【正文】 試人員開展的系統(tǒng)測(cè)試，但是有點(diǎn)偏灰盒測(cè)試，因?yàn)镾DV驗(yàn)證各子系統(tǒng)的配合是否滿足設(shè)計(jì)需求（DR），對(duì)內(nèi)部的實(shí)現(xiàn)還是關(guān)注的，驗(yàn)證多個(gè)模塊集成以后是否滿足設(shè)計(jì)需求。SIT也是驗(yàn)證設(shè)計(jì)需求是否得以滿足，與SDV不同的是，SIT完全把系統(tǒng)當(dāng)作一個(gè)黑盒來測(cè)試，不關(guān)心內(nèi)部具體的實(shí)現(xiàn)。實(shí)際應(yīng)用中，SDV和SIT 雖然都屬于系統(tǒng)一級(jí)的測(cè)試，往往由不同項(xiàng)目組（子系統(tǒng)）的測(cè)試人員分別測(cè)試，他們只關(guān)注各自的子系統(tǒng)，所以還是把SDV和SIT歸為“子系統(tǒng)級(jí)”的測(cè)試比較好。SVT是驗(yàn)收測(cè)試，其測(cè)試對(duì)象是產(chǎn)品包需求OR。產(chǎn)品包需求給出了產(chǎn)品的范圍，從產(chǎn)品可能的應(yīng)用環(huán)境的角度刻畫系統(tǒng)，SVT的目的就是確認(rèn)（或驗(yàn)收）產(chǎn)品包需求給出的各種應(yīng)用場(chǎng)景產(chǎn)品均能滿足。即使是網(wǎng)頁(yè)開發(fā)項(xiàng)目，外包項(xiàng)目，終端的項(xiàng)目，華為的測(cè)試仍然會(huì)經(jīng)歷以下幾個(gè)測(cè)試階段：SIV：System Integration Verify 系統(tǒng)集成驗(yàn)證SDV：System design Verify 系統(tǒng)設(shè)計(jì)驗(yàn)證SIT：System Integration Test 系統(tǒng)集成測(cè)試SVT：System Verification Test 系統(tǒng)確認(rèn)測(cè)試（系統(tǒng)模擬測(cè)試）迭代結(jié)束后，在正式對(duì)外發(fā)布前，會(huì)將歷次迭代實(shí)現(xiàn)的所有Story再做一次測(cè)試，測(cè)試 的主體在測(cè)試人員，包括功能、非功能，并要給出測(cè)試報(bào)告。這個(gè)活動(dòng)就稱為SIT或發(fā)布測(cè)試。如果Story 測(cè)試、迭代SDV測(cè)試都自動(dòng)化了，則本次測(cè)試主要是執(zhí)行自動(dòng)化用例、如前 面有測(cè)試不充分，則補(bǔ)充測(cè)試，以及詳細(xì)性能測(cè)試。如果用例自動(dòng)化程度不高，則本次測(cè)試會(huì) 刷選部分用來進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試結(jié)束后需要給出測(cè)試報(bào)告。SIT測(cè)試重點(diǎn)： 所有迭代開發(fā)完成后，由迭代開發(fā)團(tuán)隊(duì)中的測(cè)試人員完成對(duì)全系統(tǒng)進(jìn)行回歸測(cè)試，達(dá)到TR4A的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。遺留問題要滿足TR5的DI（缺陷密度）目標(biāo)。4) 集團(tuán)軍時(shí)代：IPDRDIamp。V階段2008年左右開始推廣敏捷，研發(fā)組織演變?yōu)镻DU方式引進(jìn)迭代開發(fā)模式，形成IPDRDIamp。V流程系統(tǒng)集成與驗(yàn)證流程：IPDRDIamp。V(Iamp。V：Integrationand Verification)項(xiàng)目經(jīng)理編寫《項(xiàng)目計(jì)劃》，開發(fā)人員產(chǎn)出《SRS》，這時(shí)測(cè)試組長(zhǎng)就要根據(jù)SOW開始編寫《測(cè)試計(jì)劃》，其中包括人員，軟件硬件資源，測(cè)試點(diǎn)，集成順序，進(jìn)度安排和風(fēng)險(xiǎn)識(shí)別等內(nèi)容。項(xiàng)目管理論壇《測(cè)試計(jì)劃》編寫完成后需要進(jìn)行評(píng)審，參與人員有項(xiàng)目經(jīng)理，測(cè)試經(jīng)理和系統(tǒng)工程師，測(cè)試組長(zhǎng)需要根據(jù)評(píng)審意見修改《測(cè)試計(jì)劃》，并上傳到VSS上，由配置管理員管理。項(xiàng)目管理者聯(lián)盟待開發(fā)人員把《SRS》歸納好并打了基線，測(cè)試組長(zhǎng)開始組織測(cè)試成員編寫《測(cè)試方案》，測(cè)試方案要求根據(jù)《SRS》上的每個(gè)需求點(diǎn)設(shè)計(jì)出包括需求點(diǎn)簡(jiǎn)介，測(cè)試思路和詳細(xì)測(cè)試方法三部分的方案?！稖y(cè)試方案》編寫完成后也需要進(jìn)行評(píng)審，評(píng)審人員包括項(xiàng)目經(jīng)理，開發(fā)人員，測(cè)試經(jīng)理，測(cè)試組長(zhǎng)，測(cè)試成員和系統(tǒng)工程師，返回評(píng)審結(jié)果。測(cè)試組長(zhǎng)組織測(cè)試成員修改測(cè)試方案，直到評(píng)審?fù)ㄟ^后才進(jìn)入下個(gè)階段――編寫測(cè)試用例。測(cè)試用例是根據(jù)《測(cè)試方案》來編寫的，通過《測(cè)試方案》階段，測(cè)試人員對(duì)整個(gè)系統(tǒng)需求有了詳細(xì)的理解。這時(shí)開始編寫用例才能保證用例的可執(zhí)行和對(duì)需求的覆蓋。測(cè)試用例需要包括測(cè)試項(xiàng)，用例級(jí)別，預(yù)置條件，操作步驟和預(yù)期結(jié)果。其中操作步驟和預(yù)期結(jié)果需要編寫詳細(xì)和明確。測(cè)試用例應(yīng)該覆蓋測(cè)試方案，而測(cè)試方案又覆蓋了測(cè)試需求點(diǎn)，這樣才能保證客戶需求不遺漏。同樣，測(cè)試用例也需要通過開發(fā)人員，測(cè)試人員，系統(tǒng)工程師的評(píng)審，測(cè)試組長(zhǎng)也需要組織測(cè)試人員對(duì)測(cè)試用例進(jìn)行修改，直到評(píng)審?fù)ㄟ^。在我們編寫測(cè)試用例的階段，開發(fā)人員基本完成代碼的編寫，同時(shí)完成單元測(cè)試。轉(zhuǎn)測(cè)試部后直接進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。測(cè)試部對(duì)剛轉(zhuǎn)過來的測(cè)試版本進(jìn)行預(yù)測(cè)試，如果軟件未實(shí)現(xiàn)CheckList清單上的10％，測(cè)試部會(huì)把該版本打回。否則，軟件轉(zhuǎn)測(cè)試部進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。根據(jù)《測(cè)試計(jì)劃》進(jìn)度安排，測(cè)試組長(zhǎng)進(jìn)行多輪次的測(cè)試，每輪測(cè)試完成后測(cè)試組長(zhǎng)需要編寫測(cè)試報(bào)告，其中包括用例執(zhí)行通過情況，缺陷分布情況，缺陷產(chǎn)生原因，測(cè)試中的風(fēng)險(xiǎn)等等，這時(shí)測(cè)試人員就修改增加測(cè)試用例。待到開發(fā)修改完bug并轉(zhuǎn)來新的測(cè)試版本，測(cè)試部開始進(jìn)行第二輪的系統(tǒng)測(cè)試，首先回歸完問題單，再繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，編寫第二輪的測(cè)試報(bào)告，如此循環(huán)下去，直到系統(tǒng)測(cè)試結(jié)束。在系統(tǒng)測(cè)試期間，測(cè)試人員還需要編寫驗(yàn)收手冊(cè)，驗(yàn)收用例和資料測(cè)試用例等。修改問題單，直到滿足規(guī)定的缺陷密度，才能夠通過相關(guān)TR點(diǎn)。如果驗(yàn)收發(fā)現(xiàn)的缺陷率在SOW規(guī)定的范圍內(nèi)，那么驗(yàn)收成功。如果超過規(guī)定的缺陷率，需要質(zhì)量回溯。不可思議的小米5%雷軍說：首先華為工程師的平均收入應(yīng)該是低于小米的，器件采購(gòu)的成本也應(yīng)該是低于小米的，制造的產(chǎn)線也應(yīng)該是低于小米的，因?yàn)橛凶约旱漠a(chǎn)線。那么華為的成本花到哪里去了呢？那么我們看華為的硬件測(cè)試過程，就知道成本出在哪里了。第一、 全程測(cè)試參與的流程：在項(xiàng)目開始的階段，測(cè)試人員就開始參與需求分析，對(duì)產(chǎn)品的可測(cè)試性、測(cè)試方案等等因素進(jìn)行評(píng)估。第二、 多層級(jí)的測(cè)試與試驗(yàn)對(duì)于電路的設(shè)計(jì)，會(huì)進(jìn)行單元測(cè)試、整機(jī)測(cè)試、小批量試制、HALT試驗(yàn)、環(huán)境試驗(yàn)、EMC試驗(yàn)、熱測(cè)試、進(jìn)入生產(chǎn)環(huán)節(jié)之后會(huì)進(jìn)行HASS試驗(yàn)。特殊的設(shè)備還會(huì)進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)、硫化試驗(yàn)。整機(jī)結(jié)構(gòu)還會(huì)進(jìn)行：跌落試驗(yàn)、擠壓、扭曲等等。HALT（Highly accelerated life test）高加速壽命試驗(yàn)。HALT是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的工序，它通過設(shè)置逐級(jí)遞增的加嚴(yán)的環(huán)境應(yīng)力，來加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，最大的特點(diǎn)是設(shè)置高于樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而使暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時(shí)間。環(huán)境試驗(yàn)是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間，在預(yù)期的使用，運(yùn)輸或貯存的所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用，運(yùn)輸和貯存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT中找到的改進(jìn)措施能夠得已實(shí)施。HASS還能夠確保不會(huì)由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動(dòng)而引入新的缺陷。硬件工程師最怕HALT試驗(yàn)，因?yàn)闀?huì)超越器件的限制范圍去進(jìn)行測(cè)試。但是為什么要這么做呢，其實(shí)是找到整個(gè)設(shè)備的最薄弱點(diǎn)，然后對(duì)最薄弱點(diǎn)進(jìn)行改進(jìn)。但是由于超出了器件的允許的工作范圍，異常的情況特別多，原因也復(fù)雜。但是按照規(guī)范必須分析清楚，并給出優(yōu)化措施。這是非常燒腦的意見事情，很多經(jīng)典的問題都是HALT試驗(yàn)過程中產(chǎn)生的。由于我本人非測(cè)試出生，有講的不對(duì)的地方請(qǐng)專家指正?，F(xiàn)在小米開始不復(fù)當(dāng)年風(fēng)光了，想到雷軍的5%，就寫下這些。 專業(yè)整理分享