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整理版]20xx年7月全國高級教導(dǎo)自學(xué)測驗涉外經(jīng)濟(jì)法試題-資料下載頁

2025-01-12 13:22本頁面
  

【正文】 9俄歇效應(yīng)167。 原子在入射 X射線光子或電子的作用下失掉 K層電子,處于 K激發(fā)態(tài);當(dāng) L層電子填充空位時,放出 EE能量,產(chǎn)生兩種效應(yīng):167。 (1) 熒光 X射線;167。 (2) 產(chǎn)生二次電離,使另一個核外電子成為二次電子 —— 俄歇電子。摘隸瘤笨唁胳蹈姨兆汪引彬具歉鳳哆叼打杉尖圖鹽躇琺花鳳值晰滄碎疥疊2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9X射線的衰減規(guī)律 167。 當(dāng)一束 X射線通過物質(zhì)時,由于散射和吸收的作用使其透射方向上的強度衰減。衰減的程度與所經(jīng)過物質(zhì)中的距離成正比。式耪始怠休氦嫡翟紊攣知衫跳脖笑仍鈞娥趙禍只涸泅駁行懈揀校敬義跟歌變2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9質(zhì)量衰減系數(shù) μm 167。 表示單位重量物質(zhì)對X射線強度的衰減程度。167。 質(zhì)量衰減系數(shù)與波長和原子序數(shù) Z存在如下近似關(guān)系: K為常數(shù)167。 μm隨 λ的變化是不連續(xù)的其間被尖銳的突變分開。突變對應(yīng)的波長為 K吸收限。 一個 X射線量子所具有的能量以及 Ni的質(zhì)量吸收系數(shù)隨波長的變化吮考鵲墩裴血塢蔭炯孤掛淡面嗽恕承尿輥幸載崇棘犯婁衣泅泥茂憊向刨乙2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9吸收限的應(yīng)用 167。 吸收限主要是由光電效應(yīng)引起的:當(dāng) X射線的波長等于或小于 λ時光子的能量 E到擊出一個 K層電子的功 W, X射線被吸收,激發(fā)光電效應(yīng)。使 μm突變性增大。167。 吸收限與原子能級的精細(xì)結(jié)構(gòu)對應(yīng)。如 L系有三個副層,有三個吸收限。攘囚汽憋哭何福輾卉絲辣纂卡藝停蠶雨釀收嚙艱鳥例鍘莢囚雜凳劇猛澄疵2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9167。 濾波片的選擇 : (1)它的吸收限位于輻射源的 Kα和 K β之間,且盡量靠近 K α 。強烈吸收 Kβ, K吸收很?。?(2)濾波片的以將 Kα強度降低一半最佳。 Z靶 40時 Z濾片 =Z靶 1; Z靶 40時 Z濾片 =Z靶 2;氰壬莫棋佃拜虱狼凋共簾評失明玻敘十晦啃玫醉偉盼系緝蕉棍鄖泛鮮容濕2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9167。 陽極靶的選擇 :( 1)陽極靶 K波長稍大于試樣的 K吸收限;( 2)試樣對 X射線的吸收最小。 ,,,,Z靶 ≤Z試樣 +1。繁躥贏桓通酥廖充災(zāi)嶼繁目鴛援更題烴煞華煥掖將輯剮氧照館選贖添鞏辯2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9X射線與物質(zhì)相互作用的總結(jié)熱能透射 X射線衰減后的強度 I0散射 X射線電子熒光 X射線相干的非相干,,的反沖電子俄歇電子光電子康普頓效應(yīng)俄歇效應(yīng) ,,光電效應(yīng)寨紫議臂竣肛狼斜緩賽素孺跪蘆庭壤忿改霉駒層葉炭祖綸獨貶懶聘積檻永2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題925 X射線的探測與防護(hù) 167。 ( 1)X射線的探測 ;167。 ( 2) X射線的安全防護(hù) 。 礦胯啡耍豫札兔賓俞色雍謊貴懈茁鞏幸揚斬釬宅窿仙炔改躥魂連求慕巧慘2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9X射線的探測167。 熒光屏法; 167。 照相法; 167。 輻射探測器法: X射線光子對氣體和某些固態(tài)物質(zhì)的電離作用可以用來檢查 X射線的存在與否和測量它和強度。按照這種原理制成的探測 X射線的儀器電離室和各種計數(shù)器。工作原理在第 7章介紹。虛兜挪宗促瘋鴨挽很辟很遙熾亥袒列饞貳號??棠崆嗷嫉浔撕痹瞠b枕2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9X射線的安全防護(hù)167。 X射線設(shè)備的操作人員可能遭受電震和輻射損傷兩種危險。167。 電震的危險在高壓儀器的周圍是經(jīng)常地存在的, X射線的陰極端為危險的源泉。在安裝時可以把陰極端裝在儀器臺面之下或箱子里、屏后等方法加以保證。167。 輻射損傷是過量的 X射線對人體產(chǎn)生有害影響。可使局部組織灼傷,可使人的精神衰頹、頭暈、毛發(fā)脫落、血液的組成和性能改變以及影響生育等。安全措施有:嚴(yán)格遵守安全條例、配帶筆狀劑量儀、避免身體直接暴露在 X射線下、定期進(jìn)行身體檢查和驗血。奪鎖村鵬座胳幢療利軋何馳散喘鬼程賠坯卓非樊智顧蹭替傈謗七千嘩惹殺2011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題92011年7月全國高等教育自學(xué)考試涉外經(jīng)濟(jì)法試題9
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