北京航空航天大學現(xiàn)代遠程教育學院學歷教育學籍管理規(guī)(編輯修改稿)
2024-11-14 18:13 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 冶金原理，材料工程基礎 一．課程教學目標本課程是材料科學與工程系的一門必修的專業(yè)基礎課，目的在于培養(yǎng)學生掌握材料Ｘ射線衍射分析、電子顯微分析、差熱分析技術(DTA)、差示掃描量熱技術(DSC)、熱重分析技術(TG)、動態(tài)力學分析技術(DMA)、動態(tài)力學分析技術(DMA)以及紅外光譜(IR)和核磁共振波譜（NMR）所必需的基本理論、基本技能。通過學習本課程，學生應達到如下基本要求：了解Ｘ射線衍射、電子衍射和電子顯微分析在材料科學領域中所能解決的問題及基本原理和方法。讀懂一般專業(yè)文獻中有關Ｘ射線衍射、電子顯微分析的圖象和結論。能與從事Ｘ射線、電子衍射工作的專業(yè)人員共同制定在材料科學研究方面的實驗方案和分析實驗結果。為今后從事Ｘ射線、電子顯微分析工作打下初步基礎。了解差熱分析技術、差示掃描量熱技術、熱重分析技術、動態(tài)力學分析技術、動態(tài)力學分析技術、紅外光譜以及核磁共振波譜在材料科學領域中所能解決的問題及基本原理和方法。二．教學內(nèi)容及基本要求本課程主要介紹Ｘ射線晶體結構分析方法、物相定性和定量分析的方法、內(nèi)應力的測定方法；電子衍射花樣的分析及透射電鏡、掃描電鏡、電子探針、俄歇電子能譜儀的結構原理及分析方法；差熱分析技術、差示掃描量熱技術、熱重分析技術、動態(tài)力學分析技術、動態(tài)力學分析技術、紅外光譜以及核磁共振波譜的基本原理和方法。電子及Ｘ射線的性質(zhì)(2學時)晶體的衍射效應及衍射幾何(5學時) 可見光的光柵衍射現(xiàn)象 Ｘ射線衍射的基本理論（勞埃方程、布拉格方程、倒易點陣、衍射矢量方程及愛瓦爾德圖解） 薄晶體的電子衍射（單晶體、多晶體電子衍射花樣）Ｘ射線和電子衍射的強度(4學時) 一個電子對Ｘ射線的散射 一個原子對Ｘ射線的散射 一個晶胞對Ｘ射線的散射 結構因素或結構振幅的計算 一個小晶體的衍射 粉末衍射的積分強度Ｘ射線衍射分析設備(2學時) Ｘ射線晶體分析儀 Ｘ射線衍射儀 Ｘ射線設備的新進展電子顯微鏡(4學時) 電子光學基礎 透射電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡 試樣制備 電子顯微鏡的新發(fā)展多晶體Ｘ射線衍射和單晶體電子衍射花樣指數(shù)標定(4學時) Ｘ射線粉末衍射花樣指數(shù)標定和晶體結構測定原理 電子衍射與電子衍射儀 電子顯微鏡中的電子衍射 單晶體和多晶體電子衍射花樣指數(shù)標定物相分析(4學時) Ｘ射線物相定性分析 Ｘ射線物定量分析內(nèi)應力的測定(3學時) Ｘ射線法測定宏觀內(nèi)應力的原理 測量方法及測量技術掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡成像原理(4學時) 掃描電子顯微鏡成像原理（二次電子像、背散射電子像、吸收電子像） 透射電子顯微鏡成像原理（復型像、衍射襯度像）材料化學成分的物理分析方法(4學時) 電子探針Ｘ射線顯微分析 俄歇電子能譜分析1差熱分析技術(DTA)(3學時) 差熱分析技術的發(fā)展簡史 差熱分析技術的測試原理 差熱分析技術的結構組成和影響DTA曲線的因素 差熱分析技術的一般應用1差示掃描量熱技術(DSC)(3學時) 差示掃描量熱技術簡況 差示掃描量熱技術的測試原理 差示掃描量熱技術結構組成及其能量和溫度的校正 差示掃描量熱技術的應用1熱重分析技術(TG)(3學時) 熱重分析技術概況 熱重分析技術的測試原理與結構組成 熱重曲線的影響因素與誤差來源 熱重分析技術的應用1動態(tài)力學分析技術(DMA)(3學時) 動態(tài)力學分析技術概述 動態(tài)力學分析技術的基本原理 幾種常用的測試方法和儀器 動態(tài)力學分析技術的應用1紅外光譜(IR)(4學時) 概述 紅外吸收光譜的基本原理 紅外光譜圖譜解析方法 紅外光譜的應用1核磁共振波譜（NMR）（2學時） 基本原理 化學位移及其影響因素 圖譜解析 應用 三．教學安排及方式本課程的理論課為54學時，實驗課為16學時。本課程課內(nèi)外學時比例為1：1。本課程共開設9個實驗，一次觀看錄象。實驗課： 共15學時介紹X射線分析儀及德拜相分析(2學時)X射線物相定性分析(2學時)X射線物相定量分析(2學時)掃描電鏡與掃描圖象觀察()能譜儀結構原理及應用()差熱分析技術(1學時)差示掃描量熱技術(1學時)熱重分析技術(2學時)動態(tài)力學分析技術(2學時)看錄象： 電鏡樣品的制備(1學時)作業(yè)：第一章到第四章為本課程的基本理論部分，因此每章后留若干道課外作業(yè)，以便加深學生理解。四
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