實(shí)驗(yàn)19集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試(編輯修改稿)
2024-08-14 22:07 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 運(yùn)放失調(diào)情況下，為使其輸出為零而在輸入端所加的補(bǔ)償電流，稱為輸入失 調(diào)電流。輸入失調(diào)電流實(shí)際上是輸入信號(hào)為零時(shí)，運(yùn)放兩個(gè)輸入端的基極偏置電流 之差，測(cè)試電路和計(jì)算公式如下： IOS=IB－ I+B School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)原理及方法 開環(huán)差模放大倍數(shù) AV測(cè)試電路圖 ◆ 開環(huán)差模放大倍數(shù) AV 開環(huán)差模放大倍數(shù)是指放大器在沒有外部反饋時(shí)的差模直流電壓放大倍數(shù)， 即放大器開環(huán)時(shí)的輸出電壓 VO與差模輸入電壓 Vi之比。常采用交直流閉環(huán)法。測(cè)試 電路可采用下圖電路。圖中放大器通過 Rf、 R R2完成直流閉環(huán)，通過 Rf、 C、 R 完成交流閉環(huán)。 School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)原理及方法 共模抑制比 CMRR測(cè)試電路圖 ◆ 共模抑制比 CMRR 運(yùn)算放大器差模電壓放大倍數(shù) Ad與共模電壓放大倍數(shù) AC之比稱為共模抑制 比 CMRR， CMRR反映了放大器對(duì)共模信號(hào)的抑制能力， 測(cè)試電路如下。 School o
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