【總結】目錄第1章摘要………………………………………………………………4第2基本原理………………………………………………………………4第3章參數(shù)設計及運算…………………………………………………5結構設計…………………………………………………………5電容設計與計算…………………………………………………7第4章誤差分析…………
2025-06-29 20:51
【總結】油膜厚度測試?光干涉法?電渦流法?電容法?光纖傳感器油膜厚度測試油膜厚度測試?要進行推力軸承油膜厚度測試的理論研究，建立符合實際工況的流變模型是基礎。彈流接觸區(qū)(推力瓦與鏡板之間)的潤滑油，在很短的時間內經受著極大的壓力變化溫度變化和極高的剪切率，描述潤滑油時流
2025-08-05 09:01
【總結】薄膜生長過程和結構15薄膜的生長過程和薄膜結構薄膜生長過程概述薄膜的生長過程直接影響薄膜的結構和性能。?以真空蒸發(fā)的薄膜形成為例薄膜的生長過程：1.新相的形核階段;2.薄膜的生長階段。薄膜生長過程和結構2新相的形核階段：氣態(tài)的原子或分子凝聚到襯底表面，擴散
2025-05-02 13:42
【總結】基于單片機的便攜式厚度測量儀的系統(tǒng)設計摘要在石油化工領域中，油汽的運輸與儲存過程中，運輸管道和儲油罐會因為各種原因受到腐蝕的影響，管道壁和油罐壁的厚度會因此減小，當腐蝕程度嚴重時，會導致油汽的泄漏，甚至引起爆炸，造成人員傷亡，所以，需要定期對使用設備進行檢測、記錄和分析。而在所有檢測的指標中，厚度值則是能夠反映其腐蝕程度和安全性能的重要指標。本次課題研究目的是開發(fā)一種基于
2025-06-27 19:20
【總結】爆破膜（防爆板）厚度的選擇根據(jù)爆破壓力，選擇材料及爆破膜的直徑（指夾住部分）可以計算出爆破膜的厚度：碟唐資訊ietanm=δδ其中：：爆破膜的厚度：爆破壓力（兆帕）：爆破膜夾住的直徑（毫米）：系數(shù)，一般取33~42δ：材料的強度極限（兆帕）發(fā)生爐煤倉著火在許多單
2025-05-10 03:51
【總結】滲碳及滲碳層厚度的測定一、實驗目的?了解滲碳工藝及滲碳后熱處理的組織特征。?掌握金相法測定滲碳層厚度的方法。?了解鋼滲碳層厚度與滲碳溫度和滲碳時間的關系。二、實驗原理概述?滲碳定義：滲碳是將鋼件置于滲碳介質中，加熱到單相奧氏體區(qū)，保溫一定時間使碳原子滲入鋼件表面層的熱處理工藝。目的：經過滲碳處理的鋼件在經
2025-10-07 13:45
【總結】薄膜材料與薄膜技術第八章薄膜技術薄膜與高新技術?材料、信息技術與能源稱為現(xiàn)代人類文明的三大支柱。國民經濟的各部門和高技術領域的發(fā)展都不可避免地受到材料發(fā)展的制約或推動。新材料的發(fā)展水平成為了衡量國家技術水平和綜合實力的重要標志。?何謂“新材料”？簡單地說，就是那些新出現(xiàn)或已在發(fā)展中的，在成分、組織、結構、形態(tài)等方面不同于
2025-01-19 02:49
【總結】LOGO先進材料制備技術化材學院李涓研究生課程LOGO1薄膜材料的制備薄膜的形成機理物理氣相沉積化學氣相沉積化學溶液鍍膜法液相外延制膜法膜厚的測量與監(jiān)控先進材料制備技術LOGO薄膜的形成機理薄膜材料在現(xiàn)代科學技術中應用十分廣泛,制膜技術的發(fā)展也
2025-02-22 00:02
【總結】第二講第一章薄膜的形成第一章薄膜的形成第二講§成核理論包括：微滴理論——熱力學方法原子理論——統(tǒng)計物理學方法2、原子理論當原子數(shù)100個以上的微滴，其表面能和自由能可以用塊狀材料的相應數(shù)值。當小于100個以下，甚至幾個原子的微滴時，需
2025-01-07 07:52
【總結】拉幅薄膜的成型概述拉幅薄膜則是將擠出得到的厚度為1—3毫米的厚片或管坯，重新加熱到Tg一Tm（或Tf)溫度范圍進行大幅度拉伸而形成的薄膜。拉幅薄膜的生產可以將擠出原片(或管坯)與拉幅過程直接聯(lián)系起來進行連續(xù)生產，不一定將生產厚片或管坯與拉幅工序分為二個單獨的過程來進行，但不管哪種方式，聚合物在拉伸前都必須從較低溫度下置新加
2025-01-17 06:28
【總結】1薄膜在CIGSthinfilmsolarcells的應用指導教授：許進明學生：林怡君學號：M97L02242Outline?薄膜太陽能電池的種類?CIGS簡介?CIGS優(yōu)勢條件?CIGS太陽能電池元件結構?Nanosolar薄膜太陽能電池?引
2025-07-21 09:59
【總結】第六章薄膜材料的表征方法第一節(jié)薄膜厚度測量技術第二節(jié)薄膜結構的表征方法第三節(jié)薄膜成分的表征方法第一節(jié)薄膜厚度測量技術一、薄膜厚度的光學測量方法二、薄膜厚度的機械測量方法一、薄膜厚度的光學測量方法1、光的干涉條件()2cosnABBCANnd
2025-05-03 18:46
【總結】第四講第二章薄膜的力學性質第二章薄膜的力學性質(續(xù))第四講第四講第二章薄膜的力學性質????????使薄膜處于壓應力狀態(tài)—選基片材料；1、基片情況基片表面晶格結構須與薄膜相匹配；基片溫度（淀積時）
【總結】第六章薄膜材料的表征方法較為廣泛的方法:?薄膜的厚度測量?薄膜的形貌和結構的表征?薄膜成分的分析?薄膜附著力的測量薄膜厚度的光學測量方法?光學方法可被用于透明和不透明薄膜?使用方便，測量精度高?多利用光的干涉現(xiàn)象作為測量的物理基礎光的干涉條件薄膜厚度的光
2025-08-15 23:26
【總結】報告人：趙定武磁性存儲技術在現(xiàn)代技術中舉足輕重。由于磁信號的記錄密度在很大程度上取決于磁頭縫隙的寬度、磁頭的飛行高度以及記錄介質厚度，因此就需要不斷減小磁頭體積和磁記錄介質厚度。薄膜自身飽和磁化強度較高，允許采用的磁性介質厚度更小，性質也更均勻，因此薄膜磁頭材料和薄膜磁存儲介質是發(fā)展的主要方向之一。
2025-08-07 10:50
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