brdf測(cè)量ppt課件-資料下載頁(yè)
2025-05-01 23:06本頁(yè)面
【正文】 進(jìn)行漫反射余弦特性 、 雙向反射分布函數(shù)測(cè)試 。 3 國(guó)內(nèi)雙向反射分布函數(shù)研究概況 ?哈工大工程熱物理研究室已建立了雙向反射分布函數(shù)測(cè)試 ， 采用 4種波長(zhǎng)的激光源 （ ， ， ， ） ， 覆蓋波長(zhǎng) — 。 雙向反射率測(cè)試臺(tái) 雙向反射率測(cè)試臺(tái) 雙向反射率測(cè)試臺(tái) 3 國(guó)內(nèi)雙向反射分布函數(shù)研究概況 綜上所述 ， 目前國(guó)內(nèi)外測(cè)試裝置： ?主要對(duì)常溫和低溫下物體的 BRDF進(jìn)行測(cè)量 ， 與實(shí)際應(yīng)用有較大差異 。 如彈道導(dǎo)彈飛行中段表面溫度為 400~500K；空間衛(wèi)星向陽(yáng)面溫度也在 400~600K。 ?主要用激光作光源 ， BRDF數(shù)據(jù)只是幾個(gè)波長(zhǎng)的數(shù)據(jù) 。 這對(duì)于紅外探測(cè) 、 紅外仿真 、紅外遙感 、 目標(biāo)識(shí)別 、 空間系統(tǒng)的方案論證和設(shè)計(jì)等是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的 。 4 尚待開(kāi)展的研究?jī)?nèi)容 和關(guān)鍵技術(shù) ?整體上分：在線測(cè)量和實(shí)驗(yàn)室測(cè)量?jī)纱箢? ?在線測(cè)量以衛(wèi)星測(cè)量為主 ， 標(biāo)定測(cè)量為輔 ， 衛(wèi)星測(cè)量以 CCD相機(jī)為主要探測(cè)器 ?實(shí)驗(yàn)室測(cè)量大都采用單探測(cè)器 ， 由角度掃描機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)半球空間內(nèi)的測(cè)量 。 4 尚待開(kāi)展的研究?jī)?nèi)容 和關(guān)鍵技術(shù) ?一般來(lái)說(shuō) ， 實(shí)驗(yàn)室測(cè)量裝置 ， 由以下三大部分來(lái)實(shí)現(xiàn)： ?光源系統(tǒng) ?轉(zhuǎn)角系統(tǒng) ?探測(cè)與控制系統(tǒng) 4 尚待開(kāi)展的研究?jī)?nèi)容 和關(guān)鍵技術(shù) ?高溫下材料表面 BRDF測(cè)試?yán)碚撗芯浚? ?高溫試樣加熱技術(shù)研究 ， 對(duì)一薄片加熱 ，在 1000℃ 左右 ， 要保持較好的溫度均勻性很難； ?寬波段 、 高能量輻射源研制； 4 尚待開(kāi)展的研究?jī)?nèi)容和關(guān)鍵技術(shù) ?強(qiáng)背景干擾下低噪檢測(cè)技術(shù)研究 ， 由于高溫目標(biāo)的輻射比反射能量要高幾個(gè)數(shù)量級(jí) ，在強(qiáng)背景下探測(cè)信號(hào)有較大的難度； ?寬波段匯聚光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)； ?高精度三維掃描系統(tǒng)研制 。
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