì)的數(shù)字頻率計(jì)的工作情況和測量精度,我們將測得的頻率值與頻率發(fā)生器的準(zhǔn)確值作一個對比,以表格的形式表現(xiàn)出來,如表 51所示。 表 51 測試數(shù)據(jù) Test data 測量值( KHZ) 實(shí)際值( KHZ) 相差值( KHZ) 相對誤差 % 平均相對誤差 % 通過 表格中的 數(shù)據(jù) , 可以看出用單片機(jī) AT89C52制作的數(shù)字頻率計(jì) 測量值 與實(shí)際值 是 相 吻合 的 , 平均 相對 誤差約在 %左右 。只要存在的誤差是在 設(shè)計(jì) 允許的范圍內(nèi) ( 0%~ 1%) , 我們就認(rèn)為設(shè)計(jì)的頻率計(jì)在測量頻率上是準(zhǔn)確的。我們設(shè)計(jì)制作的頻率計(jì)能夠達(dá)到 這個 標(biāo)準(zhǔn) ,但也存在 一定的誤差, 特別是低頻段的誤差明顯要高于平均相對誤差, 可能的原因是低頻段采用測周期法時 , 在頻率、周期轉(zhuǎn)換時導(dǎo)致了測量精西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 29 度的下降。 另外高頻段和低頻段的分界頻率點(diǎn)的誤差較大,所以恰當(dāng)選擇分界頻率點(diǎn)可以減小平均相對誤差。 下面 將對影響頻率測量的 各種 誤差進(jìn)行分析。 誤差來源討論 數(shù)字頻率計(jì)測量數(shù)據(jù)時 , 由于各種原因 , 不可避免地將產(chǎn)生誤差。誤差的大小將直接影響到產(chǎn)品性能的好壞 , 因此最大限度地減小測量誤差是大多數(shù)數(shù)字測量儀器的目的 。 數(shù)字頻率計(jì) 測量的誤差由 計(jì)數(shù)誤差 ( 1? ) , 時標(biāo)信號的誤差 ( 2? ) 和 被測信號噪聲引起的觸發(fā)誤差( 3? ) 三部分組成 [13], 即 321 ???? ??? ( 51) 下面我們將對 數(shù)字頻率計(jì) 測量頻率產(chǎn)生誤差的原因, 影響及減少測量誤差的措施加以分析。 計(jì)數(shù)誤差 ( 1) 產(chǎn)生計(jì)數(shù)誤差的原因 計(jì)數(shù)誤差也稱為 末位 讀數(shù)不確定度或量 化 誤差 , 是所有數(shù)字化測量儀器都存在的誤差。對于頻率測量是由于被測信號 脈沖與門控脈沖間的相位是隨機(jī)的 以及 計(jì)數(shù)器不能 計(jì)出末位數(shù)字一個字以下的零頭數(shù)而產(chǎn)生的177。 1個字的誤差 [14]。如圖 51所示 。 圖 51 計(jì)數(shù)誤差示意圖 a—— 被計(jì)數(shù)的脈沖序列; b—— 閘門時間為τ的閘門信號; c—— 閘門時間為τ,但與 b的信號有初始相位的閘門信號。 Miscount schematic drawing a—— Pulse sequence which be counted; b—— Strobe signal that strobe time is τ; c—— Strobe signal that strobe time is τ, but has the initial phase with the b signal . 1 2 3 4 5 6 7 8 10 9 a b c ? ? 西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 30 在閘門時間τ內(nèi)有 , 由于被測信號與門控信號 的 相位不同 ,計(jì)數(shù)時 可能 被 計(jì)成為 7( 圖 51b的情況 ) ,也可能 被 計(jì)成為 8( 圖 51c的情況 ) ,這樣就 產(chǎn)生177。1個字的計(jì)數(shù)誤差。 ( 2) 計(jì)數(shù)誤差 的影響 直接測頻時計(jì)數(shù)誤差對測頻的影響 數(shù)字頻率計(jì) 直接 測 頻時 , 被測信號的頻率 0f 為 ?Nf ?0 ( 52) 計(jì)數(shù)誤差對測 頻誤差的影響可由對 ( 52) 式求 N 的微分得出 NdNfdfxx ?????????? 11? ( 53) 由產(chǎn)生計(jì)數(shù)誤差的原因可知, 對于 NdN 部分 ,無論閘門時間長短 ,計(jì)數(shù)法測頻總存在 1個單 位的量化誤差,即 計(jì)數(shù)誤差 dN 為177。 1, 所以 N11 ??? ( 54) 又因?yàn)??xfN? , 所以 ?? xf11 ?? ( 55) 測周期時計(jì)數(shù)誤差對測頻的影響 用 數(shù)字頻率計(jì) 測周期法測頻時 , 計(jì)數(shù)誤差 引起的測頻 誤差可通過對 公式NKfTfx x 01 ?? ( 56) 的微分 得到 ? ?? ?NNdNxf xdf 111 ????????????? ( 57) 又xfKfN 0? ,所以 Kffx01 ??? ( 58) NdN 為量化誤差。待測信號的周期測量值通過浮點(diǎn)數(shù)數(shù)學(xué)運(yùn)算變換成頻率值 ,這時的誤差來源于浮點(diǎn)數(shù)數(shù)學(xué)運(yùn)算和數(shù)制之間的轉(zhuǎn)換所帶來的誤差 [15]。 西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 31 ( 2) 減少計(jì)數(shù)誤差 的措施 比較 ( 55) 式和 ( 58) 式可以看出, 數(shù)字頻率計(jì) 直接測頻時,計(jì)數(shù)誤差對測頻誤差 的影響隨被測信號頻率的降低而增大。但 數(shù)字頻率計(jì) 測周期時 , 計(jì)數(shù)誤差對測頻誤差的影響卻隨被測信號頻率降低而減少 。 因此在測量中, 需準(zhǔn)確 設(shè)定 分界頻率 點(diǎn) 0xf ,當(dāng)被測信號頻率 0xx ff ? 時,以直接測頻為宜 ;當(dāng) 0xx ff ? 時, 則以測量周期為宜。在實(shí)際測量中 , 增加顯示的有效數(shù)字位數(shù)可降低 計(jì)數(shù) 誤差 對直接測頻法和測周期法 的影響 [16]。 另外一種方法是 通過 全 同步 技術(shù)克服量化誤差。 兩個定時器 /計(jì)數(shù)器 T0、 T1分別對被測信號 xf 和時基信號 cf 進(jìn)行計(jì)數(shù) , 當(dāng)同步控制器在單片機(jī)設(shè)定的時間內(nèi)檢測到xf 和 cf 同步時便產(chǎn)生閘門信號 , 打 開單片機(jī)計(jì)數(shù)器閘門 , 控制 T0、 T1開始計(jì)數(shù)。當(dāng)經(jīng)過一定時間再次檢測到 xf 和 cf 同步時 , 閘門信號關(guān)閉 , 計(jì)數(shù)器閘門關(guān)閉 。由于它們在時間上是完全同步的 , 所以頻率的測量精度與待測信號的頻率無關(guān) , 達(dá)到了減小計(jì)數(shù)誤差的作用 [17]。 時基誤差 通用計(jì)數(shù)器的時基都是一個石英晶體振蕩 器 。 而通過計(jì)數(shù)器直接測 頻時的閘門時間和測周期時的時標(biāo)脈沖都是由石英晶體振蕩器的輸出經(jīng)過分頻或倍頻得到的。因此 , 測頻時的閘門時間誤差和測周期時的 時標(biāo)信號誤差就是時基誤差 , 也就是計(jì)數(shù)器內(nèi)石英晶體振蕩器的頻率誤差。 ( 1) 石英晶體 振蕩器頻率誤差的產(chǎn)生 原因 石英晶體振蕩器產(chǎn)生頻率誤差 , 主要是 由于 晶體振蕩器校準(zhǔn)的頻率準(zhǔn)確度 和 對 校準(zhǔn) 該 頻率準(zhǔn)確度的保持能力 兩項(xiàng)因素決定 [18]。 ( 2) 減少 時基誤差的措施 使用性能更好的外部頻率標(biāo)準(zhǔn) 用性能更好的外部頻率標(biāo)準(zhǔn)作為計(jì)數(shù)器的外頻標(biāo) , 此時的時基誤差就 轉(zhuǎn)化為 外部頻率標(biāo) 準(zhǔn)的頻率誤差 了 , 因此對測量儀器的影響就大大減小 。 使用前對石英晶體振蕩器進(jìn)行校準(zhǔn) 盡量減少石英晶體振蕩器的關(guān)機(jī)次數(shù) 重現(xiàn)性是造成時基誤差的重要 原因 。 減少石英晶體振蕩器的關(guān)機(jī)次數(shù)就可以 有效地 減少重現(xiàn)性 對測量頻率 造成的時基誤差 。 西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì)) 32 觸發(fā)誤差 ( 1) 觸發(fā)誤差產(chǎn)生原因 通用計(jì)數(shù)器在測量周期時 , 由于被測信號疊加有噪聲 , 當(dāng)被測信號由施密特觸發(fā)器整形成方波 進(jìn)入下一級電路時 , 信號上疊加的噪聲會使電路的觸發(fā)時刻提前或滯后,從而帶來測量誤差 [14]。此測量誤差即為觸發(fā)誤差。 ( 2) 減少觸發(fā)誤差的措施 若要減少觸發(fā)誤差只有兩個措施 , 一個是提高被測信號的信號噪聲比 , 這需保證硬件電路 受 外界 測量環(huán)境 和 條件的 影響小 。另一條措施是增加增加測量時間 。 6 擴(kuò)展 方面 硬件上的改進(jìn) 預(yù)處理電路部分 在實(shí)際工作中 , 如若兩級 NPN 放大管仍不能使放大作用明顯 , 則可以再級聯(lián)一個NPN 放大管 ; 或者采用放大能力更強(qiáng)的三極管 或 CMOS 管 代替。后一種思路雖然在價格上有所增加 , 但卻減少了電路的復(fù)雜程度 , 并且 在電路板一旦出現(xiàn)問題時 , 能盡最大可能的減少元器件的更換 和連接線路的修改 ,非常方便 和實(shí)用 。 增加電源部分 在上面數(shù)字頻率計(jì)的設(shè)計(jì)工程中 , 使用的是外部 干電池 電源對單片機(jī)和其他電路供電 , 操作起來很方便 , 但有一個缺點(diǎn)是外部提供的電源準(zhǔn)確度不是很高。比如 , 單片機(jī)需 要提供 5V 的標(biāo)準(zhǔn)電壓,我們使用的干電池,由于使用時間過久或型號不同而使得提供的電壓達(dá)不到 5V或高于 5V, 這樣使得 電路不能在正常的狀態(tài)下工作或損壞元器件。因此在原理圖中,我們可以加入電源部分, 采用元件 7805 或 7809 和整流電路對外來 電壓進(jìn)行整流、限壓,提供標(biāo)準(zhǔn)的 5V 電壓給電路,這樣就增加了硬件電路的穩(wěn)定性和測試的準(zhǔn)確性。 功能上的 完善 增加鍵盤控制 通過按鍵實(shí)現(xiàn)數(shù)字頻率計(jì)的測頻率 , 周期,占空比,脈寬等各項(xiàng)功能。比如:按下 1 鍵 , 單片機(jī)的指令執(zhí)行測頻率的程序 ; 按下 2 鍵 , 單片機(jī)指令接到測周期命 令后,中斷測頻率的 子 程序, 跳轉(zhuǎn)到 測周期的 子 程序 去響應(yīng) , 實(shí)現(xiàn)周期的測量;同樣,按下3 鍵,可以去測量占空比;按下 4鍵 , 可以去測量脈寬等等。當(dāng)按鍵非常少時 , 可以西南大學(xué)本科畢業(yè)論文(設(shè)計(jì))
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