工序質(zhì)量控制培訓(xùn)課件(編輯修改稿)
2025-02-23 22:36 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 X2 X3 X4 X5 X平均值 X中位數(shù) 極差 R 1 2 3 4 5 … 20 70 68 70 63 74 … 75 78 74 72 65 75 … 78 80 74 75 65 75 … 81 80 80 73 84 77 … 85 78 81 75 92 80 … 89 73 … 78 74 73 65 75 … 81 10 13 5 29 6 … 14 平均 ①平均值 — 極差控制圖 由上表可知， 20組數(shù)據(jù)的總平均值為 ，平均極差為 由于樣本容量 n=5，查表得參數(shù) A2=、 D4=、 D3=0 因此，平均值 — 極差控制圖的設(shè)計(jì)如下， X平均值圖： CL== UCL=X(平均值 )+A2R(平均值） =+ = LCL=X(平均值 )A2R(平均值 )= = R圖： CL=R(平均值 )= UCL=D4R(平均值 )= = LCL=D3R(平均值 )=0 數(shù)據(jù)還原，得 X（平均值）圖：中心線 ，控制上限 ，控制下限 ； R圖：中心線 ，控制上限 ，控制下限 0。 實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)的控制圖如下： 直徑㎜ X（平均值） 樣本號(hào) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 19 20 樣本號(hào) R 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 19 20 ②中位數(shù) — 極差控制圖 由上表可知，中位數(shù)平均值為 ，平均極差為 。 由于樣本容量 n=5，查表 m3為 A D D4同上例。 中位數(shù)圖： CL=（中位數(shù)平均值） UCL=X（中位數(shù)平均數(shù)） +m3A2R（平均極差） =+ = LCL=X（中位數(shù)平均數(shù)） m3A2R（平均極差） = = R圖同上例。 不合格率控制圖（ P圖）和不合格數(shù)控制圖（ np圖） 例題： 工序產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù)見下表。試作 P控制圖和 np控制圖。 批次 檢驗(yàn)數(shù) 不合格數(shù) 1 2 3 … 25 220 … … … 220 17 18 18 … 18 合計(jì) 5500 409 平均 220 解： 由上表可知，平均批不合格 d=，平均批容量 N=220，平均 不合格率為 P=d/n= P圖： CL=P(平均值 )= UCL=P(平均值 )+3〔 P(平均值 )(1P(平均值 ))/N(平均值 )〕 =+= LCL=P(平均值 )3〔 P(平均值 )(1P(平均值 ))/N(平均值 )〕 == CL=d(平均值 )=np(平均值 )= UCL=d(平均值 )+3〔 d(平均值 )(1p(平均值 )〕 =+= LCL=d(平均值 )3〔 d(平均值 )(1p(平均值 )〕 == UCL CL LCL 三、控制圖的分析與判斷 ①所有樣本點(diǎn)都在控制界限內(nèi) ②位于中心線兩側(cè)的樣本點(diǎn)數(shù)目大致相同 ③越近中心線，樣本點(diǎn)越多 ④樣本點(diǎn)在控制界限內(nèi)的散布是隨機(jī)獨(dú)立的 ①有多個(gè)樣本點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線的一側(cè) ②出現(xiàn)連續(xù)上升或下降的 7點(diǎn)鏈 ③有多個(gè)樣本點(diǎn)接近控制界限 ④樣本點(diǎn)散布有明顯趨勢(shì)或規(guī)律 183
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