用orcad測量電子電路的常用方法-資料下載頁
2024-10-18 17:50本頁面
【正文】 度從 50C0變化到 +100 C0時 ，靜態(tài) VK值的變化曲線 。 分析步驟： ① 按照上述方法 ， 對電路進行 DC Sweep分析 。 在 DC Sweep設置對話框中選擇 Tempera變量類型 ， 掃描范圍為 50℃ 到 +100℃ ， 步長為 25℃ ， Linear掃描類型 。 ② 運行后 ， 選擇 V（ K） 作輸出變量 ， 即得到 V（ K） 與溫度的關系曲線 ， 如圖 3所示 。 可見當溫度從 50C0變化到+100 C0時 ， Vk的靜態(tài)值從 。 分析 （ 3） ：選 Rp=， 分析 Rp從 10k變化到 20k時 ， 電路的頻率特性 。 分析步驟： ① Vs選交流電壓源 ， 振幅 =10 mV。 ② 將 Rp設置成 {Rp}。 ③ 對電路同時進行交流分析和參數掃描分析 。 在參數分析對話框中將 “ 掃描變量 ” 選為 Rp， 變量的變化范圍定為 10k～ 20k， 步長為 2k。 ④ 運行 Pspice。 運行結束后屏幕上出現(xiàn)多批運行結果選擇框 ， 按 “ OK”按 。 ⑤ 在常規(guī)的 Probe窗口中選 V（ Vo） 作輸出變量 ， 可得到分析結果如圖 4所示 。 2． 用參數掃描 與其他分析方法相配合 圖 4的分析結果是當 Rp取上述規(guī)定的 6個值時的頻率特性 ， X軸變量是頻率 。 如果想得到頻帶寬度與 Rp的關系曲線或中頻放大倍數與 Rp的關系曲線 ， 即將 X軸變量變?yōu)?Rp， 可進行電路性能分析： ⑤ 作完步驟 ④ 后在 Probe窗口中執(zhí)行 Trace/Performance Analysis命令 ， 出現(xiàn)對話框后 ， 按 “ OK”按鈕 。 屏上出現(xiàn)電路性能分析窗口 （ 與 Probe窗口類似 ， X軸變?yōu)?Rp） ⑥ 在電路性能分析窗口中執(zhí)行 Trace/Add Trace命令 ， 調用特征函數 Bandwidth（ V（ VO） ， 3） ， 得到電路的 3dB帶寬與 Rp的關系曲線 如圖 5所示 。 ⑦ 調用特征函數 Max（ V（ Vo） /V（ Vin： +）） 得到電路的電壓放大倍數與 Rp的關系曲線 如圖 6所示 。 3． 用電路性能分析 （ Performance Analysis） 分析：將 Q1的模型參數 BF（ 即 β ） 設置成變量 ， 變化范圍定為50 ～ 200， 對電路同時進行交流分析 （ AC Sweep Analysis） 和參數掃描分析 （ Parametric Analysis） 。在 Probe窗口中執(zhí)行電路性能分析命令 ， 調用特征函數Max（ V（ Vo） /V（ Vin： +）） 得到電路的中頻電壓放大倍數與 β 的關系曲線 如圖 7所示 。 分析 （ 5） ：輸入為正弦信號時 ， 在輸出基本不失真的情況下輸入信號的最大幅度是多少 ？ 分析：將輸入正弦信號 Vs的振幅 Vamp設置成全局變量{ Vamp }， 同時進行 參數掃描分析 、 瞬態(tài)分析和 電路性能分析 ， 得到如圖 8所示的分析結果 ， 可見當 Vamp = ， Vo進入非線性區(qū) ， 此時 Vo=。 分析 （ 4） ：三極管 Q1的 β 變化對電路中頻增益的影響 。 結論： 通過以上例子可以看出 ， 用 OrCAD/PSpice9可以很方便地描繪出各種電路性能電路與元器件參數的關系曲 。 特別是它的電路性能分析具有很強的功能 ， 它能把電路中的各種參數設置成變量 ，并在分析結果中將該變量變換成 X軸變量加以顯示 ， 使其電路特性隨元器件參數變化的關系一目了然 。 所以它在電路設計特別是優(yōu)化設計中得到廣泛的應用 。 1 . 建一個 Word文件： （ 文件名用姓名 ） 將分析電路圖 、 分析類型 、 分析參數設置 、 分析結果 （ 包括各種波形圖及文本結果 ） 諸項存入 Word文件中 。 2. 完成后 ， 將 OrCAD文件 （ 同名的所有文件 ） 與 Word文件一同存入軟盤 ， 交上 。 3. 對分析電路的要求： 2021級電類專業(yè)的同學，可從 《 模擬電子技術基礎 》 教材中的練習題中選取，電路不要太簡單。 其他同學，可從 《 電子電路實驗與虛擬技術 》 教材中的 28個實驗項目中選取，必須自己完成。 分析項目（類型）應在 3項以上。 作業(yè)要求
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