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用透射譜分析薄膜的折射率厚度及光學(xué)帶隙tauc法-資料下載頁

2025-04-28 22:05本頁面
  

【正文】 中 ?的單位是 cm1 h?的單位是 eV 如右圖所示,做出直線, 找到與橫坐標的交點, 認為其就是光學(xué)帶隙。 Page 12 參考文獻 ? 以上只介紹方法。理論部分請參照收下文獻 R Swanepoel. Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon. J. Phps. E: Sci. Instrum.. Vol. 16, 1983. Printed in Great Britain Page 13 thank you
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