07-4-干擾及消除(編輯修改稿)
2025-08-31 07:24 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 寬帶吸收： 火焰生成物的分子受激產(chǎn)生的寬帶光譜對入射光的吸收； 粒子散射： 火焰中粒子質(zhì)對光的散射 。 消除： 以上兩種干擾方式都產(chǎn)生正誤差 （ A增加 ） 。 因干擾主要來自燃燒氣 ， 因此可通過空白進行校正 。 問題：雙光束原子吸收可以進行空白校正嗎 ？ 來自樣品基體的背景干擾 寬帶吸收： 樣品基體中分子或其碎片的形成 、 有機溶劑分子或其碎片對光的吸收 。 粒子散射： 一些高濃度元素 ， 如 Ti， Zr， W的氧化物 ，具有分餾效應且直徑較大 ， 可對光產(chǎn)生散射；有機溶劑不完全燃燒產(chǎn)生的微粒碳也會對光產(chǎn)生散射 。 消除： 更換燃氣 （ 如用 N2O） ；改變測量參數(shù) （ T， 燃助比 ） ；加入輻射緩沖劑 。 如果知道干擾來源 ， 可在標準液和樣品中加入同樣且大量的干擾物質(zhì) 。 非火焰背景干擾 非火焰的電熱原子化 （ 石墨爐 ） 中產(chǎn)生的背景干擾 ，通常要比火焰原子化的干擾嚴重 。 采用石墨爐平臺技術 （ Platform technology） 、 高新石墨材料 、 快速測光計和 Zeeman背景校正等方法可將石墨爐背景干擾降低到和火焰背景干擾相同水平 。 （ 1） 鄰近非共振線校正法 背景吸收是寬帶吸收 。 分析線測得的是原子吸收與背景吸收的總吸光度 AT， AT在分析線鄰近選一條非共振線 ， 非共振線不會產(chǎn)生共振吸收 ， 此時測出的吸收為背景吸收AB 。 兩次測量吸光度相減 ， 所得吸光度值即為扣除背景后的原子吸收吸光度值 A。 AT = A + AB A = AT AB = k c 2. 背景校正方法 ?1 ?2 基態(tài)原子 AB AT 本法適用于分析線附近背景吸收變化不大的情況，否則準確度較差。 參比譜線選擇： 參比線與測量線很近 （ 保證二者經(jīng)過的背景一致 ） ； 待測物基態(tài)原子不吸收參比線； 參比線是待測原子的非共振線或元素
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