【正文】 為溫度 30℃ , 試驗(yàn)時(shí)間 24Hrs(非操作條件 ). 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 依規(guī)格設(shè)定其溫度 ,然后啟動(dòng)溫控室 . (3). 試驗(yàn) 24Hrs, 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置 至少 4Hrs, 再將待測品做 HIPOT 測試 , 記錄測試結(jié)果 , 之后確認(rèn)待測品的外觀 , 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象 . (2). 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求 . 26. LOW TEMP. STARTING UP TEST / 低溫啟動(dòng)測試 一、目的 : 測試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對 . 的整機(jī)電氣的影響 , 用以考量 . 電氣及零件選用的合理性 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 三 . 測試條件 : 儲(chǔ)存低溫條件 : 通常為操作溫度 0℃ 條件下降低到 10 177。 2℃ , 儲(chǔ)存時(shí)間至少 4Hrs. 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 依規(guī)格設(shè)定其溫度 ,然后啟動(dòng)溫控室 . (3). 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少 4Hrs, 然后分別在 115Vac/60Hz amp。 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各 20 次 , 確認(rèn)待測品電氣性能是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后 ,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象 . (2). 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降 10度 . 27. TEMPERATURE CYCLING TEST / 溫度循環(huán)測試 一、目的 : 測試針對 . 所有組成零件的加速性測試 , 用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測試儀 。 三 . 測試條件 : 操作溫度條件 : 通常為低溫度 40 ℃ 、 25℃ 、 33℃ 和高溫度 66 ℃ (濕度 : 5090%), 試驗(yàn)至少 24個(gè)循環(huán) . 四、 測試方法 : (1). 試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率 , 輸出電壓及 HIPOT 狀況 . (2). 將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi) , 以無包裝 ,非操作狀態(tài)下 . (3). 設(shè)定溫度順序?yàn)?66177。 2 ℃ 保持 1小時(shí) , 33177。 2 ℃ 和濕度 90177。 2%保持 1小時(shí) , 40177。 2 ℃ 保持 1小時(shí) , 25177。 2 ℃ 和濕度 50177。 2%保持 30分鐘 ,為一個(gè)循環(huán) . (4). 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī) , 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形 , 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程 , (5). 試驗(yàn)完成后 , 溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機(jī)中移出 , 放置樣品在空氣中 4Hr 再確認(rèn)外觀 , 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象 . (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 . 28. THERMAL SHOCK TEST / 冷熱沖擊測試 一、目的 : 測試高 , 低溫度沖擊對 . 的影響 ,用來揭露各組成元件的弱點(diǎn) . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). TEMP. CHAMBER / 溫控室 。 (5). HIPOT TESTER / 高壓測試儀 。 三 . 測試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 儲(chǔ)存最高 (70℃ ), 低溫度 (30℃ ), 測試共 10 個(gè)循環(huán) , 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為 2min。 (2). 依客戶所提供的試驗(yàn)條件 . 四、 測試方法 : (1). 在溫控室內(nèi)待測品由常溫 25 ℃ 向低溫通常為 30 ℃ 轉(zhuǎn)變 ,并低溫烘烤 1Hr. (2). 溫控室由低溫 30 ℃ 向高溫通常為 70 ℃ 轉(zhuǎn)變 ,轉(zhuǎn)變時(shí)間為 2min., 并高溫烘烤 1Hr. (3). 在高溫 70 ℃ 和低溫 30 ℃ 之間循環(huán) 10 個(gè)周期后 , 溫度回到常溫將 . 取出 (至少恢復(fù) 4小時(shí) ). (4). 確認(rèn)待測品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級與退化現(xiàn)象 . (2). 經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求 . (3). 產(chǎn)品為非操作條件 . 29. HI POT TEST / 絕緣耐壓測試 一、目的 : 測試 . 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下 , 是否產(chǎn)生電弧 ARCING, 其 CUT OFF CURRENT 是否滿 足 SPEC. 要求 , 及是否會(huì)對 . 造成損傷 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測試儀 。 三 . 測試條件 : 依 SPEC. 要求 : 耐壓值 (4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間 (1 minute)和 CUT OFF CURRENT() 值 。 四、 測試方法 : (1). 依 SPEC. 設(shè)定好耐壓 WITHSTANDING VOLTAGE, 操作時(shí)間 TIME, CUT OFF CURRENT 值 . (2). 將待測品與耐壓測試儀依要求連接 , 進(jìn)行耐壓測試 , 觀察是否有產(chǎn)生電弧 ARCING, 及漏電流 CUT OFF CURRENT 是否過大 . (3). 耐壓測試后 , 確認(rèn)待測品輸入功率與輸出電壓是否正常 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試儀的測試條件 , 待測品的輸入與輸出分別應(yīng)與測試儀接觸良好 . (2). 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求 . 30. UNIT DROP TEST / 跌落測試 一、目的 : 了解 . 由一定高度 , 不同面進(jìn)行跌落 DROP, 其結(jié)構(gòu) , 電氣等特性的變化狀況 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測試儀 。 三 . 測試條件 : 依 SPEC. 要求 : 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面 . 四、 測試方法 : (1). 所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在 . (2). 確定六個(gè)面 (小 大 )順序依次進(jìn)行跌落 . (3). 使待測品由規(guī)定的高度及項(xiàng) (2) 所確定的測試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落 , 每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn) , 記錄正常或異常結(jié)果 . 五、注意事項(xiàng) : (1). 1000mm+10mm 是為滿足手捂式 ,拔插式 ,可攜帶式需求的設(shè)備測試 . (2). 跌落條件可參考安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求 . 待測品 剛硬的水平表面 31. INSULATION RESISTANCE TEST / 絕緣阻抗測試 一、目的 : 測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 (3). AC POWER METER / 功率表 。 (4). HIPOT TESTER / 高壓測試儀 。 三 . 測試條件 : (1). 依 SPEC. 要求 : 施加 500V直流電壓后進(jìn)行測試的絕緣阻抗值要高于 10MOhm(常規(guī)定義 ). 四、 測試方法 : (1). 確認(rèn)好電氣性能后 , 在絕緣阻抗測試儀中設(shè)定好施加的電壓 (500Vdc)和測試的時(shí)間 (1 Minute). (2). 將待測物輸入端和輸出端分別短路連接 , 然后分別連接測試儀對應(yīng)端進(jìn)行測試 . (3). 再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對應(yīng)端連接進(jìn)行測試 . (4). 確認(rèn)待測物的測試絕緣阻抗值是否高于 10MOhm. 五、注意事項(xiàng) : (1). 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義 . 32. RATED VOLTAGE OUTPUT CURRENT TEST / 額定電壓輸出電流測試 一、目的 : 測試 . 在 AC LINE 及 OUTPUT VOLT. 一定時(shí) , 其輸出電流值 . 二 . 使用儀器設(shè)備 : (1). AC SOURCE / 交流電源 。 (2). ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載 。 三 . 測試條件 : 四、 測試方法 : (1). 固定輸入電壓與頻率 ,依條件設(shè)定 CV 模式下的輸出電壓 . (2). 開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值 . (3). 切換輸入電壓與頻率 ,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值 . (4). 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值 . 五、注意事項(xiàng) : 記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定 . AC INPUT/輸入電壓 Freq./輸入頻率 OUTPUT VOLTAGE SETUP oC 90V / 115V / 132V 47Hz 63Hz Rated Volt./額定電壓 180 V / 230V / 264V Thank you 謝 謝 ！