spect驗收測試與質量控制(編輯修改稿)
2025-03-10 15:02 本頁面
【文章內容簡介】 ，使用儀器所提供的探頭能量、線性和均勻性校正技術。探頭卸下準直器，裝上 UFOV鉛環(huán)，SLIT鉛柵模型置于探頭表面，盡可能緊貼晶體。99mTc點源，計數(shù)率不超過 20kcps。測試要分別在探頭的 X和 Y方向進行。 （二）測試步驟 點源置于探頭中心正前方，與探頭面的距離至少為該探頭 UFOV最大直線長度的 5倍。采集 3000K計數(shù) SLIT柵模型圖像，圖像存儲在 256 256以上矩陣中。 （三）計算和分析 仔細觀察探頭視野范圍內 SLIT鉛柵模型圖像的線條有無明顯彎曲及彎曲程度。 （四）結果報告 探頭視野范圍內 X和 Y方向上 SLIT鉛柵模型圖像的線性情況 五、探頭固有能量分辨率 （一）測試條件及設備 20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性和均勻性校正技術。探頭卸下準直器，裝上 UFOV鉛環(huán)。99mTc點源，計數(shù)率不超過 20kcps。 57Co點源作為參考源，強度與 99mTc點源相近。要求被測試的 γ相機或SPECT具有多道分析器，能夠存儲核素能譜。 （二）測試步驟 點源置于探頭中心正前方，與探頭面的距離至少為該探頭 UFOV最大直線長度的 5倍。分別存儲 99mTc和 57Co的 能譜，能譜光電峰所在的通道至少有 10k計數(shù)。參考源57Co用于標定多道分析器的道寬（ keV/道），根據(jù)99mTc和 57Co的光電峰位置換算出道寬。對于帶有能量分辨率測試軟件的儀器，測試步驟按該軟件要求進行。 （三）計算和分析 使用被測試 γ相機提供的能量分辨率測試軟件。 如果被測試儀器沒有提供能量分辨率測試軟件，按下列步驟進行： （ 1）分別在 99mTc和 57Co能譜上確定光電峰位置，則： 道寬（ keV/道） =()(keV) / 99mTc與 57Co光電峰距離（道） （ 2）使用線性插值法，計算 99mTc能譜光電峰的半高寬 FWHM，并轉換為單位 keV。 （ 3）計算能量分辨率： 能量分辨率 =FWHM(keV)/(keV) 100% （四）結果報告 探頭視野范圍內的能量分辨率。 六、最大計數(shù)率 （一）測試條件及設備 20%光電峰對稱窗，使用儀器所提供的探頭能量、線性和均勻性校正技術，關閉快速采集模式。探頭卸下準直器，裝上 UFOV鉛環(huán)。 99mTc點源，點源的強度要足以使系統(tǒng)進入癱瘓狀態(tài)，約 4MBq。一個懸掛點源的移動架。 （二）測試步驟 探頭面與地面垂直，點源固定在移動架上，調節(jié)點源和移動架位置使其對準探頭中心。點源盡可能遠離其它物體，從而將散射線降低到最小程度。 移動點源，逐漸靠近探頭，觀察計數(shù)率變化，當計數(shù)率增加到最大值然后開始下降時，記錄最大計數(shù)
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