5集成運放電路實驗報告-資料下載頁
2025-05-13 18:16本頁面
【正文】 產(chǎn)生誤差的原因。 從計算結(jié)果可知,實驗測得結(jié)果與理論值相比都偏大一點,原因是在分析模擬運算電路的輸出與輸入之間的關(guān)系時,為簡單計算,一般都將運放視為理想運放,但是,實際運放與理想運放的性能參數(shù)是有差異的,實際運放并不是理想的,存在是調(diào)溫度飄移誤差,以及閉環(huán)增益誤差在分析因此產(chǎn)生的運算誤差時,一般只考慮主要影響因素,這些都會造成是測量值與理論之間的誤差的結(jié)果. 分析討論實驗中出現(xiàn)的現(xiàn)象和問題。在實驗中進行調(diào)零時電壓太大很難調(diào),操作過程中會出現(xiàn)失調(diào)的現(xiàn)象.實際運放并不是理想的, 存在失調(diào)、溫度漂移誤差, 以及閉環(huán)增益誤差。也即在輸入端無信號輸入時, 輸出端仍輸出不為零的電壓。雖然可以試嘗通過運放的調(diào)零電路進行調(diào)節(jié)使輸出端電壓趨于零。但集成運放調(diào)零電路是以改變差動輸入級的對稱性來實現(xiàn)調(diào)零的, 調(diào)零作用過大時, 差動輸入級的對稱性就會嚴重失配, 從而使集成運放的共模抑制性能變壞。而且在集成運放外接電路電阻阻值過大時, 失調(diào)電流的影響較嚴重, 用調(diào)零的方法來補償失調(diào)輸出, 勢必造成差動輸入級的嚴重失衡, 以至會大大降低集成運放抑制漂移的性能。另外, 集成運放的溫度漂移是無法通過調(diào)零電路來消除的。因此在作運放應(yīng)用電路設(shè)計時, 為提高運放的精度和工作穩(wěn)定性, 應(yīng)該在不考慮調(diào)零電路作用時, 要求輸出失調(diào)電壓盡可能的小, 或等價地要求輸入失調(diào)電壓盡可能小?！ ?br />
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