【導讀】電子器件;可以使用實驗室儀器調試。模擬相應圖像,缺陷種類應至少包括點缺陷、線缺陷;完成圖像的分割、邊緣提取和目標提取等;完成圖像的特征提取和識別實現;給出相應程序,并給出每一步的仿真處理結果及分析。但在液晶顯示器的生產過程中,由于工藝及環(huán)境的原因可能導致液晶顯。示屏的顯示缺陷,包括點缺陷、線缺陷和面缺陷。而液晶顯示屏缺陷檢測作為生。產過程中的重要環(huán)節(jié),目前多采用人工檢測方法。人工檢測不僅存在主觀性、標。準難以統(tǒng)一等弱點,且占用大量人力、物力資源。因此,本課程設計主要基于數。的自動識別系統(tǒng)。的作用日益劇增?!爸鲃拥摹睂ζ聊簧系母鱾€獨立的象素進行控制,以達到成像目的一種終端顯示設備。顯示相應的顏色就能達到目的了。主要是單個TFT失效引起的,線缺陷則主要是由于驅動IC與屏連接不良所致。二維數組,這主要取決于圖像數字化設備的能力。圖像甚至天文望遠鏡圖像。這些來自不同信息源的圖像只要被變換為數字編碼形