絕緣的非破壞性試驗一-資料下載頁
2025-05-09 01:55本頁面
【正文】 x值： 西林電橋的基本回路 212211xxxxCCtgCtgCtg??? ??? 現(xiàn)場的試品： 難以實現(xiàn)屏蔽 ， 故干擾較嚴(yán)重 122xxxCCC ??倒相法原理 δ1? 2? 1xI?2xI?xI?iI?UC x ?1?UC x ?2? UC x?? U?（ 干 擾 電 流 ）2CCCx 2/)( ) 2/)(2/)(x2x12121221121221121212121????????????????故＝Ｕ又 UCUCCCCtgCtgCUCUCU t gCU t gCIIIIIIIIIItgxxxxxxxxxxxcCRRcCRRCRxxxx???????????????反接法 適用情況 ：金屬外殼直接放在底座上（絕大多數(shù)電氣設(shè)備） 問題 ：橋本體處于高電位，操作困難 對策 ：當(dāng)電橋電壓不高時（如≤10kV），可用絕緣材料做操作把手；當(dāng)電橋電壓較高時，操作者與橋本體在法拉第籠內(nèi) 五、影響準(zhǔn)確度的因素 溫度 一般隨溫度的升高而增大。故應(yīng) 換算到同一溫度值 （ 20℃ ） 電壓 試驗電壓所加電壓能 引起氣泡電離或局放 時， tgδ增大 。 試品電容量 ? 對 小容量試品 ，能 有效發(fā)現(xiàn) 局部集中性 缺陷和 整體分布性 缺陷。 ? 對 大容量試品 ，則 只能發(fā)現(xiàn) 整體分布式 缺陷。 試品 表面泄漏 應(yīng)進行相應(yīng)處理。將試品表面擦干凈，必要時加以屏蔽 )(12 12 TTetgtg ?? ??? 可以檢測的故障種類 ? 可檢測 （ 1） 受潮 （ 2） 穿透性 導(dǎo)電通道 （ 3） 絕緣內(nèi) 含氣泡的游離，絕緣分層、脫殼 （ 4）老化劣化，繞組上附積油泥 （ 5）絕緣油臟污，劣化等 ? 不可檢測 （ 1） 非穿透性 的局部損壞 （ 2） 很小部分 絕緣的老化劣化 （ 3） 個別 的絕緣弱點 絕緣由兩部分并聯(lián)組成（ 并聯(lián)模型 ） 變化不大。若，則若??????????????????tgtgCCtgtgtgtgCCtgCCtgtgCCCCCCtgCtgCtgtgCUtgCUtgCU0 0 5 *,%1 2121211221211212122112221122??????????????????絕緣由兩部分串聯(lián)組成（ 串聯(lián)模型 ） 變化也不大。若，則若??????????????????tgtgCCtgtgtgtgCCtgCCtgtgCCCCCCtgCtgCtgtgCUCCCtgCUCCCtgCU*,%1 )()( 2211212122112122121122222111122122????????????????????
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