基于ds18b20的數(shù)字溫度計(jì)設(shè)計(jì)-資料下載頁
2025-01-16 13:27本頁面
【正文】 00。 將讀出的溫度數(shù)據(jù)保存到35H/36H，此時A的值為0111_1100,7CH LCALL CHECK SETB FLAG2 RET。************寫DS18B20的子程序(有具體的時序要求)***********WRITE_1820: MOV R2,8。一共8位數(shù)據(jù),循環(huán)右移，C的值賦給總線 CLR CWR1: CLR 。拉低總線 MOV R3,6 DJNZ R3,$ RRC A 。帶上進(jìn)位C循環(huán)右移,A=0CCH(跳過ROM匹配)，A=44H（溫度轉(zhuǎn)換）。A=0BEH（讀溫度請求） MOV ,C 。右循環(huán)將控制字從低位依次通過C賦給總線 MOV R3,23 DJNZ R3,$ SETB 。重新老高總線 NOP DJNZ R2,WR1 。循環(huán)，將8位控制字通過總線寫給設(shè)備 SETB 。拉高總線RET。 ***讀DS18B20的程序,從DS18B20中讀出兩個字節(jié)的溫度數(shù)據(jù)*********READ_18200: MOV R4,2 。 將溫度高位和低位從DS18B20中讀出 MOV R1,20H 。 先低位存入20H(TEMPER_L),后高位存入21H(TEMPER_H)RE00: MOV R2,8。數(shù)據(jù)一共有8位RE01: CLR C SETB NOP NOP CLR NOP NOP NOP SETB 。總線先控制為101 MOV R3,9RE10: DJNZ R3,RE10。 R3的值先等待9時鐘 MOV C,。將總線值讀到C里，通過總線將8位數(shù)據(jù)通過C傳送到A里 MOV R3,23RE20: DJNZ R3,RE20。R3的值后等待23時鐘 RRC A 。A和C右循環(huán)8次,總線將8位數(shù)據(jù)通過C傳送到A里 DJNZ R2,RE01 MOV @R1,A 。先將讀到A的值（溫度值的低字節(jié)）存至20H INC R1 DJNZ R4,RE00。再將讀到A的值（溫度值的高字節(jié)）存至21HRET。 ********溫度讀取處理子程序*******************************CHECK: ANL 21H,00001111B MOV A,21H SWAP A MOV 21H,A ANL 20H,11110000B MOV A,20H SWAP A MOV 20H,A MOV A,21H ORL A,20H MOV 30H,A MOV A,30H。將30H中的十六進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換成10進(jìn)制 MOV B,10 。10進(jìn)制/10=10進(jìn)制 DIV AB 。十位在A,個位在BRET。 *****************數(shù)碼管顯示子程序**************DISPLAY: MOV DPTR,NUMTAB 。指定查表啟始地址 MOV R0,4DPL1:MOV R1,250 MOV R4,0FDH MOV R5,0FEH DPLOP: MOV A,R2 。取十位數(shù) MOVC A,@A+DPTR 。查十位數(shù)的7段代碼 MOV P0,A 。送出十位的7段代碼 SETB CLR MOV P0,R5。位選 SETB CLR ACALL D1MS 。顯示1MS MOV A,R3 。取個位數(shù) MOVC A,@A+DPTR 。查個位數(shù)的7段代碼 MOV P0,A 。送出個位的7段代碼 SETB CLR MOV P0,R4。位選 SETB CLR ACALL D1MS 。顯示1MS DJNZ R1,DPLOP DJNZ R0,DPL1 RET。1MS延時(按12MHZ算)D1MS: MOV R7,80DJNZ R7,$RET。****************實(shí)驗(yàn)板上的7段數(shù)碼管0～9數(shù)字顯示代碼NUMTAB: DB 3FH,06H,5BH,4FH,66H,6DH,7DH,07H,7FH,6FH。共陰極END（六）參考文獻(xiàn)[1] [M].北京：電子工業(yè)出版社，2008[2] [J].北華航天工業(yè)學(xué)院學(xué)報(bào)，2008[3]?。跩］.電工技術(shù)，1999[4] [J].微電子學(xué)，2007[5] （簡明修訂版）.杭州：北京航空航天大學(xué)出版社，1998[6] [J].湘潭師范學(xué)院學(xué)報(bào)，2008[7]?。郏停?北京：北京航空航天大學(xué)出版社，1994[8] [J]. 儀器儀表與檢測技術(shù)，200929
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