集成運放參數(shù)測試儀設計報告郭天祥-資料下載頁
2025-03-26 05:15本頁面
【正文】 M之間即可,只要選擇好合適的振蕩電容,再用足夠精度的電流控制其振蕩頻率控制器,就能做到頻率以預期的變化率變化. 根據(jù)題目基本部分和發(fā)揮部分有不同的要求,即第一次輸出為固定不變的5Hz頻率,第二次輸出為從40K到4M按一定的速率變化的頻率,由此條件可以計算出接入MAX038振蕩電路的電容值,再用一繼電器根據(jù)測試項目進行切換,這里需要說明的一點是,在本電路中我們選擇對輸出頻率放大副度進行放大的芯片為兩種,一種是在高頻狀態(tài)下進行副度放大,我們選用MAXIM公司的高速視頻運放MAX4104,其最高速度可工作在750M的頻率下,而其至命的弱點是在當它工作在低頻狀態(tài)下時芯片立刻會被燒壞,也正是因為如此我們才選擇用LF356進行低頻條件下的頻率副度放大,綜合以上各種條件繪制出如下圖所示的信號源產(chǎn)生電路結(jié)構(gòu)圖如下 對上圖電路各個部分現(xiàn)做簡要的說明. 一,頻率段選擇電路:頻率段的選擇主要是針對整個測量過程中存在的兩種狀態(tài)進行選擇,即固定不變的5Hz測量頻率與從40K到4M連續(xù)變化的掃描頻率,對這兩段的選擇是通過核心處理芯片來控制的,對不同的測量選擇相應的值即可,而其中的值主要即為振蕩電容的大小與輸入給頻率調(diào)節(jié)端口電流的大小來決定,對電流調(diào)節(jié)其中心頻率變化的過程將會在下面的小節(jié)中講述. 二,壓控流電路:其實所謂的壓控流源就是將電壓信號轉(zhuǎn)換成電流信號,我們之所以這樣做,主要是因為MAX038芯片的頻率粗調(diào)控制端是通過接收電流強弱信號來決定輸出頻率大小的,而一般情況下我們很少對直流的大小進行控制,而是通過DA對輸出電壓進行控制,在這里我們同樣通過DA對電壓的大小進行控制,而有一特別之處需要說明的是,由于核心器件為凌陽十六位單片機,它本身自帶有兩個十位精度的DA,但考慮到僅用十位精度來控制4K到40M變化的頻率,并且變化精度不大于1K的條件,僅用凌陽自帶的一個DA是不能達到要求的,所以我們采用將凌陽片內(nèi)兩個十位精度電流輸出的DA進行整合變成一個二十位精度電壓輸出的DA,這樣的電壓輸出精度再經(jīng)過壓流變化后將達到相當?shù)木?足以滿足題目給出小于1K變化率的精度,這也是本次我們做題中的一大創(chuàng)新點. 三,頻率放大電路:題目要求5Hz為固定2V正弦波或為4K到4M幅度為4V的正弦波,由于有幅度的改變所以我們用兩塊運放各自處理不同頻率和不同幅度的正弦波,在兩者之間切換采用繼電器由核心處理芯片對起進行控制. 第4章 系統(tǒng)調(diào)試 硬件調(diào)試 利用標準板測運算放大器（1）的輸入失調(diào)電壓a 將開關(guān)K2斷開，將開關(guān)K1閉合，用7位半的數(shù)字電壓表，測輸出電壓，則=b 將開關(guān)K2閉合，開關(guān)K1斷開，用7位半的數(shù)字電壓表，測輔助運放的輸出電壓，則=（2）測輸入失調(diào)電流a、將開關(guān)K2斷開，K1閉合，測輔助運放輸出電壓，將開關(guān)斷開，測得輔助運放的輸出電壓，則有b、將開關(guān)K2閉合，K1閉合，測將K1斷開，測，則有。（3）測交流差模開環(huán)電壓增益KK5閉合，用信號源產(chǎn)生一頻率為5Hz,有效值為4V的正弦波，用數(shù)字示波器測信號源的輸出電壓，及輔助運放的輸出電壓，由。（4） 測交流共模抑制比KCMR. 同上可測得交流共模抑制比. 第5章 指標測試 測試儀器雙直流穩(wěn)壓電源HH1713數(shù)字示波器DS510ZC偉福編譯器+S51+七位半數(shù)字仿真器5000 DMM/SCANNER四位半數(shù)字仿真器GDM8145信號源SG1641AK1K2VLO(V)VIO(mV)閉合斷開閉合閉合 K1K2VLO(V)VL1VIOIIO閉合斷開閉合閉合斷開斷開斷開閉合參考文獻[1]潘松, 黃繼業(yè)編著. 電子測量技術(shù)實用教程[M] 北京：科學出版社，2002.[2]徐志軍, 徐光輝編著. 模擬電路與數(shù)字設計[M] 北京：電子工業(yè)出版社，2002：58－77.[3]潘永雄，沙河，[M] 西安電子科技大學出版社，2001：17－49，81－85，187－194，204－256.[4]呂思忠, 施齊云. 數(shù)字電路實驗與課程設計[M] 哈爾濱：哈爾濱工程大學出版社，2001：17－47，200－211.[5]余家春. Protel 99 SE電路設計實用教程 [M] 北京：中國鐵道出版社，2003.[6]田良，王堯，黃正瑾，陳建元，[M] 東南大學出版社，：103－115，269－272.[7]實驗測試（第二版）[M] 華中理工大學出版社，：247－252，380－388.[8] 2000和WPS 2000文學處理好幫手[M] 電子科技大學出版社，：30－32，42－48.[9]張後，（修訂版） [M]西安電子科技大學出版社，：11－34.[10]王松武，于鑫，[M] 國防工業(yè)出版社，：7－11，165－185.[11]包明，趙明富，[M] 北京航空航天大學出版社，：45－50，57－67.[12][M] 機械工業(yè)出版社，：1－22，102－125.[13]盧毅、賴杰 編著. ：科學出版社,2001.附錄:
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