四密度通用測(cè)試技術(shù)介紹(編輯修改稿)
2024-09-18 15:31 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的密度為單密度。所以在較大面積HDI測(cè)試仍存在密度的瓶頸。圖(三) 共享網(wǎng)格23 結(jié)構(gòu)的組成模塊化結(jié)構(gòu)所有的開關(guān)陣列、驅(qū)動(dòng)部分以及控制元件被高度集成為一組開關(guān)卡模塊，測(cè)試面積可由該模塊自由組合, 并且可以互換, 故障率低, 維護(hù)及升級(jí)簡單, 但成本偏高。繞線式結(jié)構(gòu)網(wǎng)格由繞線彈簧針與分離開關(guān)卡組成, 體積龐大, 無升級(jí)空間, 故障時(shí)維護(hù)較困難。24 夾具的構(gòu)成長針結(jié)構(gòu)夾具”()的夾具結(jié)構(gòu), 優(yōu)點(diǎn)為撒針斜率較大, 單位面積內(nèi)可撒針點(diǎn)數(shù)較短針結(jié)構(gòu)多20%~30%。但結(jié)構(gòu)強(qiáng)度較差, 夾具制作時(shí)需注意加強(qiáng)。短針結(jié)構(gòu)夾具”()的夾具結(jié)構(gòu), 優(yōu)點(diǎn)為結(jié)構(gòu)強(qiáng)度較好, 但撒針斜率較小。 25 輔助軟件(CAM)在高密度通用測(cè)試中, 適當(dāng)?shù)腃AM支持是十分重要的, 主要由兩部分組成:*網(wǎng)路分析及測(cè)試點(diǎn)生成*夾具輔助制作由于夾具制作過程的很多參數(shù)(如夾具層間結(jié)構(gòu)、鉆孔孔徑、安全孔距、支柱結(jié)構(gòu)等)都很大程度影響夾具測(cè)試效果,這一部份必需要由廠商指派熟練工程師訓(xùn)練, 并不斷總結(jié)經(jīng)驗(yàn), 才能把夾具做得更好。2 雙密度與四密度比較首先，四密度可以完成雙密度無法測(cè)試的板，因?yàn)獒槾采系膹椈舍橖c(diǎn)陣密度與線路板上的測(cè)試點(diǎn)的密度不同而使得測(cè)試夾具的鋼針必須有一定的斜率，才能將on grid 轉(zhuǎn)變成為off grid，然而鋼針的斜度是受到結(jié)構(gòu)限制的，不可能無限地加大，一般情況下，雙密度的鋼針
電大資料相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1