【正文】 代入光電池的電流電壓方程，得開路電壓為： Voc＝ kT/q ln(IL/Is+1) ?如將 pn結(jié)短路（ V=0），因而 IF=0，這時所得的電流為短路電流 Isc 顯然，短路電流等于光生電流 Isc = IL 測試異常分析 Voc， Isc， FF在校準的時候出現(xiàn)異常的可能因素有哪些？ ● 可能原因： Voc： 1）實際溫度 2）溫度修正設(shè)置 Isc： 1）碎片掉在了 monitor cell上 2）在 monitor cell有灰塵 3）檢查 monitor cell有沒有被移動位置 FF： 1）探針壓偏位置 2）探針沒有被安裝好位置 3）測試電纜老化 4）標片被使用的次數(shù)太多，導致自然衰減 86 ● 測試機的哪些問題會導致在測試時，電池片的串聯(lián)電阻異常變大或者變小。 ● 博格：測試機的串聯(lián)電阻是在如下的 IV曲線上測試出來的。 ● 如圖：上面的一個圓點為 1000W/cm2的時候的最大功率點，下面的一個圓點為 500 W/cm2的時候的最大功率點。兩點相連后的斜率的倒數(shù)為串聯(lián)電阻 Rs。測試機上體現(xiàn)出來的串聯(lián)電阻異常，主要是因為測試信號中的傳導消耗，電磁 ● 干擾，電池片與探針壓的不牢造成的。 對于我們公司出現(xiàn)的部分測試機電阻異常主要是出于這三個原因。 ● 3）探針的非垂直下壓，通訊光纜，電纜的老化等。 87 ● 1） 電池片與探針壓的不牢，造成接觸電阻變大；但是我們控制探針接觸的設(shè)備參數(shù)已經(jīng)調(diào)整到最大。這主要是 BACCNI廠家為了防止過高的碎片量故意先前設(shè)置好的。這種狀況典型的表現(xiàn)就是 IV曲線出現(xiàn)了缺失。如左圖。 ● 2） 在兩個最大功率點附近出現(xiàn)了鋸齒形的曲線，主要是因為附近的電磁干擾所致。這種情況可以轉(zhuǎn)移靠近的電磁源來解決。 Line2之前就是這樣的狀況，功率點附近發(fā)生了鋸齒形，導致△ U變小， Rs也變小。在整理好測試機臺下的導線后，這個狀況解決。 Rs也趨于正常。 88 Rs偏高時絲網(wǎng)印刷處理流程 ● 在目今條件下，當 Rs（串聯(lián)電阻）與正常水平相比突然變大時，由于絲網(wǎng)印刷工序影響導致的可能性占有 50%左右，且對絲網(wǎng)印刷的控制是最簡便易行，最立竿見影的措施。 89 處理方法一 ● 1號機臺面襯紙的污染：及時觀察臺面有無污染，并及時用手（戴上干凈手套）將臺面拍打干凈，在運行過程切忌不戴手套或用沾有銀鋁漿或其他臟物的手套碰觸硅片或臺面，出現(xiàn)漏漿情況時及時更換襯紙，并用較薄膠帶粘住漏漿處（未影響印刷圖形）或及時更換網(wǎng)板（較嚴重漏漿或漏漿處在圖形上） ● 2號機臺面襯紙的污染：及時觀察臺面有無污染，并及時用手（戴上干凈手套）將臺面拍打干凈，在運行過程切忌不戴手套或用沾有銀鋁漿或其他臟物的手套碰觸硅片或臺面，出現(xiàn)漏漿情況時及時更換襯紙，并用較薄膠帶粘住漏漿處（未影響印刷圖形）或及時更換網(wǎng)板。（較嚴重漏漿或漏漿處在圖形上） 90 ● 3號機網(wǎng)板內(nèi)漿料太少，銀漿重量不足：印刷時刮刀前進時推進的漿料要在一指粗左右，否則要及時將刮刀范圍外的漿料刮到刮刀上或重新往網(wǎng)板內(nèi)添加漿料（漿料要先攪拌三分鐘左右） ● 銀漿污染： ?刮漿板刮完漿料后未及時擦干凈，導致有干漿料摻到網(wǎng)板中。 ?可能有鋁粉或灰塵等其他雜物混入網(wǎng)板中導致銀漿污染。 91 處理方法二 ● 當懷疑三號機銀漿污染的情況下可采取以下措施 92 漿料污染 更換網(wǎng)板中的漿料 更換新漿料 觀察 Rs變化 Rs降低 正常生產(chǎn) 更換網(wǎng)板 更換刮條 更換刮頭 更換刮刀 做好標記，保存以備后面研究 觀察 Rs變化 Rs降低 正常生產(chǎn) 無 效 無 效 查詢其余工序、查詢來料問題或在 PM時對絲網(wǎng)進行徹底清潔 分 選 ● 分選據(jù)測試結(jié)果由設(shè)定程序自動完成，根據(jù)電流，電壓，電池效率等因素被細分為各檔 ● 操作員工根據(jù)機器分檔結(jié)果，再對硅片表面顏色分選后，各檔每 72片進行包裝 電池車間的品質(zhì)主要分為 4個等級： ? Q1:硅片不存在任何瑕疵的產(chǎn)品 ? Q2:整個硅片片面完整 ,但表面存在些許缺陷 ,但不影響功能的產(chǎn)品 ? Q3:指硅片邊緣存在缺邊的狀況 ,但所缺部分須在規(guī)定的范圍內(nèi) ? Q4:破損后 ,可用膠帶粘貼 ,拼湊出比較完成的硅片 . 93 ● Q1的檢驗標準 :曲翹度 。 :紫藍 ,紅藍 :電池片上任何地方出現(xiàn)單色差 ,最大范圍是 10*10mm, 且顏色屬于以上顏色范圍 。 :漿料污點 ≤3個污點 ,總面積小于等于 178。 :掛鉤點應和主柵線平行 。 (手印 ,真空吸筆的痕跡 ): ,不會影響電池片的顏色效果 。 . : 。 電池片的邊緣 . ● Q1的檢驗標準 ,漏漿點 : ≤5個 ,且長度 ≤ 10mm,寬度 ≤。 . ,斷線 : ≤1mm。 ≤2mm,斷線總個數(shù) ≤細柵線總數(shù)的 1/5. : ,鋁背場偏移距離 1mm。 . : 電池片四周柵線與硅片邊緣的偏移量 . ? Q1的檢驗標準 : ≤?. : ≤ 10%電極面積 。 ≤1mm*10mm,或 2mm*5mm,這些區(qū) 域是連續(xù)的或分布式的 . : 1*3mm178。178。,這些區(qū)域是連接的或可分布 的 。 5mm范圍之內(nèi)沒有銀主電極缺失 。 : 5%。 ? Q1的檢驗標準 : ≤。 。 10個 。 ≤4mm178。 . : /缺角是不允許的 。 5mm之外 ,缺角長度 ,寬度。 2個缺角 ,但必須隔開 30mm. ,碎片 ,孔都是不允許的 。 : ● Q1的檢驗標準 : 5mm之外 ,崩邊長度 ≤5mm,寬度 ≤, 或長度 ≤,寬度 ≤1mm。 2處崩邊 ,但要間隔 30mm。 : 5mm之外崩邊長度 ≤5mm,寬度 ≤。 3處崩邊 ,但要間隔 30mm. ● Q2的檢驗標準 除 Q1外的完整電池片 。 ● Q3的檢驗標準 所有的主柵線必須完整 ,如果缺失在兩個主柵線之間 ,則缺失面 積不能超過完整電池片面積的 1/10 ● Q4的檢驗標準 單個電池片破裂后 ,破片不超過六塊 ,其中至少有一片的面積大 于完整電池片面積的 1/3. 建議 :以上諸多檢驗標準 ,有的可以進行簽樣 (sample),這樣有利于判定 標準的確立 ,新人學習時可以非常具體的看樣 ,不用抽象的想象