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正文內(nèi)容

spc培訓(xùn)教材--慧質(zhì)藍(lán)欣(編輯修改稿)

2025-03-13 12:54 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 60。R=MAXMIN平均數(shù) (Mean,但通常用 Xbar或 X表示 ):把一組數(shù)據(jù)全部相加 ,再除 以該組數(shù)據(jù)的個數(shù) .X=(X1+X2+…… Xn)/n中位數(shù) (Median,通常用 M表示 ):把一組數(shù)據(jù)先按大小順序排列起來 ,然后取最中位的一位 ,如若該組數(shù)據(jù)為奇數(shù) ,則取最中間一位 ,如若該組數(shù)據(jù)為偶數(shù) ,則取中間兩位的其中一位X(I+1)/2(I為奇數(shù)時 )M=或Xi/2或 (I/2+1)(I為偶數(shù)時 )1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇方差 (σ2,有時也用 S來表示 ):由該組數(shù)據(jù)中每個數(shù)據(jù)減實際平均數(shù)平方的和再除以該數(shù)組數(shù)據(jù)的個數(shù) (n).∑(Xi- Xbar)2σ2= = Sn1注 : 有些書上可能是除以 n(是樣本數(shù)達(dá) 50以下時 )標(biāo)準(zhǔn)差 (σ ,有時也用 s表示 ): 可直接由方差開平方得來1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇有兩種名稱都標(biāo)準(zhǔn)差概念 ,一個是規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)差 (用 σs表示 ),另一個是製程標(biāo)準(zhǔn)差 (用 σa表示也就是用前面公式計算出來的 ),σa是統(tǒng)計上的標(biāo)準(zhǔn)差概念 ,即是按上述公式計算出來的σs是為了在品管中有一個相對比較值而引進(jìn)的 ,計算方法是σs=(USLLSL)/61.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇管製中心線 (Center Line): 即實際數(shù)據(jù)的平均值 (即 Xbar)CL=Xbar管製上限 (UpperControlLevel,縮寫為 UCL):由 Xbar加上三倍的標(biāo)準(zhǔn)差UCL=Xbar+3σ=CL+3σ.管製下限 (LowControlLevel,縮寫為 LCL):由 Xbar減去三倍的標(biāo)準(zhǔn)差 .LCL=Xbar3σ=CL- 3σ1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇LCL UCLCLSLLSL USLSLLSL USLLCL UCLCL3σ6σ1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇Ca — 準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度Capacity of Accuracy等級 Ca 值A(chǔ)BCD| Ca| ≦ %%<| Ca| ≦ 25%25%<| Ca| ≦ 50%50%<| Ca|Ca=k= |(USL+LSL)/2Xbar|(USLLSL)/2等級評定後之處置原則 (Ca等級之處置 )A級 :作業(yè)員遵守作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作 ,並達(dá)到規(guī)格之要求 ,須繼續(xù)維持。B級 :有必要可能將其改進(jìn)為 A級。C級 :作業(yè)員可能看錯規(guī)格 ,不按作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。D級 :應(yīng)採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因,必要時得停止生產(chǎn)。以上僅是些基本原則,在一般應(yīng)用上 Ca如果不良時, 其對策方法是 製造單位為主,技術(shù)單位製造單位為主,技術(shù)單位副,品管單位為輔副,品管單位為輔單邊規(guī)格沒有 Ca1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇Cp— 精密度精密度 表示製程特性的一致性程度 ,值越大越集中 ,越小越分散 Capacity of precision規(guī)格上下限距離除以 6倍的標(biāo)準(zhǔn)差 .Cp=(USLLSL)/6σa=(USLLSL)/(UCLLCL)=(USLSL)/(UCLCL)=(SLLSL)/(CLLCL)SLLSL USLLCL UCLCLCp=(USLCL)/3σa=CpUSL USLLCL UCLCL1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇等級評定後之處置原則 (Cp等級之處置 )A級 :此一製程甚為穩(wěn)定,可以將規(guī)格容差縮小或勝任更精密之工作。B級 :有發(fā)生不品之危險,必須加以注意,並設(shè)法維持不要使其變壞及迅速追查。C級 :檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可能本製程不能勝任如此精密之工作。D級 :應(yīng)採取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時應(yīng)停止生產(chǎn)。以上也是與 Ca一樣,僅是一些基本原則,在一般上 Cp如果不良時, 其對策方法是 技術(shù)單位為主,技術(shù)單位為主,製造單位為副,品管單位為輔製造單位為副,品管單位為輔 。等級 Cp 值A(chǔ)BCD ≦ Cp ≦ Cp < ≦ Cp < Cp < Cp=(CLLSL)/3σa=CpLSLLSL USLLCL UCLCL1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇製程能力指數(shù) (Cpk):Cpk=(1Ca)*CpCPK=CPU=CpCPK=CPL=Cp1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇百萬分之不良 PPM:有些地方叫 DPPM,它是一人概率的概念 PPM計算 :不良數(shù)PPM=╳1000000抽樣數(shù) PPM計算動態(tài) :PPM=Max{Φ[ (LSLXbar)/σ+ ]+Φ[ (USLXbar)/σ+ ], Φ[ (LSLXbar)/ ]+Φ[ (USLXbar)/ ]}靜態(tài) :PPM=Φ[ (LSLXbar)/σ ]+Φ[ (USLXbar)/σ ]1.SPC的品質(zhì)指標(biāo)技術(shù)篇產(chǎn)品綜合製程指數(shù) Z :Z=各管製性中最小 CPK值 ,不會影響功能 :Z=各管製性的 CPK值平均值 :Z=各管製性中最大 CPK值 ,且因功能影響 ,重要程度不同 :管製特 1*權(quán)重 1+管製特性 2*權(quán)重 2+……Z=權(quán)重 1+權(quán)重 2+……2.SPC的架構(gòu)技術(shù)篇基本資料設(shè)定建立計數(shù)值數(shù)據(jù)輸入計量值數(shù)據(jù)輸入普通管製分析PPM/不良推移單品質(zhì)特性圖多品質(zhì)特性圖產(chǎn)品資料設(shè)定產(chǎn)品類別設(shè)定缺點(diǎn)類別設(shè)定缺點(diǎn)代碼設(shè)定檢驗作站設(shè)定連接儀器設(shè)定層別條件設(shè)定量測單位設(shè)定表尾資料設(shè)定PChartNPChartCChartUChart柏拉圖不良率推移圖PPM推移圖XbarRchartXbarSchartXRmchartMedianRchartHistogramchartσSChartσaChartCPK推移圖製程能力分析圖製程建議分析多品質(zhì)特性圖3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖PCHART的中文概念就是指不良率管製圖 ,它是利用管製圖的原理 ,對在製程中產(chǎn)品不良率進(jìn)行管製。是 SPC中計數(shù)值最常用和最主要的分析圖形之一 ,也是品質(zhì)管理中最基本的工具 ,它具有以下特點(diǎn)與功能 :1.(1).掌握某產(chǎn)品或類別或生產(chǎn)線等取樣母體的不良率狀況 ,了解本系統(tǒng)中在正常狀況下的不良狀況 ,有助于做成本分析。(2).對于突發(fā)件 (特殊原因 )影響程度及時了解。(3).便于預(yù)測下一階段的不良率。 各組檢驗數(shù)相同各組檢驗數(shù)不相同各組檢驗數(shù)相差不大各組檢驗數(shù)相差較大PCHARTP注: (1).上述各圖形的管製界限計算不同(2).並存在以每筆為一點(diǎn)和每天為一點(diǎn)的算法3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖 製作CL=Pbar=(不良總數(shù) /抽樣總數(shù) )╳100%UCL= Pbar+ 3δ=Pbar+ 3╳Pbar╳(1Pbar)/ni(組抽樣數(shù) )= Pbar+ 3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )LCL= Pbar3δ= Pbar3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )=Pbar3╳Pbar╳(1Pbar)/ni(組抽樣數(shù) )CL=Pbar=(不良總數(shù) /抽樣總數(shù) )╳100%UCL= Pbar+ 3╳  Pbar╳(1Pbar)/n1(第 1組樣本數(shù) )LCL= Pbar3╳  Pbar╳(1Pbar)/n1(第 1組樣本數(shù) )注 :管製下限算出為 0點(diǎn)默認(rèn)為 03.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖 製作 有超過 20%CL=Pbar=(不良總數(shù) /抽樣總數(shù) )╳100%UCLi= Pbar+ 3╳  Pbar╳(1Pbar)/ni(第 i組樣本數(shù) )LCLi= Pbar3╳  Pbar╳(1Pbar)/ni(第 i組樣本數(shù) )3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良率管製圖 應(yīng)用(1).往上跑要立即找出原因(2).至少是每 2個數(shù)據(jù)點(diǎn)必須有 QE看一次(3).根擾管製圖判讀規(guī)則 ,有符合判讀標(biāo)準(zhǔn)時要每進(jìn)一點(diǎn)數(shù)據(jù) ,就必須分析一次(4).不能在管製圖上加目標(biāo)線 ,否則不倫不類(5).注意數(shù)據(jù)在各種層別條件下分析3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 不良數(shù)管製圖應(yīng)用要求為檢驗數(shù)最好相同 ,或者只考核不良數(shù)的應(yīng)用。如檢驗數(shù)不同 ,則建議不用此管製圖 ,因為通常不良數(shù)管製圖是不良率管製圖的一個補(bǔ)充。通常在製程中有以一幾種狀況使用不良數(shù)管製圖比較多 :(1).在自動化程度較高 ,人為因素相對較少 ,對不良分析是以計時的 (此時也可以用不良率管製圖 )(2).當(dāng)不良相對較低時,用PPM不良率分析又較難時 (3).當(dāng)批量相對較低,用不良率難以分析 (4).各批檢驗數(shù)相同,也可用不良數(shù)管製圖 CL=Pbar=不良總數(shù) /抽樣次數(shù) UCL= Pbar+ 3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )LCL= Pbar3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )例 :NP 其它內(nèi)容似 PChart3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用技術(shù)篇 Chart 單位缺陷數(shù)管製圖U圖是用平均缺點(diǎn)數(shù)來做的一種管製圖 ,它是對不良率管製圖的一種互補(bǔ) U圖存在有檢驗數(shù)相同和不同這兩種狀況 :檢驗數(shù)相同時CL=Pbar=缺陷總數(shù) /總抽樣數(shù) UCL= Pbar+ 3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )LCL= Pbar3╳  Σ(Pi- Pbar)2/ n(組數(shù) )例 :NP 其它內(nèi)容似 PChartCL=Pbar=(不良總數(shù) /抽樣總數(shù) )╳100%UCLi= Pbar+ 3╳  Pbar╳(1Pbar)/ni(第 i組樣本數(shù) )LCLi= Pbar3╳  Pbar╳(1Pbar)/ni(第 i組樣本數(shù) )檢驗數(shù)不相同時3.計數(shù)值圖形製作及應(yīng)用
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