【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 儀器校正與管理 量規(guī) ﹑ 儀器管理作業(yè)常見(jiàn)之缺失 ? (1)量規(guī)儀器超過(guò)檢驗(yàn)日期 ﹐ 尚未校正仍是現(xiàn)場(chǎng)使用 ﹐ 而管理者未做任何處置。 ? (2)執(zhí)行內(nèi)校的人員沒(méi)有經(jīng)過(guò)相關(guān)的訓(xùn)練。 ? (3)查制三課量測(cè)粗坯長(zhǎng)度使用之游標(biāo)卡尺 (200mm)之校正點(diǎn)為20﹑ 50﹑ 80﹑ 100﹑ 150mm,唯其使用范圍系 30~180mm,并無(wú)法確保使用范圍之精確度。 ? (4)試驗(yàn)設(shè)備高斯量測(cè)器用來(lái)做進(jìn)貨檢驗(yàn) ﹐ 雖列為內(nèi)校且有校正記錄 ﹐但未建立校正指導(dǎo)書(shū)。 ? (5)已校正的量規(guī)儀器 ﹐ 但沒(méi)有允收標(biāo)準(zhǔn) ﹐ 違反量規(guī)儀器管理程序。 ? (6)標(biāo)準(zhǔn)法碼是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)件 ﹐ 卻當(dāng)成免校件。 ? (7)依據(jù)允差 ﹐ 應(yīng)判“ NG”﹐ 但卻標(biāo)示 OK. ? (8)查核 『 量規(guī)儀器履歷表 』 ﹕ 游標(biāo)卡尺 (0220232/ 150175mm)。上述記錄校正時(shí)之溫度 ﹐ 與 『 量規(guī)儀器校正指導(dǎo)書(shū) 』 (Q3006, 1)規(guī)定。 『 校驗(yàn)環(huán)境室 溫 』 不符。 (規(guī)定20177。 5 。 C,但校正記錄災(zāi) 。 C) 50 儀器校正與管理 ? (9)設(shè)備 R01到 R20環(huán)境上分包商協(xié)助校正的 ﹐ 這結(jié)果可被接受的。但是 12/28/96的校正報(bào)告即無(wú)法追溯國(guó)家或國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。 ? (10)沒(méi)有客觀証據(jù)顯示先前校驗(yàn)的失效時(shí) ﹐ 管理者對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)有效性之評(píng)估記錄。 ? (11)新購(gòu)之量規(guī) ﹐ 未適時(shí)安排校正亦未要求廠商提供校正報(bào)告 ? (12)個(gè)人擁有之儀器用在品質(zhì)檢驗(yàn) ﹐ 但未列入校正管理體系。 ? (13)用在量測(cè)產(chǎn)品之卡尺精度不足 (規(guī)格要求 15177。 ),現(xiàn)場(chǎng)使用卡尺最小刻度為 。 量規(guī) ﹑ 儀器管理作業(yè)常見(jiàn)之缺失 51 儀器校正與管理 ? (14)自制之檢測(cè)設(shè)備 ,未建立校正標(biāo)準(zhǔn) (或因?yàn)闊o(wú)法外校無(wú)適當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)件 ,逕行列為免校 ),與條文要求不符 . ? (15)加了封簽之可調(diào)式旋鈕 ,已見(jiàn)破損 ,雖看似未被調(diào)整 ,但管理者未依規(guī)定執(zhí)行評(píng)估及重新標(biāo)示 . ? (16)被列為標(biāo)準(zhǔn)件之儀器 ,于稽核中發(fā)現(xiàn)被經(jīng)常使用在檢測(cè)及校正等兩項(xiàng)作業(yè) ,與程序文件規(guī)定不符 . ? (17)游標(biāo)卡尺之校正點(diǎn)為 ,但使用范圍在15~20mm間 . 量規(guī) ﹑ 儀器管理作業(yè)常見(jiàn)之缺失 52 儀器校正與管理 ?(18)某電子秤使用范圍 0~10kg,校正結(jié)果發(fā)現(xiàn) ,8kg以上已超出允差范圍 ,雖可挪用在 8kg以下之量測(cè) ,但校正報(bào)告未注明適用范圍 .儀器外部亦僅標(biāo)示合格 ,未加以注明限用范圍 . (19)校正計(jì)劃未將所有須執(zhí)行校正之儀器一一列入 . (20)校正周期或校正允差 ,制訂不合格 .制訂內(nèi)容 (方式 )不合理 ,例如校正允差要求大于產(chǎn)品規(guī)格允差 . 量規(guī) ﹑ 儀器管理作業(yè)常見(jiàn)之缺失 53 儀器校正與管理 測(cè)量系統(tǒng)分析 Measurement System Analysis 誤差及能力分析 54 儀器校正與管理 測(cè)量系統(tǒng)分析的目的 ? 測(cè)量系統(tǒng)分析的目的是確定所使用的數(shù)據(jù)是否可靠 ? 測(cè)量系統(tǒng)分析還可以： – 評(píng)估新的測(cè)量?jī)x器 – 將兩種不同的測(cè)量方法進(jìn)行比較 – 對(duì)可能存在問(wèn)題的測(cè)量方法進(jìn)行評(píng)估 – 確定并解決測(cè)量系統(tǒng)誤差問(wèn)題 55 儀器校正與管理 數(shù)據(jù)的質(zhì)量 ? 數(shù)據(jù)的質(zhì)量取決于從處于穩(wěn)定條件下進(jìn)行操作的測(cè)量系統(tǒng)中，多次測(cè)量的統(tǒng)計(jì)特性，如：假設(shè)使用某一在穩(wěn)定條件下操作的測(cè)量系統(tǒng)對(duì)某一特定特性值進(jìn)行了幾次測(cè)量，如果這些測(cè)量值均與該特性的參考值（ master value）“接近”），那么，數(shù)據(jù)的質(zhì)量被稱為“高”；同樣，如果部份或所有的測(cè)量值與參考值相差“很遠(yuǎn)”，則數(shù)據(jù)的質(zhì)量很“低” 56 儀器校正與管理 描述測(cè)量數(shù)據(jù)質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)特性 ? 通常用來(lái)描述測(cè)量數(shù)據(jù)質(zhì)量的統(tǒng)計(jì)特性是某測(cè)量系統(tǒng)的偏倚（ Bias）和變差（ variance）。 ? 被稱為偏倚的統(tǒng)計(jì)特性指的是數(shù)據(jù)值相對(duì)于參考（基準(zhǔn)）值的位置。 ? 被稱為變差的特性指的是數(shù)據(jù)的分布寬度。 57 儀器校正與管理 低質(zhì)量數(shù)據(jù)的原因和影響 ? 低質(zhì)量數(shù)據(jù)的普遍原因之一是變差太大 ? 一組數(shù)據(jù)中的變差多是由于測(cè)量系統(tǒng)及其環(huán)境的相互作用造成的。 ? 如果相互作用產(chǎn)生的變差過(guò)大，那么數(shù)據(jù)的質(zhì)量會(huì)太低，從而造成測(cè)量數(shù)據(jù)無(wú)法利用。如：具有較大變差的測(cè)量系統(tǒng)可能不適合用于分析制造過(guò)程，因?yàn)闇y(cè)量系統(tǒng)的變差可能掩蓋制造過(guò)程的變差。 58 儀器校正與管理 有關(guān)測(cè)量數(shù)據(jù)的常見(jiàn)問(wèn)題 ? 什么是測(cè)量？ – 將一個(gè)未知量與一個(gè)已知的或已經(jīng)接受的參照值進(jìn)行的比較 ? 為什么我們需要測(cè)量數(shù)據(jù)？ – 我們使用測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)判斷產(chǎn)品是否合格，制定有關(guān)過(guò)程管理的決策。 ? 我接受這件產(chǎn)品嗎？ ? 過(guò)程是很好，還是需要進(jìn)行調(diào)整？ ? 我們對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)有什么期望？ – 準(zhǔn)確性：數(shù)據(jù)必須告訴我們真相！ – 重復(fù)性：重復(fù)測(cè)量必須產(chǎn)生同樣的結(jié)果！ – 再現(xiàn)性：結(jié)果不應(yīng)該受檢驗(yàn)員的影響。 ? 什么是測(cè)量?jī)x器？ – 用來(lái)進(jìn)行測(cè)量的任何儀器。 ? 什么是檢驗(yàn)員（或者鑒定人）？ – 使用測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量的個(gè)人或裝置 59 儀器校正與管理 有關(guān)測(cè)量數(shù)據(jù)的常見(jiàn)問(wèn)題 ? 測(cè)量系統(tǒng)：不僅指量具。 – 測(cè)量系統(tǒng)包括：人（及其培訓(xùn)）、過(guò)程（測(cè)量程序）、設(shè)備（量具或測(cè)量工具）、系統(tǒng)的控制點(diǎn)、及所有這些因素的相互作用。 – 測(cè)量總偏差： ? 總的觀察偏差 =過(guò)程偏差 +測(cè)量系統(tǒng)偏差 ? 測(cè)量是一個(gè)能影響所觀察值的中心值和偏差的過(guò)程。 60 儀器校正與管理 有關(guān)測(cè)量數(shù)據(jù)的常見(jiàn)問(wèn)題 ? Gage RR分析是用來(lái)分析測(cè)量系統(tǒng)的方法，目的是確定測(cè)量某種東西時(shí)出現(xiàn)的波動(dòng)（誤差）的大小和類型。 ? 將“測(cè)量系統(tǒng)”看作是會(huì)給測(cè)量數(shù)據(jù)帶來(lái)額外誤差的子過(guò)程，其目的就是使用誤差盡可能小的測(cè)量過(guò)程。 ? 任何觀測(cè)數(shù)據(jù)的誤差，都是部件的實(shí)際誤差和測(cè)量系統(tǒng)誤差的總和。 61 儀器校正與管理 過(guò)程變差剖析 長(zhǎng)期 過(guò)程變差 短期 抽樣產(chǎn)生的變差 實(shí)際過(guò)程變差 穩(wěn)定性 線性 重復(fù)性 準(zhǔn)確度 量具變差 操作員造成 的變差 測(cè)量誤差 過(guò)程變差觀測(cè)值 “重復(fù)性” 和 “再現(xiàn)性” 是測(cè)量誤差的主要來(lái)源 再現(xiàn)性 過(guò)程變差 62 儀器校正與管理 測(cè)量?jī)x器分辨率 （測(cè)量?jī)x器的分辨率必須小于或等于規(guī)范或過(guò)程誤差的 10%） ? 測(cè)量?jī)x器分辨率可定義為測(cè)量?jī)x器能夠讀取的最小測(cè)量單位。 ? 看看下面的部件 A和部件 B，它們的長(zhǎng)度非常相似。測(cè)量分辨率描述了測(cè)量?jī)x器分辨兩個(gè)部件的測(cè)量值之間的差異的能力。 部件 A 部件 B 部件 A 部件 B A= B= A= B= 因?yàn)樯厦婵潭鹊姆直媛时葍蓚€(gè)部件之間 的差異要大，兩個(gè)部件將出現(xiàn)相同的測(cè) 量結(jié)果。 第二個(gè)刻度的分辨率比兩個(gè)部件之間的 差異要小，部件將產(chǎn)生不同的測(cè)量結(jié)果。 63 儀器校正與管理 測(cè)量系統(tǒng)的有效分辨率（ discrimination） ? 要求不低于過(guò)程變差或允許偏差（ tolerance）的十分之一 ? 零件之間的差異必須大于最小測(cè)量刻度 ? 極差控制圖可顯示分辨率是否足夠 ? 看控制限內(nèi)有多少個(gè)數(shù)據(jù)分級(jí) ? 不同數(shù)據(jù)分級(jí) (ndc)的計(jì)算為 零件的標(biāo)準(zhǔn)偏差 / 總的量具偏差 * . 一般要求它大于 5才可接受 直尺 卡尺 千分尺 .25 .279 .2794 .28 .282 .2822 .28 .282 .2819 .28 .279 .2791 64 儀器校正與管理 準(zhǔn)確度 (Accuracy) ? 準(zhǔn)確度 (Accuracy) — 測(cè)量的平均值是否與真值吻合 ? ? 真值 (True Value): ? 理論上正確的值 ? 國(guó)際度量衡標(biāo)準(zhǔn) ? 偏倚（ Bias) – 測(cè)量值的均值與真值的距離 – 測(cè)量系統(tǒng)持續(xù)地偏離目標(biāo) – 系統(tǒng)錯(cuò)誤 65 儀器校正與管理 BIAS — 測(cè)量結(jié)果的平均值與參考值的差異 . 參考值（ referencevalue）是一個(gè)預(yù)先認(rèn)定的參考標(biāo)準(zhǔn) . 該標(biāo)準(zhǔn)可用更高一級(jí)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的平均值來(lái)確定 (例如：高一級(jí)計(jì)量室 ) 觀測(cè)平均值 參考值 偏倚 BIAS 66 儀器校正與管理 X1= X6= X2= X7= X3= X8= X4= X9= X5= mm X10= 同一操作者對(duì)同一工件測(cè)量 10次 如果參考標(biāo)準(zhǔn)是 . 過(guò)程變差為 = Bias = = % Bias=100[]=% 表明 % 的過(guò)程變差是偏倚 BIAS XX??10偏倚 BIAS 實(shí)例 : 67 儀器校正與管理 ? 準(zhǔn)確度的問(wèn)題可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)探測(cè) . ? 偏倚也可以與過(guò)程的容差相比較 ? 判斷準(zhǔn)確度的簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)為 . – 小于過(guò)程變差或容差的 1%, 可認(rèn)為是精確的 . – 小于過(guò)程變差或容差的 1% 則需要研究和調(diào)整測(cè)量系統(tǒng) , 或者臨時(shí)用補(bǔ)償值來(lái)修正以后的測(cè)量值 ? 偏倚的研究還可以通過(guò)作圖的方式來(lái)進(jìn)行 , 即作出直方圖 , 然后根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷是否可以接受 . ? 偏倚的研究還可以通過(guò)計(jì)算置信區(qū)間來(lái)判斷是否可以接受 測(cè)量平均值 – 參考值 x (100) 容差寬度 68 儀器校正與管理 偏倚研究的分析 ? 如果偏倚在統(tǒng)計(jì)上不等于 0，檢查是否存在以下原因： – 基準(zhǔn)件或參考值有誤 —檢查確定標(biāo)準(zhǔn)件的程序 – 儀器磨損 —維修