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正文內(nèi)容

電子設(shè)計(jì)競賽報(bào)告要求(編輯修改稿)

2024-10-23 23:24 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 算對(duì)不同的賽題要求不同,如控制類賽題通常需要作為一個(gè)章節(jié)來寫,有些賽題如“寬帶DC放大器”也可以放在系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)或者是單元電路設(shè)計(jì)與計(jì)算中。在單元電路設(shè)計(jì)與計(jì)算中不需要進(jìn)行多個(gè)方案的比較與選擇,只需要對(duì)已確定的各單元電路的工作原理進(jìn)行介紹,對(duì)各單元電路進(jìn)行分析和設(shè)計(jì),并對(duì)電路中的有關(guān)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算及元器件的選擇等。應(yīng)注意的是:在單元電路設(shè)計(jì)中,理論的分析和計(jì)算是必不可少的。在理論分析和計(jì)算時(shí),要注意公式的完整性,參數(shù)和單位的匹配,計(jì)算的正確性。在許多競賽作品中,會(huì)使用到單片機(jī)、FPGA、ARM、DSP等需要編程的器件,程序設(shè)計(jì)是作品的重要組成部分。應(yīng)注意介紹程序設(shè)計(jì)的平臺(tái)、開發(fā)工具和實(shí)現(xiàn)方法,應(yīng)詳細(xì)地介紹程序的流程方框圖、實(shí)現(xiàn)的功能以及程序清單等。通常在正文部分僅介紹程序的流程方框圖和實(shí)現(xiàn)的功能,程序清單通常在附錄中列出。5.系統(tǒng)測(cè)試 系統(tǒng)測(cè)試包括測(cè)試方案與測(cè)試結(jié)果,包含有測(cè)試設(shè)備、功能測(cè)試、性能測(cè)試、整機(jī)測(cè)試的測(cè)試方法與測(cè)試數(shù)據(jù),以及數(shù)據(jù)的分析與處理(包括誤差分析與改善措施等)。應(yīng)詳細(xì)介紹系統(tǒng)的性能指標(biāo)或功能的測(cè)試方法、步驟,所用儀器設(shè)備名稱、型號(hào),測(cè)試記錄的數(shù)據(jù)和繪制圖表、曲線。應(yīng)注意的是:要根據(jù)競賽題目的技術(shù)要求和所制作的作品,正確的選擇測(cè)試儀器儀表和測(cè)試方法。例如:作品是一個(gè)采用高頻開關(guān)電源方式的數(shù)控電源,如果選擇的示波器是低頻示波器,所測(cè)試的一些參數(shù)是會(huì)有問題的。應(yīng)對(duì)作品的測(cè)試的結(jié)果和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和計(jì)算,這些測(cè)試結(jié)果是對(duì)作品的最好表述;也可以利用MATLAB等軟件工具制作一些圖表,對(duì)利用各種儀器設(shè)備獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)以及得到各種圖譜要進(jìn)行分析解讀,例如指出產(chǎn)生誤差的原因等。在電子設(shè)計(jì)競賽的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告中的結(jié)論部分,必須對(duì)整個(gè)作品作一個(gè)完整的、結(jié)論性評(píng)價(jià),也就是說要有一個(gè)結(jié)論性的意見。但也可以在結(jié)論中,報(bào)道在作品設(shè)計(jì)與制作過程中的經(jīng)驗(yàn)或教訓(xùn)以及不足,指出需要加以改進(jìn)的地方,提出建議及研究設(shè)想。應(yīng)注意的是:結(jié)論的內(nèi)容與摘要有很多相似之處,一是文字表述不要完全重復(fù)雷同,二是注意不要前后矛盾,特別是一些數(shù)據(jù)和結(jié)果。在設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告中,參考文獻(xiàn)是必不可少的組成部分,其要求與科技論文中對(duì)參考文獻(xiàn)的要求是完全相同的。參考文獻(xiàn)部分應(yīng)列出在設(shè)計(jì)過程中參考的主要書籍、刊物、雜志等。常見的參考文獻(xiàn)的格式如下:(1)雜志[1] 倪巍,[J].復(fù)旦學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版).2004年2月第43卷第1期,P72P76[2] 王文峰,耿力,基于射頻識(shí)別的實(shí)時(shí)定位系統(tǒng)技術(shù)研究[J].集成電路,2007年第7期,P21~P24(2)圖書[1] (第2版)[M].北京:北京航空航天大學(xué)出版社,[2] (第2版)[M].北京:北京航空航天大學(xué)出版社,(3)網(wǎng)絡(luò)電子文獻(xiàn)[1] Texas Instruments (SoC)with MC
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