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正文內(nèi)容

計(jì)量經(jīng)濟(jì)學(xué)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目與主要內(nèi)容(編輯修改稿)

2025-08-25 14:54 本頁(yè)面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 一定范圍內(nèi),隨著農(nóng)業(yè)勞動(dòng)者人數(shù)的增加與耕地面積的擴(kuò)大,農(nóng)業(yè)總產(chǎn)值會(huì)相應(yīng)增加,因此可設(shè)理論模型如下:Yi = b0 + b1 L i+ b 2 S i +εi (i=1,2,……,n),求出殘差序列(1)輸入:create u 17 回車輸入:data y l s 回車,輸入樣本數(shù)據(jù)。如果已制作了相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù),可用load或fetch命令,將數(shù)據(jù)序列或文件讀取到內(nèi)存。如,輸入:load a:file7 回車(2)輸入:ls y c l s 回車,屏幕顯示:由此得,樣本回歸方程為: =++(i=1,2,……,17)(se)()()()(t)()()()R2=,DW=,F(xiàn)=判定系數(shù)R2的較大,F(xiàn)也大于其相應(yīng)臨界值,回歸模型是線性顯著的;S的回歸參數(shù)能通過(guò)t檢驗(yàn),是顯著非零的;,符合實(shí)際經(jīng)濟(jì)意義,能夠通過(guò)經(jīng)濟(jì)意義檢驗(yàn);L的回歸參數(shù)不能通過(guò)t檢驗(yàn),是顯著為零的;點(diǎn)擊菜單:wiview\Actual***\,屏幕顯示:殘差散點(diǎn)圖表明,殘差絕對(duì)值隨序列號(hào) i 的增大而增大,可初步斷定模型存在遞增異方差。這可能就是模型OLS估計(jì)結(jié)果不理想的主要原因。(3)建立殘差序列和回歸理論擬合值序列(即),為進(jìn)一步檢驗(yàn)?zāi)P偷漠惙讲钚苑?wù)。用e表示殘差序列(ei),e2表示殘差平方序列(ei2),e1表示殘差的絕對(duì)值序列(),Y1表示回歸理論(擬合)值序列(即)輸入:genr e=resid 回車輸入:genr e2=e^2 回車輸入:genr e1=abs(e) 回車輸入:forcst y1 回車輸入:show y1 e e1 e2 s l 回車,屏幕顯示表:(1)用圖(表)RAF所顯示的散點(diǎn)圖檢驗(yàn)?zāi)P偷漠惙讲钚裕?這種檢驗(yàn)方法已經(jīng)在“回歸結(jié)果解讀”以及有關(guān)例題中進(jìn)行了說(shuō)明,不再贅述。(2)用殘差的平方序列與某個(gè)解釋變量或理論回歸值的散點(diǎn)圖檢來(lái)驗(yàn)?zāi)P偷漠惙讲钚裕菏紫?,輸入:scat(s) e2 y1,回車,屏幕顯示圖: 顯然可見,殘差平方2隨Si變大而明顯變大,說(shuō)明模型存在遞增異方差。其次,輸入:scat(s) e2 l, 回車,屏幕顯示可見,殘差平方2隨Li變大并沒有明顯變大,也無(wú)其他規(guī)律性,因此不能說(shuō)明模型存在異方差。再次,輸入:scat(s) e2 s,回車,屏幕顯示可見,殘差平方2隨Y1變大而明顯變大,也說(shuō)明模型存在遞增異方差。解析法檢驗(yàn)?zāi)P偷漠惙讲钚缘姆椒ê芏啵茈y說(shuō)哪一種方法是最好的,下面僅介紹Spearman檢驗(yàn)法、GoldfieldQuandt檢驗(yàn)法、Park檢驗(yàn)法、和Glejser檢驗(yàn)法的操作方法。 (1) GoldfieldQuandt檢驗(yàn)法第一步,建立統(tǒng)計(jì)假設(shè):零假設(shè)H0: εi 是同方差 (i=1,2,……,17)備擇假設(shè) H1:εi 不是同方差第二步,處理觀察值:將解釋變量Si的觀察值按由小到大的順序排列,然后將居中的3個(gè)觀察數(shù)據(jù)去掉。再將剩余的14組數(shù)據(jù)分為樣本容量為7的兩個(gè)子樣本。第三步,建立回歸方程,求殘差平方和: 輸入:sort s輸入:smpl 1 7 回車輸入:ls y c s l 回車Genr r21=@ssr屏幕顯示回歸結(jié)果,得:r21=∑e1i2 = 輸入:smpl 11 17 回車輸入:ls y c s l 回車Genr r22=@ssr屏幕顯示回歸結(jié)果,得:r22=∑e2i2 = 第四步,建立統(tǒng)計(jì)量,計(jì)算統(tǒng)計(jì)值:用所得的兩個(gè)子樣本的殘差平方和構(gòu)成F統(tǒng)計(jì)量,當(dāng)H0為真時(shí),統(tǒng)計(jì)值F為:Genr F=r22/r21F= r22/r21=∑e2i2 / ∑e1i2 =第五步,作結(jié)論:如果沒有異方差性,則∑e1i2和∑e2i2應(yīng)大體相等;如果存在異方差性,則∑e1i2 應(yīng)比 ∑e2i2小很多,即統(tǒng)計(jì)值F應(yīng)很大。對(duì)給定的顯著性水平α=5%,查表得臨界值為:Fα((nc)/2k1,(nc)/2k1)= (721,721) = ,顯然, F= Fα(4,4)=則 ,拒絕H0,認(rèn)為模型具有異方差性。(2)Park檢驗(yàn)法第一步,對(duì)原模型用OLS法計(jì)算殘差ei 和殘差平方ei2 ; 第二步,取異方差結(jié)構(gòu)的函數(shù)形式為:可以改寫成對(duì)數(shù)形式: 第三步,建立方差結(jié)構(gòu)回歸模型:由于未知,Park建議用ei2來(lái)替代之。如果用lne2表示,用lns表示,則:輸入:smpl 1 17 回車輸入:ls log(e2) c log(s)回車,屏幕顯示:得,回歸方程為:lne2=+(Se)()()(t)()()R2=,DW=,F= 第四步,對(duì)解釋變量lns的回歸系數(shù)進(jìn)行t檢驗(yàn),并得出結(jié)論:,(15)=,(15)=。因此,解釋變量lns的回歸系數(shù)是單邊顯著的,雙邊檢驗(yàn)不顯著。結(jié)合模型的線性顯著性檢驗(yàn)結(jié)果,可認(rèn)為這種形式的異方差是顯著不存在的。(3)Glejser檢驗(yàn)法 第一步,對(duì)原模型用OLS法計(jì)算殘差ei(i=1,2 ……,17); 第二步,結(jié)合上述散點(diǎn)圖分析,認(rèn)為Si 是與有關(guān)的解釋變量,則選定與Si的一系列可能的函數(shù),例如: =b0+b1Si +εi =b0+b1/Si +εi =b0+b1√Si +εi =b0+b1/√Si +εi等等其他函數(shù)形式,其中εi為隨機(jī)擾動(dòng)項(xiàng)。 第三步,利用OLS法對(duì)上述模型進(jìn)行估計(jì),分別得回歸方程如下:輸入:ls e1 c s 回車,得 = + R2=,F=() ()() () 輸入:genr s1=1/s 回車,得輸入:ls e1 c s1 回車,得 = – 97415S1i R2=,F=() (62285) () ()輸入:genr s2=s^(1/2) 回車,得輸入:ls e1 c s2 回車,得 = + R2=,F= () () () ()輸入:genr s3=1/S2 回車,得輸入:ls e1 c s3 回車,得 = R2=,F=() () () (),(1,15)= (15)=。上述四個(gè)回歸方程中,第一個(gè)回歸方程的決定系數(shù)R2=,是最大的。其F統(tǒng)計(jì)值為F=,大于臨界值,因此模型是線性顯著的;其相應(yīng)解釋變量S的回歸系數(shù)也能通過(guò)t檢驗(yàn),是顯著不為零的。所以,可認(rèn)為異方差結(jié)構(gòu)為: =( + )2 (4)White檢驗(yàn)法輸入:ls y c l s 回車,屏幕顯示結(jié)果窗口,點(diǎn)擊菜單:wiview\Residual Tests\White***,,屏幕顯示:可見Obs*5%,所以接受原假設(shè),及模型不存在該種形式的異方差。(5)Spearman檢驗(yàn)法 第一步,對(duì)原模型用OLS法計(jì)算殘差ei 。第二步,計(jì)算ei 的絕對(duì)值與Si 的等級(jí)差di ;輸入:sort e1 s 回車輸入:plot e1 s 回車,屏幕顯示圖:利用時(shí)序圖可以方便地計(jì)算出等級(jí)差ddi ()(等級(jí)差ddi = ︳ei︳的等級(jí) Si 的等級(jí))∣ei∣的等級(jí)Si的等級(jí)等級(jí)差ddi∣ei∣的等級(jí)Si的等級(jí)等級(jí)差ddi110107321191114339612210417131313053214866511516176116124844171529101第三步,計(jì)算與Si 的等級(jí)相關(guān)系數(shù)輸入:data dd 回車,輸入等級(jí)差ddi的相應(yīng)數(shù)據(jù)。輸入:genr dd2=@sum(dd^2)輸入:Genr rs=1((6*@sum(dd^2))/(17*(17^21)))show dd2 rs 回車,由屏幕顯示數(shù)據(jù),得:dd2=@sum(dd^2)=∑ddi2 = 484,所以,與Si 的等級(jí)相關(guān)系數(shù)為:rs= rs=1((6*@sum(dd^2))/(17*(17^21)))=1 (6∑dd i2 ) / n (n21) = , 第四步,對(duì)總體等級(jí)相關(guān)系數(shù)ρs進(jìn)行顯著性檢驗(yàn),并說(shuō)明檢驗(yàn)結(jié)果統(tǒng)計(jì)量t= rs/ =,(15)=,表明樣本數(shù)據(jù)異方差性顯著,認(rèn)為模型存在異方差性。、處理模型的異方差性 處理模型的異方差主要有兩種方法:對(duì)原模型進(jìn)行變換和加權(quán)最小二乘法(WLS)。人們通常采用的經(jīng)驗(yàn)方法是:并不對(duì)原模型進(jìn)行異方差檢驗(yàn),而是直接選擇加權(quán)最小二乘法,尤其是采用截面數(shù)據(jù)作樣本時(shí)。如果確實(shí)存在異方差,則被有效地消除了;如果不存在異方差,則加權(quán)最小二乘法等價(jià)于普通最小二乘法(LS)。(1) 對(duì)原模型進(jìn)行變換根據(jù)上述對(duì)模型異方差的檢驗(yàn)可知,異方差結(jié)構(gòu)為: =( + )2。則, + 。為表達(dá)方便,不妨設(shè):eei=+*Si,則新模型為:Yi/ eei = b0/ eei + b1 (L i/ eei) + b 2 (S i/ eei) +εi/ eei (i=1,2,……,17)用軟件包估計(jì)該模型的具體操作如下:鍵入:genr ee=+*S 回車鍵入:genr yy=y/ee 回車鍵入:genr ss=s/ee 回車鍵入:genr ll=l/ee 回車鍵入:genr b=1/ee 回車鍵入:ls yy ss ll b 回車,屏幕顯示:根據(jù)回歸結(jié)果所顯示的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),變換后的模型不能通過(guò)統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)。觀察殘差圖(圖RAF)可知,新模型并沒有有效消除異方差性。這是因?yàn)椋覀兝肎lejser檢驗(yàn)法所得到的所謂的異方差結(jié)構(gòu)函數(shù)并不是異方差結(jié)構(gòu)的較理想形式,利用它來(lái)變換模型,也就很難達(dá)到預(yù)期的理想結(jié)果。(2) 加權(quán)最小二乘法(WLS)在利用軟件包時(shí),WLS的具體步驟如下:第一步,對(duì)原模型用OLS法計(jì)算殘差ei并將其表示為單獨(dú)的序列:鍵入:genr e=resid 回車第二步,建立1/序列:鍵入:genr h=1/ abs(e) 回車第三步,以1/序列為權(quán)數(shù)估計(jì)模型:鍵入:ls(w=h) y c s l 回車,屏幕顯示:可見,利用WLS估計(jì)原模型,求得的回歸方程的統(tǒng)計(jì)顯著性明顯提高,擬合優(yōu)度也達(dá)到非常好的程度。3B2 實(shí)驗(yàn)課題2——自相關(guān)的檢驗(yàn)與修正關(guān)于自相關(guān)的檢驗(yàn)與修正方法,是計(jì)量經(jīng)濟(jì)學(xué)中另一個(gè)重要的課題。一般經(jīng)驗(yàn)告訴我們,對(duì)于采用時(shí)間序列數(shù)據(jù)作樣本的計(jì)量經(jīng)濟(jì)模型,由于在不同樣本點(diǎn)上解釋變量以外的其他因素在時(shí)間上的連續(xù)性,帶來(lái)它們對(duì)解釋變量的影響的連續(xù)性,所以往往存在自相關(guān)性。對(duì)于自相關(guān)的檢驗(yàn)主要有解析法和圖示法兩種方法,但其思路是相同的,即:檢驗(yàn)自相關(guān)性就是檢驗(yàn)隨機(jī)擾動(dòng)項(xiàng)之間的相關(guān)性。一般情況下,首先OLS用法估計(jì)模型,求出隨機(jī)擾動(dòng)項(xiàng)的近似估計(jì)量——?dú)埐?,然后檢驗(yàn)殘差之間的相關(guān)性以達(dá)到判斷隨機(jī)擾動(dòng)項(xiàng)是否具有自相關(guān)的目的。一階自相關(guān)是最常見的一種自相關(guān)問(wèn)題,經(jīng)驗(yàn)表明如果不存在一階自相關(guān),一般也不存在高階自相關(guān)。所以在實(shí)際應(yīng)用中,首先檢驗(yàn)?zāi)P褪欠翊嬖谝浑A自相關(guān)(常用DW檢驗(yàn)法),然后再作進(jìn)一步的處理。對(duì)于存在自相關(guān)的模型,一般采用差分法法來(lái)克服和處理。下面的例題就是圍繞這些內(nèi)容來(lái)說(shuō)明相應(yīng)的操作方法。 根據(jù)《中國(guó)統(tǒng)計(jì)年鑒》的有關(guān)資料,我們來(lái)研究財(cái)政支出模型。設(shè)其模型為: Yi = b0 + b1 X i +εi (i=1,2,……,n)其中,Y表示財(cái)政支出(單位:億元),X表示財(cái)政可支配收入(X=財(cái)政收入+國(guó)債余額+財(cái)政向銀行借款,單位:億元)。我們選擇1952~1992年間的數(shù)據(jù)()作為研究的樣本數(shù)據(jù)。obsYXobsYX1952176197319531974195419751955272197619561977195719781111195819791959198019601981111519613671982196219831963198419643991985196519861966198719671988196819891969199019701991197119921972,求出殘差序列(1)輸入:create a 1952 1992 回車輸入:data x y 回車,輸入樣本數(shù)據(jù)。(2) 輸入:ls y c x 回車,屏幕顯示:得,樣本回歸方程為: = + i (i=1,2,……,41) ()() ()() R2 =,DW= , F=判定系數(shù)R2的接近于1,F(xiàn)也遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于其相應(yīng)臨界值,回歸模型是線性顯著的;X的回歸參數(shù)能通過(guò)t 檢驗(yàn),是顯著非零的;,符合實(shí)際經(jīng)濟(jì)意義,能夠通過(guò)經(jīng)濟(jì)意義檢驗(yàn)。點(diǎn)擊菜單: view\Actual***\,屏幕顯示殘差散點(diǎn)圖,殘差隨序列號(hào) i 的變化而呈現(xiàn)循環(huán)變化,可初步斷定模型存在正自相關(guān)性。(3)建立殘差序列為進(jìn)一步檢驗(yàn)?zāi)P偷淖韵嚓P(guān)性服務(wù)。用e表示殘差序列(ei),e1表示滯后一期的殘差序列(ei1),e
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