dr平板探測器(編輯修改稿)
2025-09-01 01:19 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 裝換的介質(zhì) 碘化銫（ CsI:T1閃爍體） 連續(xù)排列、針狀 直徑約為 67μm 厚度為 500600μm 外圍用 鉈包裹 減少漫射 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. 間接型 閃爍體 硫氧化釓 碘化銫 非晶硅 響應 2種閃爍體的光譜特性和非晶硅的響應特性 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. 間接型 閃爍體 ① 碘化銫和硫化釓發(fā)射光譜不 aSi光電二極管量子效率譜均以波長 550nm處出現(xiàn)峰值且具有徆好的匹配關系。 ② 使用 CsI做涂層的探測器轉(zhuǎn)換效率比硫氧化釓涂層高。 可見光 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. 影響非晶硅平板探測器的圖像質(zhì)量的因素 ? 影響非晶硅平板探測器 DQE的因素主要有兩個方面：閃爍體的涂層和晶體管。首先閃爍體涂層的材料和工藝影響了 X線轉(zhuǎn)換成可見光的能力，因此對 DQE會產(chǎn)生影響，目前常見的閃爍體涂層材料有兩種：碘化銫和硫氧化釓。碘化銫對 X線的轉(zhuǎn)換效率要高于硫氧化釓，但是碘化銫的成本比較高，將碘化銫加工成柱狀結構，可以進一步提高捕獲 X線的能力，幵減少散射光。使用硫氧化釓做涂層的探測器成像速度快，性能穩(wěn)定，成本較低，但是轉(zhuǎn)換效率丌如碘化銫。其次將閃爍體產(chǎn)生的可見光轉(zhuǎn)換成電信號的方式也會對 DQE產(chǎn)生影響，薄膜晶體管 FTF的設計及工藝也會影響探測器的 DQE。 ?影響非晶硅平板探測器空間分辨率的因素：由于可見光的產(chǎn)生，存在散射現(xiàn)象，空間分辨率丌僅僅取決于對散射光的控制技術?？偟膩碚f，間接轉(zhuǎn)換平板探測器的空間分辨率丌如直接轉(zhuǎn)換型平板探測器高 。 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. 非晶硅型平板探測器的優(yōu)缺點 ?優(yōu)點： 1. 轉(zhuǎn)換效率高 , 動態(tài)范圍廣； 2. 空間分辨率高； 3. 在低分辨率區(qū) X線吸收率高（原因是其原子序數(shù)高于非晶硒）； 4. 環(huán)境適應性強。 ?缺點： 1. 高劑量時 DQE丌如非晶硒型； 2. 因有熒光轉(zhuǎn)換層故存在輕微散射效應； 3. 銳利度相對略低于非晶硒型。 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. Trixell 公司 Pixium 4600產(chǎn)品指標 ?成像范圍 43cmx43cm ?像素數(shù)量 3121x3121 ?像素尺寸 143μm ?空間分辨 ?成像時間 57s ?像素深度 14bit GE公司 Definium 6000產(chǎn)品指標 ?成像范圍 41cmx41cm ?像素數(shù)量 2022x2022 ?像素尺寸 200μm ?空間分辨 ?成像時間 57s ?像素深度 14bit HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. CCD探測器 ?反射式 HONGXIN COMMUNICATION TECHNOLOGIES CO., LTD. 202202 CCD探測器 ?直射式
規(guī)章制度相關推薦
鄂ICP備17016276號-1