minitab的應(yīng)用(編輯修改稿)
2025-01-26 17:59 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 要遠。當(dāng)有非負(fù)數(shù)據(jù)（計數(shù)、測量值等）時，此模式很常見。 圖點向上偏離此線，表明向左側(cè)偏斜。分布向左延伸得比向右要遠。 注意： 作為一條經(jīng)驗法則，至少應(yīng)有 2530 個數(shù)據(jù)點。解釋數(shù)據(jù)點過少的圖可能會導(dǎo)致錯誤的結(jié)論。 對稱圖 返回目錄 對稱圖輸出 返回目錄 1 . 41 . 21 . 00 . 80 . 60 . 40 . 20 . 01 . 41 . 21 . 00 . 80 . 60 . 40 . 20 . 0到 中 位 數(shù) 的 距 離 上 限到中位數(shù)的距離下限32.432.031.631.230.830.430.02 01 00數(shù) 據(jù) 的 對 稱 圖 點圖 返回目錄 點圖輸出 返回目錄 3D圖 Calc Make Mesh Data 功能選項相同 返回目錄 產(chǎn)生網(wǎng)格數(shù)據(jù) 3D圖輸出 返回目錄 量測系統(tǒng)分析 量測系統(tǒng)基本要求 + 準(zhǔn)確度（Accuracy） 返回目錄 準(zhǔn)確度和精確度 準(zhǔn)確和精確的圖示 量測系統(tǒng)分析工具 準(zhǔn)確性 （ Accuracy）分析 精確性 (Precision)分析 返回目錄 電極制造商要對用于測量電極軸外徑的測量系統(tǒng)進行評估，以確定該系統(tǒng)可以準(zhǔn)確測量電極軸，容差在 毫米之內(nèi)。 操作人員對已知外徑（ 毫米）的參考軸進行 50 次測量。 1 打開工作表“軸 .MTW”。 2 選擇 統(tǒng)計 質(zhì)量工具 量具研究 類型 1 量具研究 。 3 在 測量數(shù)據(jù) 中，輸入 直徑 。 4 在 參考值 中，鍵入 。 5 在 公差限 下，選擇 規(guī)格上限 規(guī)格下限 ，并鍵入 。單擊 確定 。 圖形窗口輸出 解釋結(jié)果 測量系統(tǒng)中的偏倚 為 。對偏倚的檢驗表明與 0 存在顯著 差異（ T = ， p 值 = ），這意味著測量系統(tǒng)中存在偏倚。此外，請注意運行圖上標(biāo)繪的許多觀測值都低于參考值 。 Cg 比較公差與測量變異，而 Cgk 將公差同時與測量變異和偏倚進行比較。較大的 Cg 和 Cgk 表明與公差范圍相比，因測量系統(tǒng)導(dǎo)致的變異較小。這兩個值的典型閾值為 。 在本例中，能力指數(shù) Cg = ， Cgk = ，都大大低于 。這些值表示因測量系統(tǒng)導(dǎo)致的變異較大。 %變異（重復(fù)性）由 Cg 決定，而 %變異（重復(fù)性和偏倚）由 Cgk 決定。較小的 %變異值表明測量變異與公差相比較小。能力指數(shù)閾值 對應(yīng)于 %變異閾值 15%。 在本例中， %變異（重復(fù)性） = %， %變異（重復(fù)性和偏倚） = 81%。這些值遠大于 15%，再次表明因測量系統(tǒng)導(dǎo)致的變異很大。 這些結(jié)果表明測量系統(tǒng)無法穩(wěn)定而準(zhǔn)確地測量部件，并因此應(yīng)該加以改進。 Minitab 提供了若干命令幫助您確定有多少過程變異是由測量系統(tǒng)中的變異造成的。 類型 1 量具研究是一個很好的出發(fā)點，它可以評估測量系統(tǒng)的能力。此研究使用來自單個部件的多個測量值來評估偏倚和重復(fù)性的效應(yīng)，且是在量具 RR（擴展）、量具 RR（交叉）和量具 RR（嵌套）研究之前進行，后三者有助于發(fā)現(xiàn)測量系統(tǒng)中的缺陷。為幫助設(shè)置量具 RR（交叉）或（嵌套）研究的工作表，請使用創(chuàng)建量具 RR 研究工作表。 其他命令包括： 量具運行圖，幫助您快速評定測量值在不同操作員和部件之間的差異 屬性量具研究（分析法），檢驗屬性測量系統(tǒng)的測量系統(tǒng)精確度 量具線性和偏倚研究，檢驗量具的線性 和準(zhǔn)確度 屬性一致性分析，幫助評估由多個檢驗員為名義和順序數(shù)據(jù)給出的主觀評級或分類的一致性。使用創(chuàng)建屬性一致性分析工作表幫助設(shè)置工作單 注意 屬性一致性分析以前在 Minitab Release 13 中稱為屬性量具 RR 研究。屬性一致性分析是評估檢驗員一致性的技術(shù)，它不同于屬性量具研究（分析法），后者檢查屬性測量系統(tǒng)的偏倚和重復(fù)性。 每次測量過程的結(jié)果都會發(fā)現(xiàn)變異。產(chǎn)生這種變異有兩個來源：過程制造的部件之間的差異，以及進行測量中的不完善。因此，重復(fù)測量相同部件也不會得到完全相同的測量值。 統(tǒng)計過程控制 (SPC) 涉及到確認(rèn)部件間變異 的來源，以及盡可能減少這種變異以獲得更可靠的產(chǎn)品。但是，在執(zhí)行 SPC 分析之前，可能要確定觀測到的變異并非主要歸因于測量系統(tǒng)中的誤差。 量測系統(tǒng)精確性（ Precision）分析 嵌套式數(shù)據(jù) 不同 交叉式數(shù)據(jù) 相同 返回目錄 均值極差法繪圖及程序輸出 返回目錄 方差分析繪圖及程序輸出 圖 1 圖 2 圖 3 圖 4 圖 5 圖 6 總變差分析 方差分析 返回目錄 嵌套式數(shù)據(jù)（ Nested）分析結(jié)果輸出 這個測量誤差太差！ 返回目錄 量測系統(tǒng)趨勢圖（ Gage Run Chart）輸出 返回目錄 第 5章 六西格瑪管理中分析的實現(xiàn) 什么是 6?管理中的分析 分析實現(xiàn)的基本工具 箱形圖 散點圖 相關(guān)分析與回歸分析 假設(shè)檢驗與區(qū)間估計 方差分析 多變量圖 等高線圖 返回目錄 本 章 目 標(biāo) ?了解 6?管理中分析的內(nèi)涵 ?了解 Minitab軟件中包括哪些分析實現(xiàn)的工具 ?熟練掌握本章介紹的 Minitab軟件中有關(guān)工具的操作
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