【正文】 和電位差,特別適用于有多根屏蔽電纜配置的耦合方式和試驗配置說明：LT必需測試的信號接口線LN不必測試的信號接口線IW注入線注：這種配置也適用于直流供電的受試設(shè)備；實驗配置特性（AE應(yīng)該連接到地）；信號發(fā)生器置于EUT附近；信號發(fā)生器的共模輸出連接到EUT上；信號發(fā)生器的輸出脈沖經(jīng)過最靠近EUT和AE之間的接口電纜的絕緣注入線注入到AE，絕緣注入線的跨接部分不是很關(guān)鍵；ILT≈I和ILN＜＜I大的注入電流將經(jīng)過受試電纜的屏蔽層（相同的影響）；應(yīng)根據(jù)安裝需要選擇電纜長度，該長度最長20m。受試電纜應(yīng)離接地參考平板或屏蔽室的墻至少1m。為了防止構(gòu)成電流回路。施加電位差的試驗配置 在系統(tǒng)電平測試中，如必須施加電位差來模擬系統(tǒng)內(nèi)部暴露的導(dǎo)電部位和底座間可能出現(xiàn)的電壓，如漏電流，缺陷或放電，則對使用屏蔽線帶得系統(tǒng)可按圖16進(jìn)行試驗，對非屏蔽線或屏蔽線僅在一端接地的系統(tǒng)按圖17進(jìn)行試驗。EUT工作狀態(tài) 試驗時的工作狀態(tài)和安裝情況應(yīng)與產(chǎn)品技術(shù)要求一致，應(yīng)包括兩個方面： —試驗布置（硬件）； —試驗程序（軟件）。6試驗程序?qū)嶒炇覅⒖紬l件 為了使環(huán)境參數(shù)對試驗結(jié)果的影響減至最小。 除非通用標(biāo)準(zhǔn)，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)有特別規(guī)定，實驗室的氣候條件應(yīng)該在EUT和試驗儀器各自的制造商規(guī)定的儀器正常工作的一切范圍內(nèi)。 如果相對濕度很高,以至于在EUT和試驗儀器上產(chǎn)生凝露，則不應(yīng)進(jìn)行試驗。 實驗室的電磁環(huán)境不應(yīng)影響試驗結(jié)果。 試驗之前，應(yīng)對信號發(fā)生器和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行校驗。性能檢查對于浪涌脈沖及其電壓和/或電流的存在通常是有限的。 試驗應(yīng)根據(jù)試驗方案進(jìn)行，方案中應(yīng)規(guī)定試驗配置，應(yīng)包含如下內(nèi)容： —試驗等級（電壓）； —浪涌次數(shù)； 除非相關(guān)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定，施加在直流電源端和互連線上的浪涌脈沖次數(shù)應(yīng)為正負(fù)極性各五次，對交流電源端口，應(yīng)分別在0176。、90176。、180176。、270176。相位施加正負(fù)極性各五次的浪涌脈沖； —連續(xù)脈沖間的時間間隔：1分鐘或更短； —EUT的典型工作狀態(tài)； —浪涌施加的位置。 電源端口（直流或交流）可能是輸入或輸出端口。注：推薦將浪涌施加于那些容易將浪涌傳導(dǎo)入EUT內(nèi)部的輸出端口（如：具有大功率損耗的開關(guān)負(fù)載）。如次級電路（與交流電源端口隔離）不會直接遭受瞬態(tài)高壓時（例如:可靠接地、經(jīng)過電容濾波的直流次級電路，峰峰值的紋波不及支流元件產(chǎn)生的10％）則低電壓(小于等于60V)的直流輸入/輸出端可不進(jìn)行浪涌試驗。在有幾個相同線路的情況下，只需選擇一定數(shù)量的線路進(jìn)行典型測量。如果試驗中浪涌的重復(fù)率比1/min更短使EUT發(fā)生故障，而以1/min重復(fù)率進(jìn)行測試時，EUT工作正常，通常使用1/min的重復(fù)率進(jìn)行測試注2如果產(chǎn)品合適，產(chǎn)品委員會可能選擇不同相位角、或者增加、減少每相的浪涌次數(shù)。注3對常用的浪涌保護(hù)裝置，盡管它們的峰值電壓和峰值功率能經(jīng)受大電流，但是它們的平均功率較低。因此，兩次浪涌的時間間隔取決于EUT內(nèi)置的保護(hù)裝置。當(dāng)進(jìn)行線地測試時，如果沒有其它規(guī)定，應(yīng)依次進(jìn)行測試。試驗程序應(yīng)考慮受試設(shè)備的非線性電流電壓特性，因此，試驗電壓只能由低等級逐步增加到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或試驗方案/報告中規(guī)定的試驗等級而不能超過它，所有較低等級（包括選擇的試驗等級）均應(yīng)滿足要求。對第二級保護(hù)試驗時，信號發(fā)生器的輸出電壓應(yīng)增加到第一級保護(hù)的最低電壓擊穿值（讓通值）。如果沒有實際工作信號源提供給EUT，可以對其模擬。對于驗收試驗，應(yīng)使用以前未曾加過浪涌的設(shè)備，否則在試驗前應(yīng)替換保護(hù)裝置。試驗結(jié)果的評估 試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備在試驗中的功能喪失或性能降低現(xiàn)象進(jìn)行分類，相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或需要方確定，或由產(chǎn)品的制造商和購買方雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類： a)在制造商、委托方或購買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常； b)功能或性能暫時喪失或降低，但在騷擾停止后能自行恢復(fù)，不需要操作者干預(yù)； c)功能或性能暫時喪失或降低，但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù)； d)因設(shè)備硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。 由制造商提出的技術(shù)規(guī)范可以規(guī)定對EUT產(chǎn)生的某些影響是不重要的，因而是可接受的試驗影響。在沒有合適的通用、產(chǎn)品或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)時，這種分類可以由負(fù)責(zé)相應(yīng)產(chǎn)品的通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會用于作為明確表達(dá)功能準(zhǔn)則的指南，或作為制造商和購買方協(xié)商的性能規(guī)范的框架。、舊版標(biāo)準(zhǔn)的主要區(qū)別與GB/T：1)增加了新的定義。2)增加了開路電壓波10/700us的電流波形（5/320us）。3)在耦合/去耦合網(wǎng)絡(luò)EUT端口，也規(guī)定了電壓/電流波形要求。4)新增了耦合/去耦合網(wǎng)絡(luò)選用的流程圖。5)增加了用于高速通信線的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)和高速通信線的試驗要求。6)對于一端接地的屏蔽線的測試，取消了對地電容的要求。7)新增了在具有多根屏蔽電纜時，對單根屏蔽電纜進(jìn)行測試的替代耦合方法。8)浪涌重復(fù)率改為至少每分鐘一次。9)修改了對試驗結(jié)果的評價。10)對試驗報告給出了詳細(xì)的規(guī)定。11)12)增加了附錄B中有關(guān)系統(tǒng)級抗擾度的描述。13)增加了附錄C。其中前一種情況稱為直接放電(直接對設(shè)備放電)。后一種情況稱為間接放電(通過對鄰近物體的放電,間接構(gòu)成對設(shè)備工作的影響).靜電放電可能造成的后果是:⑴通過直接放電,引起設(shè)備中半導(dǎo)體器件的損壞,從而造成設(shè)備的永久性失效.⑵由放電(可能是直接放電,也可能是間接放電)而引起的近場電磁場變化,造成設(shè)備的誤動作.歡迎您的光臨，！希望您提出您寶貴的意見，你的意見是我進(jìn)步的動力。贈語； 如果我們做與不做都會有人笑，如果做不好與做得好還會有人笑，那么我們索性就做得更好，來給人笑吧！ 現(xiàn)在你不玩命的學(xué)，以后命玩你。我不知道年少輕狂，我只知道勝者為王。不要做金錢、權(quán)利的奴隸；應(yīng)學(xué)會做“金錢、權(quán)利”的主人。什么時候離光明最近？那就是你覺得黑暗太黑的時候。最值得欣賞的風(fēng)景，是自己奮斗的足跡。壓力不是有人比你努力，而是那些比你牛幾倍的人依然比你努力。學(xué)習(xí)資