儀器分析山東大學期末考試知識點復習試題-資料下載頁
2025-04-16 13:37本頁面
【正文】 1的元素，以發(fā)射俄歇電子為主(概率90％以上)，而重元素則主要發(fā)射X射線熒光。 俄歇電子通常涉及三個能級，如KLⅠLⅡ。表示K能級上電子被逐出，產(chǎn)生空穴，LⅠ能級上的電子填入，給出的能量使LⅡ。能級上的一個電子發(fā)射出來，即產(chǎn)生俄歇電子。Z為3～14的元素的俄歇電子峰是由KLL躍遷形成的，Z為14—40的元素的俄歇電子峰是由LMM躍遷形成的。俄歇電子能譜分析非常適合除H、He外，原子序數(shù)z33的輕元素分析。 原子化學環(huán)境變化也可以引起俄歇電子峰位置的變化。俄歇電子能譜法鑒定化學狀態(tài)的能力不如XPS法。 19．電子能譜法的特點 (1)可以分析H和He以外的所有元素，AES法以分析輕元素為主，XPS法主要分析重元素，兩者具有較好的互補性； (2)元素定性標識性強，能提供化學鍵方面的信息，可直接測定原子各層電子軌道能級及電子能級結構信息； (3)無損分析方法； (4)高靈敏超微量表面分析技術。分析試樣量約108即可，絕對靈敏度達1018g，試樣分析深度約2 nm。 20．離子散射能譜法與離子探針技術 當高能離子束作用于物質表面時，與光子束和電子束類似，同樣發(fā)生各種相互作用而給出有關表面的各種分析信號，構成了離子散射光譜與離子探針技術的基礎。常見的有離子散射能譜法(ISS)和二次離子質譜法(SIMS)，是表面分析的重要方法之一。 當具有中等或較高質量且能量在keV范圍內(nèi)的離子束轟擊靶時，非彈性碰撞的濺射成為相互作用的主要方式，即惰性氣體離子取代靶表面的離子而使表面離子射出。這些被逐出的離子可以是正離子、負離子和中性粒子(90％為中性粒子)。通過對濺射產(chǎn)生的二次離子進行分離、檢測和分析，就可以獲得試樣表面和本體的元素組成和分布。對于金屬元素通常利用正離子進行分析，而對于非金屬離子需要利用負離子分析。常用的束離子有Ar+、Xe+、Kr+、Ga+、O2+、Cs+和O等。 ISS是目前唯一一種對單原子層有選擇性而不考慮下層原子種類的表面分析技術。SIMS的檢測靈敏度是所有表面分析中最高的，特別適合痕量雜質分析，可采用濺射方式將試樣逐層剝離，對新暴露的表層進行深度剖析和三維組成分布分析。寧可累死在路上，也不能閑死在家里！寧可去碰壁，也不能面壁。是狼就要練好牙，是羊就要練好腿。什么是奮斗？奮斗就是每天很難，可一年一年卻越來越容易。不奮斗就是每天都很容易，可一年一年越來越難。能干的人，不在情緒上計較，只在做事上認真；無能的人！不在做事上認真，只在情緒上計較。拼一個春夏秋冬！贏一個無悔人生！早安！—————獻給所有努力的人. 學習好幫手
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