landmark軟件培訓(xùn)手冊(cè)part(編輯修改稿)
2025-09-06 07:32 本頁面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ：用戶只需點(diǎn)擊相關(guān)系數(shù)表，即可得到兩屬性的2D交會(huì)圖，從而檢查參數(shù)間的實(shí)際相關(guān)程度。⑤ Summary Statistics統(tǒng)計(jì)參數(shù)概括，出現(xiàn)如下窗口：⑥屬性運(yùn)算明了。⑦ Subsets……子集操作⑧Model……模型回歸分析擬合參數(shù)subset⑨Cluster Analysis……聚類分析分類數(shù)量如下圖所示：五、分頻解釋技術(shù)（SpecDep）分頻解釋技術(shù)是儲(chǔ)層研究的新技術(shù)。（一）、分頻解釋技術(shù)原理分頻技術(shù)基于如下的概念，即來自薄層的反射在頻率域具有指示時(shí)間地層厚度的特征性表現(xiàn)。例如，一個(gè)簡(jiǎn)單的各向同性的薄層能把可預(yù)測(cè)的、具有周期性的帶陷序列引入到復(fù)合反射的振幅譜中。如下圖（552）：圖 51 薄層頻譜干涉模式t2way time50Hz振幅譜10Hz振幅譜時(shí)間厚度(ms)振 幅(Partyka 1999) 圖52 頻陷周期與薄層時(shí)間厚度的關(guān)
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