太赫茲測試技術(shù)(編輯修改稿)
2024-09-01 05:12 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 倍頻的THz信號源，輸出功率相對較小（與同頻段返波管小10dB左右），但其具有體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，使用方便等優(yōu)勢。圖1是中國電科41所基于倍頻方案的THz 信號發(fā)生器實物圖，圖2和圖3是1mm頻段倍頻源典型輸出功率實測曲線。圖2 AV82406C信號源輸出功率圖3 AV82406D信號源輸出功率三、THz 電磁波信號的檢測技術(shù)THz電磁波信號的檢測主要方法有：用飛秒激光取樣的電光晶體探測器。探測光束在Pockels 效應(yīng)下被THz脈沖電場調(diào)制，同時THz時域波形被復(fù)制到展寬的探測光頻域譜上，信號被光電二極管接受并檢測。使用飛秒激光觸發(fā)的電光晶體探測器的顯著特點是具有極寬的頻譜響應(yīng)和非常高的測量信噪比，適合于成像測量，缺點是裝置比較復(fù)雜，價格昂貴。超導(dǎo)SIS（SuperconductorInsulatorSuperconductor）混頻檢測器。SIS 探測器以光子輔助隧穿機制為理論基礎(chǔ)，～，需要在液氦溫度下工作。此外，在室溫環(huán)境下，半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)也是可以使用的。作為測試儀器的THz功率測量設(shè)備主要基于熱電效應(yīng)的太赫茲光功率測試探測器。圖4 THz12D3SVP功率測試系統(tǒng)圖5 ERICKSON公司PM4功率計GentecEO公司研制的太赫茲光功率測試探測
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