【正文】 面間距； L為相機(jī)長(zhǎng)度； X為入射電子波長(zhǎng)[4245]。本文中使用的透射電子顯微鏡為德國(guó)生產(chǎn)的 D8 ADVANCE 。其中制備透射樣品的方法如下：將部分粉末研磨后溶于無(wú)水乙醇中，超聲使其分散均勻，再將懸浮液滴到銅網(wǎng)上，待其干燥后測(cè)試。 石墨烯的XRD圖從石墨烯的XRD圖可以看出，在約為26176。出現(xiàn)一彌散的衍射峰，這與石墨的衍射峰位置相近，但衍射峰變寬，強(qiáng)度非常弱，這是由于還原后，石墨尺寸更加減小，晶體的結(jié)構(gòu)完整性下降，無(wú)序度增加。但是在約為38176。出現(xiàn)了另外的一個(gè)較為明顯的衍射峰，經(jīng)驗(yàn)證此峰為峰，分析其原因可能是因?yàn)檠趸谶M(jìn)行真空干燥時(shí)的時(shí)間與溫度沒(méi)有把握好。 SEM表征　透射電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱 SEM，是以波長(zhǎng)很短的高壓電子束作為照明源，用電磁場(chǎng)作為透鏡聚焦成二維圖像的，顯示和觀察樣品細(xì)微形貌、組織和結(jié)構(gòu)的一種電子光學(xué)設(shè)備。具有分辨本領(lǐng)大、放大倍數(shù)高等優(yōu)點(diǎn)。用透射電鏡進(jìn)行測(cè)試時(shí)，要求樣品是“透明”的，即入射電子束能透過(guò)樣品。SEM 是由 5 大系統(tǒng)構(gòu)成的：電子照明、電磁透鏡成像、真空、記錄和電源系統(tǒng)。其中電子槍和 2 個(gè)聚光鏡組成電子照明系統(tǒng)，電磁透鏡成像系統(tǒng)則由 3 個(gè)透鏡(物鏡、中間鏡和投影鏡)組成，形成分辨率優(yōu)于納米級(jí)別的、原子尺度范圍的電子圖像。對(duì)透射電鏡的樣品進(jìn)行制備時(shí)，將樣品用無(wú)水乙醇超聲分散后，用塑料滴管滴在銅網(wǎng)上，干燥后進(jìn)行測(cè)試。本論文利用日立高新技術(shù)（上海）國(guó)際貿(mào)易有限公司生產(chǎn)的 S3400N型號(hào)的 SEM 來(lái)對(duì)石墨烯進(jìn)行表征，從圖中可以看出有良好的片層結(jié)構(gòu)，且片層都在微米級(jí)別，具有良好的透明度，片層中有褶皺，說(shuō)明氧化石墨烯已被還原成石墨烯。 石墨烯的SEM表征圖 本章小結(jié) （1）超聲會(huì)對(duì)氧化石墨烯的層片造成很大的破壞，是氧化石墨烯的層片減小，缺陷增多，同時(shí)會(huì)改變片層大小的分布。因此，可以通過(guò)改變超聲時(shí)間與功率來(lái)調(diào)節(jié)石墨烯氧化物片層的大小。超聲分散的剝離程度較高，而且在剝離的過(guò)程中含氧官能團(tuán)由于分解而脫氧，而具備了導(dǎo)電性。可以作為填充材料，但是熱膨脹大都會(huì)形成褶皺，但是由于超聲得到的氧化石墨烯擁有更多的官能團(tuán)，更容易改性而用途更廣。 （2）還原可以除去石墨烯的表面集團(tuán)，改善其導(dǎo)電性。石墨烯氧化物在水中具有較好的溶解性，但其還原產(chǎn)物容易發(fā)生聚集，并且很難再次分散。用肼或水合肼作為還原劑，可以在很大程度上除去石墨烯氧化物中的官能團(tuán)，恢復(fù)其是膜結(jié)構(gòu)和導(dǎo)電性。但是，用肼還原以后的石墨烯不溶于水，還原仍然會(huì)放生聚集。并且，還原后的石墨烯放置一段時(shí)間會(huì)出現(xiàn)團(tuán)聚，這對(duì)能否獲得單層石墨烯具有很大的影響，如何克服團(tuán)聚，形成穩(wěn)定均一的分散系是今后需要解決的問(wèn)題。參考文獻(xiàn)[1]. 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